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스탠드 본체 (100);상기 스탠드 본체 (100) 상측에 위치하고, 시료 지지대 본체 (501), 관통 개구 (502), 시료 홀더 주입구 (503) 및 개구 (507) 를 포함하며, 상기 관통 개구 (502) 는 상기 시료 지지대 본체 (501) 의 전후 방향으로 개구되어 있고, 시료 홀더 (602) 가 시료 홀더 주입구 (503) 를 통해 시료 지지대 본체 (501) 내부로 삽입되어 상기 관통 개구 (502) 내측면에 형성된 개구 (507) 에 안착되도록 이루어진 시료 지지대 (500); 및상기 스탠드 본체 (100) 및 상기 시료 지지대 (500) 사이에 위치하며, 전후 위치 조절 나사 (204), 좌우 위치 조절 나사 (304) 및 상하 위치 조절 나사 (403) 가 각각 회전함에 따라 상기 시료 지지대 (500) 가 상기 스탠드 본체 (100) 의 전후 방향, 좌우 방향 및 상하 방향으로 각각 이동하도록 이루어진 전후 위치 조절 부재 (200), 좌우 위치 조절 부재 (300) 및 상하 위치 조절 부재 (400) 를 포함하며,상기 스탠드 본체 (100)는 판 형상인 상판(101), 상기 상판(101)의 좌우 방향 단부로부터 측판(102)의 단면이 원호 형상이 되도록 하부 방향을 향하여 소정 길이 연장되는 측판 (102), 상기 측판(102)의 내측 가장자리에 일단이 결합되는 고정 부재(110) 및 상기 측판(102)을 통해 상기 고정 부재(110)를 가압하는 고정 나사(120)를 포함하는,는 엑스선 회절분석용 시료 지지 스탠드 장치 (1)
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제 1 항에 있어서,상기 시료 지지대 본체 (501) 는 금속재로 이루어진 것을 특징으로 하는 엑스선 회절분석용 시료 지지 스탠드 장치 (1)
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제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,상기 시료 지지대 (500) 는 온도 조절 장치 주입구 (504) 를 더 포함하고, 상기 온도 조절 장치 주입구 (504) 를 통해 연결된 온도 조절 장치에 의해 상기 시료 지지대 본체 (501) 의 온도가 조절됨으로써, 시료 (601) 의 온도가 조절되는 것을 특징으로 하는 엑스선 회절분석용 시료 지지 스탠드 장치 (1)
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제 3 항에 있어서,상기 시료 지지대 (500) 는 온도 센서 주입구 (505) 를 더 포함하고, 상기 온도 센서 주입구 (505) 를 통해 상기 시료 지지대 본체 (501) 에 온도 센서가 추가적으로 삽입될 수 있는 것을 특징으로 하는 엑스선 회절분석용 시료 지지 스탠드 장치 (1)
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제 1 항에 있어서,상기 시료 지지대 (500) 는 시료 홀더 위치 조절 나사 (506) 를 더 포함하고, 상기 시료 홀더 위치 조절 나사 (506) 가 회전함으로써 상기 개구 (507) 에 안착되는 시료 홀더 (602) 는 시료 홀더 (602) 의 연장 방향으로 조정될 수 있는 것을 특징으로 하는 엑스선 회절분석용 시료 지지 스탠드 장치 (1)
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제 1 항에 있어서,상기 관통 개구 (502) 는, 관통 개구 (502) 의 중심부으로부터 시료 지지대 본체 (501) 의 전방면으로 갈수록 내경이 증가하는 형상인 것을 특징으로 하는 엑스선 회절분석용 시료 지지 스탠드 장치 (1)
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제 1 항에 있어서,상기 고정 나사 (120) 가 조여짐으로써 상기 고정 부재 (110) 가 엑스선 회절분석용 장치의 연결부 (4) 의 측면을 가압하여 상기 스탠드 본체 (100) 가 엑스선 회절분석용 장치에 결합되는 것을 특징으로 하는 엑스선 회절분석용 시료 지지 스탠드 장치 (1)
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