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다공성 기판의 제조 및 이에 의한 발광다이오드 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015178696
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 다공성 버퍼층을 이용하여 감소된 결정 결함(예를 들면, 관통 전위(threading dislocations))을 나타낼 뿐만 아니라 기판을 발광소자로부터 분리하여 재사용할 수 있는 발광 다이오드 제조방법 및 이에 의한 발광다이오드에 관한 것이다. 본 발명에 따른 발광 다이오드(LED) 및 이의 제조방법은 버퍼층의 전 두께 영역에 걸쳐 다공영역을 형성함에 따라 그 위에 성장된 GaN층의 관통전위 밀도를 현저히 감소시킬 수 있다. 또한, 본 발명은 습식 전기화학적 에칭과 광전기화학적 에칭을 이용하여 간단하고 효율적으로 기판을 LED소자와 분리시킬 수 있는 방법을 제공한다.
Int. CL H01L 33/22 (2014.01) H01L 33/12 (2014.01)
CPC H01L 33/0079(2013.01) H01L 33/0079(2013.01) H01L 33/0079(2013.01) H01L 33/0079(2013.01) H01L 33/0079(2013.01)
출원번호/일자 1020110106516 (2011.10.18)
출원인 전북대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1245509-0000 (2013.03.14)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20130320) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.10.18)
심사청구항수 15

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 전북대학교산학협력단 대한민국 전라북도 전주시 덕진구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이인환 대한민국 전라북도 전주시 완산구
2 장이운 대한민국 전라북도 순창군
3 조동섭 대한민국 전라북도 전주시 완산구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이준혁 대한민국 경기도 수원시 팔달구 중부대로 *** B동 *층(우만동, 신아빌딩)(유니크국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 이인환 서울특별시 성북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.10.18 수리 (Accepted) 1-1-2011-0814140-71
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2012.08.21 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2012.09.14 수리 (Accepted) 9-1-2012-0071422-67
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.09.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0558246-54
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.10.04 수리 (Accepted) 4-1-2012-5206243-46
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.11.20 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0953552-84
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.11.20 수리 (Accepted) 1-1-2012-0953535-18
8 등록결정서
Decision to grant
2013.03.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0166133-00
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.01.29 수리 (Accepted) 4-1-2016-5013206-34
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.02.27 수리 (Accepted) 4-1-2019-5038917-11
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.07.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5146986-17
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.07.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5146985-61
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.10.22 수리 (Accepted) 4-1-2019-5219602-91
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.07.06 수리 (Accepted) 4-1-2020-5149086-79
