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전반사형 외부 패브리-페로 광섬유 센서와 이를 이용한변형률 측정방법

  • 기술번호 : KST2015179270
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 변형률, 압력 등의 다양한 물리량을 측정하는 전반사형 외부 패브리-페로 광섬유 센서와 이를 이용한 변형률 측정방법에 관한 것으로, 특히 모세 유리관(52)의 일측에 삽입, 고정된 단일모드 광섬유(51)와; 상기 모세 유리관(52)에 삽입된 단일모드 광섬유(51)의 단부와 소정간격 이격되게 모세 유리관(52)의 타측에 삽입, 고정된 금속도금 광섬유(53)와; 상기 모세 유리관(52)에 삽입되지 않은 단일모드 광섬유(51)의 단부로 광을 조사하는 레이저기와; 상기 레이저기에 의해 입사되어 단일모드 광섬유(51) 및 단일모드 광섬유(51)와 금속도금 광섬유(53) 사이의 공기간극(54)에 의해 단일모드 광섬유(51)로 되돌아오는 광들의 간섭신호 프린지를 감지하는 광검출기를 구비하되; 상기 모세 유리관(52)의 길이방향으로 변형이 발생하면 그 변형크기 및 방향에 따라 상기 공기간극(54)의 간극길이(S)가 변하면서 간섭 프린지의 발생횟수와 신호수준 변화경향이 가변된다. 이러한 간섭 프린지의 발생횟수를 이용하면 측정 대상물의 변형크기를 측정할 수 있고, 또한 공기간극(54)에서 광퍼짐으로 인해 발생되는 손실정도에 따라 신호수준이 증가 또는 감쇠하는 경향을 이용하면 변형방향(인장 또는 압축)도 판별할 수 있다.
Int. CL G01B 11/16 (2006.01)
CPC G01B 11/161(2013.01)
출원번호/일자 1019990056965 (1999.12.11)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-0324117-0000 (2002.01.29)
공개번호/일자 10-2001-0055697 (2001.07.04) 문서열기
공고번호/일자 (20020220) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1999.12.11)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 권일범 대한민국 대전광역시유성구
2 최만용 대한민국 대전광역시유성구
3 문한규 대한민국 대전광역시유성구
4 김민수 대한민국 전라북도군산시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김현철 대한민국 울산광역시 울주군 만화율림*길**-*(특허법인 웰(울산분사무소))
2 강석주 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **, *층 특허법인 엘엔케이 (역삼동, 신원빌딩)
3 오종근 대한민국 서울특별시 종로구 삼봉로 ** 두산위브 파빌리온 ***호(오인터내셔널특허법률사무소)
4 이헌수 대한민국 서울특별시 서초구 마방로*길 *, ***호 (양재동, 양재빌딩)(특허법인 신지(분사무소))
5 특허법인 웰 대한민국 서울특별시 서초구 방배로**길*, *~*층(방배동)
6 박희식 대한민국 대전시 서구 둔산중로 ***, 주은오피스텔 ***호(특허법인케이원)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 1999.12.11 수리 (Accepted) 1-1-1999-0169085-87
2 등록결정서
Decision to grant		 2002.01.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2002-0017345-31
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2006.02.15 수리 (Accepted) 4-1-2006-5019752-35
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

모세 유리관(52)의 일측에 삽입, 고정된 단일모드 광섬유(51)와;

상기 모세 유리관(52)에 삽입된 단일모드 광섬유(51)의 단부와 소정간격 이격되게 모세 유리관(52)의 타측에 삽입, 고정된 금속도금 광섬유(53)와;

상기 모세 유리관(52)에 삽입되지 않은 단일모드 광섬유(51)의 단부로 광을 조사하는 레이저기와;

상기 레이저기에 의해 입사되어 단일모드 광섬유(51) 및 단일모드 광섬유(51)와 금속도금 광섬유(53) 사이의 공기간극(54)에 의해 단일모드 광섬유 (51)로 되돌아오는 광들의 간섭신호 프린지를 감지하는 광검출기를 구비하되;

상기 모세 유리관(52)의 길이방향으로 변형이 발생하면 그 변형크기 및 방향에 따라 상기 공기간극(54)의 간극길이(S)가 변하면서 간섭 프린지의 발생횟수와 신호수준 변화경향이 가변되는 것을 특징으로 하는 전반사형 외부 패브리-페로 광섬유 센서

2 2

제 1 항에 있어서, 상기 모세 유리관(52)의 길이방향으로 발생되는 변형이 감소하면 상기 공기간극(54)의 간극길이(S)가 좁아지지고 상기 간섭 프린지의 최고점과 최저점의 중간값에 해당하는 신호수준은 증가하며, 상기 모세 유리관(52)의 길이방향으로 발생하는 변형이 증가하면 상기 공기간극(54)의 간극길이(S)가 넓어지고 상기 간섭 프린지의 신호수준이 감소하는 것을 특징으로 하는 전반사형 외부 패브리-페로 광섬유 센서

3 3

제 1 항에 있어서, 상기 단일모드 광섬유(51)와 금속도금 광섬유(53)는 에폭시 접착제에 의해 모세 유리관(52)의 양단부에 각각 고정되는 것을 특징으로 하는 전반사형 외부 패브리-페로 광섬유 센서

4 4

공기간극의 길이변화에 따라 발생횟수와 신호수준 변화경향이 가변되는 간섭 프린지를 출력하는 전반사형 외부 패브리-페로 광섬유 센서를 이용한 변형률 측정방법에 있어서,

전반사형 외부 패브리-페로 광섬유 센서를 측정 대상물에 부착하는 제 1 단계와;

상기 제 1 단계에서 광섬유 센서가 부착된 측정 대상물의 변형구간 동안에 간섭 프린지 1/2 파장 간격의 최고점과 최저점의 중간값을 구하는 제 2 단계와;

상기 제 2 단계에서 얻은 간섭 프린지 최고점과 최저점의 중간값을 기준으로 간섭 프린지 신호가 중간값과 교차하는지 검출하는 제 3 단계와;

상기 제 3 단계에서 간섭 프린지 신호가 중간값과 교차하지 않으면 프린지 갯수를 변화시키지 않고, 간섭 프린지 신호가 중간값과 교차하면 간섭 프린지 최고점과 최저점의 중간값 곡선에 해당하는 신호수준이 증감되는지 판단하는 제 4 단계와;

상기 제 4 단계에서 간섭 프린지 최고점과 최저점의 중간값 곡선에 해당하는 신호수준이 증가하면 프린지 갯수를 1감소시키고, 신호수준이 감소하면 프린지 갯수를 1증가시키는 제 5 단계와 상기 제 5 단계에서 구해진 간섭 프린지의 갯수(n)와 분해능(
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