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광섬유 브릴루앙 시간영역해석 센서시스템과 이를 이용한변형률 측정 방법

  • 기술번호 : KST2015179287
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 광섬유 브릴루앙 시간영역해석 센서 시스템은 1개의 레이저 다이오드와 레이저 다이오드로부터 출사되는 광을 분기하여 각각 별도의 광전변조기로 펌핑 펄스 광 및 CW 프로브 광으로 변조하며, 특히 CW 프로브 광의 주파수를 일정한 주파수 범위에서 일정 주파수 간격으로 스위핑하여 광섬유에서의 후방 광산란을 유도하고 이로부터 광섬유의 브릴루앙 주파수 변화를 추출하여 광섬유의 변형률을 계산함으로써 광섬유가 부착된 대형 구조물의 변형률을 계산할 수 있는 센서 시스템이다.이와 같은 광섬유의 브릴루앙 산란 현상을 이용한 광섬유 센서를 이용함으로써, 대형 구조물에 작용하는 하중 등의 영향에 의한 광섬유의 길이방향 변화량에 따라 발생하는 브릴루앙 주파수의 변화를 측정함에 의하여 대형 구조물의 변형률을 측정할 수 있다. 또한, 본 발명은 후방 산란광을 측정하여 브릴루앙 주파수 변화를 측정하여 변형률을 구하므로, 변형률의 절대값을 측정하는 것이 가능하다.광섬유 브릴루앙 시간영역해석 센서, 펌핑펄스광, 주파수 스위핑 CW 프로브 광, 변형률
Int. CL G01N 21/47 (2006.01)
CPC G01N 21/47(2013.01) G01N 21/47(2013.01) G01N 21/47(2013.01) G01N 21/47(2013.01) G01N 21/47(2013.01)
출원번호/일자 1020010060771 (2001.09.28)
출원인 주식회사 세기엔지니어링, 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-0468612-0000 (2005.01.19)
공개번호/일자 10-2003-0027471 (2003.04.07) 문서열기
공고번호/일자 (20050127) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2001.09.28)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 세기엔지니어링 대한민국 광주광역시 북구
2 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 권일범 대한민국 대전광역시유성구
2 최만용 대한민국 대전광역시유성구
3 김치엽 대한민국 대전광역시서구
4 윤선업 대한민국 광주광역시북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 조의제 대한민국 서울시 강남구 역삼로 *** 재승빌딩 *층 (역삼동)(프라임특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 세기엔지니어링 대한민국 광주 북구
2 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2001.09.28 수리 (Accepted) 1-1-2001-0252289-92
2 출원인변경신고서
Applicant change Notification		 2002.04.19 수리 (Accepted) 1-1-2002-5097882-83
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2003.08.08 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2003.09.19 수리 (Accepted) 9-1-2003-0043021-50
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2003.09.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2003-0372961-63
6 의견서
Written Opinion		 2003.11.14 수리 (Accepted) 1-1-2003-0429691-19
7 명세서 등 보정서
Amendment to Description, etc.		 2003.11.14 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2003-0429694-45
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2004.06.03 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2004-0222870-12
9 의견서
Written Opinion		 2004.07.29 수리 (Accepted) 1-1-2004-0340215-25
10 명세서 등 보정서
Amendment to Description, etc.		 2004.07.29 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2004-0340216-71
11 과오납통지서
Notice of Erroneous Payment		 2004.08.05 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2004-0050691-58
12 등록결정서
Decision to grant		 2005.01.05 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0003578-04
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2006.02.15 수리 (Accepted) 4-1-2006-5019752-35
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
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번호 청구항
1 1

광섬유의 브릴루앙 산란현상을 이용하는 시간영역해석 센서시스템에 있어서,

고출력의 가는 선폭의 광을 출사하는 광원부;

진행하는 광에 의한 후방 산란광을 일으키는 감지 광섬유;

상기 광원부로부터의 광을 분기하는 커플러;

상기 커플러에서 분기된 광 중 어느 한 광을 펌핑 펄스 광으로 변조하여 상기 감지 광섬유의 일단으로 출력하기 위한 제 1광변조부;

상기 커플러에서 분기된 광 중 다른 한 광을, 기 설정된 일정한 주파수 범위의 최초 주파수부터 최종 주파수까지 단계별로 단계 주파수만큼 주파수 스위핑 CW 프로브 광으로 변조하여 상기 감지 광섬유의 다른 일단으로 출력하기 위한 제 2광변조부; 및

