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전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템 및 방법

  • 기술번호 : KST2015175639
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계 레벨 측정에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 산업설비 전반에서 사용하고 있는 전기전자기기에 대한 뇌 서지 손상한계레벨을 측정할 수 있는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템 및 방법에 관한 것이다. 본 발명 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템은 일시적 과전압 시험시 필요한 전원을 가변적으로 발생시키는 가변전원발생기(110)와, 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지를 발생시키는 서지발생기(120)와, 뇌 서지 손상한계레벨이 측정되는 시료(전기전자기기)(130)로 구성되는 뇌 서지 시험 장치(100); 상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지의 레벨을 감지하는 서지레벨감지부(210)와, 상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 측정된 서지의 레벨을 분석하는 측정값 분석부(220)와, 상기 측정값 분석부(220)에서 측정한 측정값을 표시하는 측정값표시부(230)와, 상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지의 지속시간을 조절하는 지속시간조절부(240)와, 상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지의 높낮이를 조절하는 서지레벨조절부(250)와, 상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 측정 기능을 선택하는 기능선택부(260)와, 상기 시료(130)별 측정된 데이터를 저장하는 저장부(270)와, 상기 가변전원발생기(110), 상기 서지 발생기(120), 상기 시료(130)와 통신하는 통신부(인터페이스)와, 상기 서지레벨감지부(210), 측정값 분석부(220), 상기 측정값 표시부(230), 상기 지속시간조절부(240), 상기 서지레벨조절부(250), 상기 기능선택부(260), 저장부(270) 및 통신부(280)를 제어하는 제어부(290); 및 상기 가변전원발생기(110), 상기 서지 발생기(120), 상기 시료(130)에 전원을 공급하는 전원공급부(300);를 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.
Int. CL G01R 19/165 (2006.01) G01R 31/12 (2006.01)
CPC G01R 31/12(2013.01) G01R 31/12(2013.01) G01R 31/12(2013.01) G01R 31/12(2013.01)
출원번호/일자 1020110124556 (2011.11.25)
출원인 한국철도기술연구원
등록번호/일자 10-1286057-0000 (2013.07.09)
공개번호/일자 10-2013-0058510 (2013.06.04) 문서열기
공고번호/일자 (20130719) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.11.25)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국철도기술연구원 대한민국 경기도 의왕시 철

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김종기 대한민국 경기도 군포시
2 창상훈 대한민국 경기도 성남시 분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인조율 대한민국 서울특별시 서초구 강남대로 ***, **층 (서초동, 통영빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국철도기술연구원 경기도 의왕시 철
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.11.25 수리 (Accepted) 1-1-2011-0938210-43
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2012.08.21 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2012.09.21 수리 (Accepted) 9-1-2012-0074313-14
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.02.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0104338-10
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.04.11 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0313993-06
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.04.11 수리 (Accepted) 1-1-2013-0313992-50
7 등록결정서
Decision to grant
2013.07.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0460144-10
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.07.05 수리 (Accepted) 4-1-2013-0030113-98
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.07.05 수리 (Accepted) 4-1-2013-0030114-33
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
일시적 과전압 시험시 필요한 전원을 가변적으로 발생시키는 가변전원발생기(110)와, 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지를 발생시키는 서지발생기(120)와, 뇌 서지 손상한계레벨이 측정되는 시료(전기전자기기)(130)로 구성되는 뇌 서지 시험 장치(100);상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지의 레벨을 감지하는 서지레벨감지부(210)와, 상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 측정된 서지의 레벨을 분석하는 측정값 분석부(220)와, 상기 측정값 분석부(220)에서 측정한 측정값을 표시하는 측정값표시부(230)와, 상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지의 지속시간을 조절하는 지속시간조절부(240)와, 상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지의 높낮이를 조절하는 서지레벨조절부(250)와, 상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 측정 기능을 선택하는 기능선택부(260)와, 상기 시료(130)별 측정된 데이터를 저장하는 저장부(270)와, 상기 가변전원발생기(110), 상기 서지 발생기(120), 상기 시료(130)와 통신하는 통신부(인터페이스)와, 상기 서지레벨감지부(210), 측정값 분석부(220), 상기 측정값 표시부(230), 상기 지속시간조절부(240), 상기 서지레벨조절부(250), 상기 기능선택부(260), 저장부(270) 및 통신부(280)를 제어하는 제어부(290)로 구성되는 손상한계레벨 측정장치(200); 및상기 가변전원발생기(110), 상기 서지 발생기(120), 상기 시료(130)에 전원을 공급하는 전원공급부(300);를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템
2 2
제1항에 있어서, 상기 서지발생기(120)와 상기 시료(130) 사이에는 제1스위치(140)가 구성되고, 상기 가변전원발생기(110)와 상기 시료(130) 사이에는 제2스위치(150)가 구성됨을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템
3 3
제2항에 있어서,상기 제1스위치(140)와 제2스위치(150)는 토글 스위치로 구성됨을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템
4 4
제2항에 있어서,상기 제1스위치(140)와 제2스위치(150)는 동시에 온되지 않도록 프로그램된 것을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템
5 5
제1항에 있어서, 상기 통신부(280)는 키보드(410), 마우스(420) 및 프린터(430)와 더 연결된 것을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템
6 6
청구항 1 내지 청구항 5에 기재된 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템을 이용한 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 방법에서,뇌 서지 손상한계레벨을 측정하고자 하는 전기전자기기 시료 정보를 입력하는 단계(S100);상기 시료에 대한 뇌서지 유입순서 및 신호변화 모니터링 순서를 입력하고, (S120), 상기 시료와 측정 시스템을 연결하는 단계(S140);전원공급부에서 상기 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템에 전원을 공급하는 단계(S160);상기 시료정보에 따라 서지보호장치 시험규격을 선택하는 단계(S200);상기 시료의 전압보호레벨 크기와 지속시간을 선택하는 단계(S220);서지 발생기 전원을 온하는 단계(S240);상기 서지 발생기에서 상기 시료로 서지가 발생되고(S280), 상기 서지 발생기로부터의 서지에 따른 결과(이벤트)가 상기 시료에서 발생되면 해당 결과를 저장하는 단계(S300);상기 시험을 설정된 횟수만큼 반복하는 단계(S320);상기 반복된 횟수에서의 시험결과를 데이터별로 저장 및 출력하는 단계(S340); 및상기 시험 결과를 분석하고(S360), 상기 분석된 데이터를 저장 및 출력하는 단계(S380)를 포함하는 것을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 방법
7 7
제6항에 있어서,상기 시료의 정보로는 상기 시료의 입출력라인 번호 기입을 포함하는 것을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 방법
8 8
제6항에 있어서,상기 서지보호장치 시험규격은 KSC IEC의 Up 또는 UL-1449의 VPR 중 하나 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 방법
9 9
제6항에 있어서,상기 서지 발생기에서 상기 시료로 서지가 발생되면(S280) 경광등을 추가하여 상기 서지 발생기의 전원 온을 알려 안전환경을 확보하는 것을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 방법
10 10
제6항에 있어서,상기 서지 발생기에서 상기 시료로 서지가 발생되면(S280), 전압보호레벨 스위치를 추가하여 전압보호레벨에서 동작되도록 하는 것을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.