1 |
1
일시적 과전압 시험시 필요한 전원을 가변적으로 발생시키는 가변전원발생기(110)와, 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지를 발생시키는 서지발생기(120)와, 뇌 서지 손상한계레벨이 측정되는 시료(전기전자기기)(130)로 구성되는 뇌 서지 시험 장치(100);상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지의 레벨을 감지하는 서지레벨감지부(210)와, 상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 측정된 서지의 레벨을 분석하는 측정값 분석부(220)와, 상기 측정값 분석부(220)에서 측정한 측정값을 표시하는 측정값표시부(230)와, 상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지의 지속시간을 조절하는 지속시간조절부(240)와, 상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지의 높낮이를 조절하는 서지레벨조절부(250)와, 상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 측정 기능을 선택하는 기능선택부(260)와, 상기 시료(130)별 측정된 데이터를 저장하는 저장부(270)와, 상기 가변전원발생기(110), 상기 서지 발생기(120), 상기 시료(130)와 통신하는 통신부(인터페이스)와, 상기 서지레벨감지부(210), 측정값 분석부(220), 상기 측정값 표시부(230), 상기 지속시간조절부(240), 상기 서지레벨조절부(250), 상기 기능선택부(260), 저장부(270) 및 통신부(280)를 제어하는 제어부(290)로 구성되는 손상한계레벨 측정장치(200); 및상기 가변전원발생기(110), 상기 서지 발생기(120), 상기 시료(130)에 전원을 공급하는 전원공급부(300);를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템
|
2 |
2
제1항에 있어서, 상기 서지발생기(120)와 상기 시료(130) 사이에는 제1스위치(140)가 구성되고, 상기 가변전원발생기(110)와 상기 시료(130) 사이에는 제2스위치(150)가 구성됨을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템
|
3 |
3
제2항에 있어서,상기 제1스위치(140)와 제2스위치(150)는 토글 스위치로 구성됨을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템
|
4 |
4
제2항에 있어서,상기 제1스위치(140)와 제2스위치(150)는 동시에 온되지 않도록 프로그램된 것을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템
|
5 |
5
제1항에 있어서, 상기 통신부(280)는 키보드(410), 마우스(420) 및 프린터(430)와 더 연결된 것을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템
|
6 |
6
청구항 1 내지 청구항 5에 기재된 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템을 이용한 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 방법에서,뇌 서지 손상한계레벨을 측정하고자 하는 전기전자기기 시료 정보를 입력하는 단계(S100);상기 시료에 대한 뇌서지 유입순서 및 신호변화 모니터링 순서를 입력하고, (S120), 상기 시료와 측정 시스템을 연결하는 단계(S140);전원공급부에서 상기 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템에 전원을 공급하는 단계(S160);상기 시료정보에 따라 서지보호장치 시험규격을 선택하는 단계(S200);상기 시료의 전압보호레벨 크기와 지속시간을 선택하는 단계(S220);서지 발생기 전원을 온하는 단계(S240);상기 서지 발생기에서 상기 시료로 서지가 발생되고(S280), 상기 서지 발생기로부터의 서지에 따른 결과(이벤트)가 상기 시료에서 발생되면 해당 결과를 저장하는 단계(S300);상기 시험을 설정된 횟수만큼 반복하는 단계(S320);상기 반복된 횟수에서의 시험결과를 데이터별로 저장 및 출력하는 단계(S340); 및상기 시험 결과를 분석하고(S360), 상기 분석된 데이터를 저장 및 출력하는 단계(S380)를 포함하는 것을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 방법
|
7 |
7
제6항에 있어서,상기 시료의 정보로는 상기 시료의 입출력라인 번호 기입을 포함하는 것을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 방법
|
8 |
8
제6항에 있어서,상기 서지보호장치 시험규격은 KSC IEC의 Up 또는 UL-1449의 VPR 중 하나 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 방법
|
9 |
9
제6항에 있어서,상기 서지 발생기에서 상기 시료로 서지가 발생되면(S280) 경광등을 추가하여 상기 서지 발생기의 전원 온을 알려 안전환경을 확보하는 것을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 방법
|
10 |
10
제6항에 있어서,상기 서지 발생기에서 상기 시료로 서지가 발생되면(S280), 전압보호레벨 스위치를 추가하여 전압보호레벨에서 동작되도록 하는 것을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 방법
|