상기 감지 광섬유에서 발생되는 후방 산란광을 감지하여 상기 감지 광섬유의 변형률을 계산하는 광검출부를 포함하는 광섬유 브릴루앙 시간영역해석 센서 시스템

2 2

제 1항에 있어서, 상기 제 1광변조부는

펌핑 펄스를 발생하는 펄스 발생기;

상기 펄스 발생기를 이용하여 상기 분기된 광 중 어느 한 광을 펌핑 펄스 광으로 변조하는 제 1광전변조기; 및

상기 제 1광전변조기에서 변조된 펌핑 펄스광을 증폭하는 광섬유증폭기를 구비함을 특징으로 하는 광섬유 브릴루앙 시간영역해석 센서 시스템

3 3

제 1항에 있어서, 상기 광검출부는

상기 감지 광섬유에서 발생되는 후방 산란광을 분기하는 광순환기;

상기 광순환기에 의해 분기된 광의 후방 산란광을 기 설정된 샘플링 주기로 감지하고 이를 A/D 변환하여 출력하는 광검출기; 및

상기 광검출기로부터의 취득된 데이터를 이용하여 상기 감지 광섬유의 브릴루앙 주파수 변화를 추출하고 상기 브릴루앙 주파수 변화를 이용하여 상기 감지 광섬유의 변형률을 계산하는 신호처리기를 포함하는 것을 특징으로 하는 광섬유 브릴루앙 시간영역해석 센서 시스템

4 4

제 3항에 있어서, 상기 신호처리기는 기 설정된 일정횟수 동안 후방 산란광을 취득한 후 이를 평준화 하는 것을 특징으로 하는 광섬유 브릴루앙 시간영역해석 센서 시스템

5 5

제 3항에 있어서, 상기 신호처리기는 추출된 브릴루앙 주파수 변화를 다음의 식에 입력하여 상기 감지 광섬유의 변형률을 계산하는 것을 특징으로 하는 광섬유 브릴루앙 시간영역해석 센서 시스템

6 6

광섬유의 브릴루앙 산란현상을 이용하여 상기 광섬유가 부착된 대형 구조물의 변형률을 측정하기 위한 측정방법에 있어서,

1) 상기 광섬유에 입사되는 광을 분기하는 단계;

2) 상기 분기된 광 중 제 1광을 펌핑 펄스 광으로 변조하고 제 2광을 CW 프로브 광으로 변조하는 단계;

3) 상기 펌핑 펄스 광을 상기 광섬유의 일단에 입사시키는 단계;

4) 상기 CW 프로브 광을 일정한 주파수 범위에서 일정 주파수 간격으로 스위핑하며 상기 광섬유의 다른 일단으로 입사시키는 단계;

5) 상기 광섬유에 입사된 펌핑 펄스 광과 주파수 스위핑 CW 프로브 광에 의한 후방 산란광을 검출하는 단계;

6) 검출된 상기 광섬유의 후방 산란광을 기 설정된 샘플링 주기로 일정한 횟수만큼 인가받아 이를 평준화하여 후방 산란광이 최대가 되는 주파수를 상기 광섬유의 브릴루앙 주파수 변화로 추출하는 단계; 및

7) 상기 추출된 브릴루앙 주파수 변화를 이용하여 상기 광섬유의 변형률을 계산하는 단계로 이루어지는 변형률 측정 방법

7 7

삭제
8 8

제 6항에 있어서, 상기 단계 7)의 변형률 계산은 상기 단계 6)에서 추출된 브릴루앙 주파수 변화를 다음식에 입력하여 계산하는 것을 특징으로 하는 변형률 측정 방법

9 9

제 1항에 있어서, 상기 제 2광변조부는

기 설정된 일정한 주파수 범위의 최초 주파수부터 최종 주파수까지 일정한 주파수 간격으로 단계별로 주파수를 바꿔가며 작동하는 RF 신호 발생기;

상기 RF 신호 발생기를 이용하여 상기 분기된 다른 한 광을 주파수 스위핑 CW 프로브 광으로 변조하는 제 2광전변조기; 및

상기 제 2광전변조기의 바이어스전압을 조정하는 전압조정기를 구비함을 특징으로 하는 광섬유 브릴루앙 시간영역해석 센서 시스템

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.