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판 상에 버퍼층을 형성하는 단계 ; 상기 버퍼 층의 상면을 건식 또는 습식 에칭 처리하여 다공성 구조를 형성하는 단계; 및 상기 기판의 후면에 광을 조사하여 상기 버퍼층의 하면에서부터 다공성 구조를 추가로 형성하는 광전기화학 에칭(PEC)을 수행하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드의 제조방법
2 2
제 1항에 있어서, 상기 방법은 상기 버퍼층의 상면에서부터 형성된 다공성 구조와 상기 버퍼층의 하면에서부터 형성된 다공성 구조를 서로 상이하게 형성하는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드의 제조방법
3 3
제 1항에 있어서, 상기 버퍼층의 상면에서의 에칭에 의해 상면에서 하면으로 원기둥 형상의 다공영역을 형성하고, 상기 기판의 후면에서 PEC 에칭에 의해 버퍼층의 하면에서 상면으로 원뿔(cone) 형상의 다공영역을 형성하되, 상기 다공영역은 에칭에 의해 제거된 영역인 것을 특징으로 하는 발광 다이오드의 제조방법
4 4
제 1항에 있어서, 상기 광전기화학 에칭(PEC)을 수행하는 단계는 상면에서부터 기 형성된 다공성 구조에 의해 광전기화학 에칭(PEC) 속도가 저해되는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드의 제조방법
5 5
제 1항에 있어서, 상기 버퍼층의 상면에서부터 다공성 영역을 형성하는 단계는 방법은 버퍼층의 상면을 습식 전기화학적 에칭을 수행하는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드의 제조방법
6 6
제 1항에 있어서, 상기 버퍼층의 두께가 1~3㎛범위인 것을 특징으로 하는 발광 다이오드의 제조방법
7 7
제 1항에 있어서, 상기 방법은 광전기화학 에칭을 추가로 수행하여 상기 기판과 버퍼층을 분리시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드의 제조방법
8 8
제 7항에 있어서, 상기 방법은 분리된 버퍼층 상에 제 1 도전형 반도체층, 광활성층 및 제 2 도전형 반도체층을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드의 제조방법
9 9
제 1항에 있어서, 상기 방법은 상기 기판 또는 버퍼층에 외부 압력 또는 기계적 힘을 가하여 상기 버퍼층을 상기 기판으로부터 분리하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드의 제조방법
10 10
제 1항에 있어서, 상기 방법은 상기 광전기화학 에칭 단계 이후에 상기 버퍼층 상에 제 1 도전형 반도체층, 광활성층 및 제 2 도전형 반도체층을 형성하는 단계 ; 및 상기 기판의 후면에 광전기화학 에칭(PEC)을 추가로 수행하여 상기 기판을 분리시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드의 제조방법
11 11
기판 상에 버퍼층을 형성하는 단계 ; 상기 버퍼 층의 상면을 전기화학적 습식 에칭 처리하여 다공성 구조를 형성하는 단계; 상기 버퍼층 상에 제 1 도전형 반도체층, 광활성층 및 제 2 도전형 반도체층을 형성하는 단계 ; 및 상기 기판의 후면에 광전기화학 에칭(PEC)을 수행하여 발광다이오드를 상기 기판으로부터 분리시키는 단계를 포함하는 발광소자의 제조방법
12 12
기판 상에 제 1 버퍼층을 형성하는 단계 ; 상기 제 1 버퍼 층의 상면을 건식 또는 습식 에칭 처리하여 다공성 구조를 형성하는 단계; 및 상기 기판의 후면에 광을 조사하여 상기 제 1 버퍼층의 하면에서부터 다공성 구조를 추가로 형성하는 광전기화학 에칭(PEC)을 수행하는 단계 ; 상기 제 1 버퍼층상에 유전체층을 선택적으로 형성시키는 단계 ; 상기 유전체 층을 커버하도록 상기 제 1 버퍼층에서부터 제 2 버퍼층을 측면성장시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드의 제조방법
13 13
기판 상에 제 1 버퍼층을 형성하는 단계 ; 상기 제 1 버퍼 층의 상면을 건식 또는 습식 에칭 처리하여 다공성 구조를 형성하는 단계; 및 상기 기판의 후면에 광을 조사하여 상기 제 1 버퍼층의 하면에서부터 다공성 구조를 추가로 형성하는 광전기화학 에칭(PEC)을 수행하는 단계 ; 상기 제 1 버퍼층상에 유전체층을 선택적으로 형성시키는 단계 ; 상기 유전체층이 그 위에 형성되지 않은 상기 제 1 버퍼층 및 기판 일부를 제거하는 단계; 상기 기판에서부터 제 2 버퍼층을 측면성장시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드의 제조방법
14 14
제 12항 또는 제 13항에 있어서, 상기 방법은 상기 기판의 후면에 광전기화학 에칭(PEC)을 추가로 수행하여 상기 기판을 분리시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드의 제조방법
15 15
다공성 영역을 갖는 버퍼층 ; 상기 버퍼층 상에 형성된 제 1 도전형 반도체층 ; 상기 제 1 도전형 반도체층 상에 형성된 활성층 ; 및 상기 활성층 상에 형성된 제 2 도전형 반도체층을 포함하고, 상기 버퍼층은 기판 상에 형성되어 상기 버퍼 층의 상면을 습식 전기화학 에칭 처리하여 상면에서 하면으로 원기둥 형상의 다공영역이 형성되고, 상기 기판의 후면에서 PEC 에칭에 의해 상기 버퍼층의 하면에서 상면으로 원뿔(cone) 형상의 불규칙 다공영역이 형성된 질화갈륨계 층이고, 상기 다공영역은 에칭에 의해 제거된 영역이고, 상기 버퍼층은 전 두께 범위에 걸쳐 다공영역이 형성되고, 그 위에 질화물계 반도체 층이 형성되고, 상기 버퍼층의 두께가 1~3㎛인 것을 특징으로 하는 발광 다이오드
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.