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자외선을 이용한 토양 유류 오염 실시간 측정 시스템 및측정 방법

  • 기술번호 : KST2015179291
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 토양 중의 유류 오염물의 주요 성분인 BTEX(벤젠, 톨루엔, 에틸벤젠, 및 자일렌) 등이 특정의 파장 대역의 자외선을 흡수하여 일정한 파장 대역의 형광을 방출하는 원리를 이용하여 간단한 조작으로 토양 유류 오염을 현장에서 실시간으로 상시 측정할 수 있도록 한 토양 오염 측정 시스템 및 그에 의한 측정 방법에 관한 것이다. 그러한 토양 유류 오염 측정 시스템은 광원, 광원으로부터 발진된 광 및 토양 중의 유류 오염물로부터 방출되는 형광을 전송하는 파이버 프로브, 광 또는 형광을 파이버 프로브 또는 토양에 집속하는 제1 및 제2 집속 장치, 토양 중의 유류 오염물로부터 방출된 형광을 검출하는 형광 검출 장치, 형광 중에 들어 있는 다른 광 성분을 필터링하는 필터링 장치; 및 검출된 형광 신호로부터 그 파장 대역 및 세기를 측정하는 계측 장치를 포함한다. 그러한 측정 시스템은 선행 기술에서와는 달리 자외선을 이용하여 유류 오염을 직접 현장에서 측정하므로, 조기에 오염 여부를 탐지하여 그 오염의 진행 및 확산을 방지함으로써 막대한 복원 비용을 크게 줄일 수 있는 효과가 있다.토양 유류 오염, 자외선, 형광, 파장 대역, 파이버 프로브
Int. CL G01N 21/64 (2006.01)
CPC G01N 21/645(2013.01) G01N 21/645(2013.01) G01N 21/645(2013.01) G01N 21/645(2013.01) G01N 21/645(2013.01)
출원번호/일자 1020020019216 (2002.04.09)
출원인 자인테크놀로지(주), 한국표준과학연구원, 박재우
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2003-0080533 (2003.10.17) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2002.04.09)
심사청구항수 29

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 자인테크놀로지(주) 대한민국 서울특별시 구
2 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구
3 박재우 대한민국 서울특별시 종로구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박재우 대한민국 경기 고양시 덕양구
2 이주인 대한민국 대전광역시유성구
3 신민철 대한민국 서울시 용산구
4 이덕기 대한민국 대전광역시유성구

대리인

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최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2002.04.09 수리 (Accepted) 1-1-2002-0105529-86
2 보정통지서
Request for Amendment
2002.04.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2002-0025278-59
3 서지사항 보정서
Amendment to Bibliographic items
2002.04.16 수리 (Accepted) 1-1-2002-0112438-94
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2002-0035851-45
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2003.11.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2003.12.18 수리 (Accepted) 9-1-2003-0063394-22
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2003.12.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2003-0524979-50
8 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2004.03.02 수리 (Accepted) 1-1-2004-0086026-11
9 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2004.06.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2004-0246081-67
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2006.02.15 수리 (Accepted) 4-1-2006-5019752-35
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2007.03.23 수리 (Accepted) 4-1-2007-5044630-95
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2007.04.26 수리 (Accepted) 4-1-2007-5064514-65
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.09.16 수리 (Accepted) 4-1-2009-5180621-10
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.04.28 수리 (Accepted) 4-1-2011-0004900-80
15 출원인정보변경(경정)신고서
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2011.04.29 수리 (Accepted) 4-1-2011-0004948-60
16 출원인정보변경(경정)신고서
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2013.07.30 수리 (Accepted) 4-1-2013-0034737-50
17 출원인정보변경(경정)신고서
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2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
18 출원인정보변경(경정)신고서
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2016.01.08 수리 (Accepted) 4-1-2016-0001437-10
19 출원인정보변경(경정)신고서
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2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

특정의 파장 대역의 광을 발진하는 광원;

일단 또는 광원 측 단부가 광원에 접속되고 타단 또는 측정 측 단부가 측정하려는 토양 중에 삽입되며, 광원으로부터 발진되어 그 광원 측 단부에 집속된 광을 파이버 코어를 경유하여 측정 측 단부를 통해 토양 중에 입사시키고, 그와 같이 입사된 광에 의해 토양 중의 유류 오염물이 광 여기된 상태에서 그 유류 오염물로부터 방출되는 형광을 다시 그 측정 측 단부를 통해 파이버 코어를 경유하여 광원 측 단부 쪽으로 전송하는 파이버 프로브;

광원으로부터 발진된 광을 파이버 프로브의 광원 측 단부에 집속하는 제1 집속 장치;

토양과 대면된 파이버 프로브의 측정 측 단부에 배치되어 파이버 프로브의 파이버 코어를 경유하여 입사되는 광을 토양에 집속하고, 토양 중의 유류 오염물로부터 방출된 형광을 다시 파이버 프로브의 측정 측 단부에 집속하는 제2 집속 장치;

토양 중의 유류 오염물로부터 방출되어 파이버 프로브를 통해 전송된 형광을 검출하는 형광 검출 장치;

형광 검출 장치에 선행 배치되어 형광 검출 장치에 입력되는 형광 중에 들어 있는 다른 광 성분을 필터링하는 필터링 장치; 및

형광 검출 장치에서 검출된 형광 신호 출력으로부터 그 파장 대역 및 세기를 측정하는 계측 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 토양 유류 오염 측정 시스템

2 2

제1항에 있어서, 광원으로서 다이오드 레이저를 이용한 나노초 Nd-YAG 레이저가 사용되는 것을 특징을 특징으로 하는 토양유류 오염 측정 시스템

3 3

제2항에 있어서, 광원으로서의 Nd-YAG 레이저에 의해 발진되는 레이저 광은 파장 대역이 약 266 ㎚인 자외선 레이저 광인 것을 특징으로 하는 토양 유류 오염 측정 시스템

4 4

제1항에 있어서, 필터링 장치는 대역 필터로서 형성되는 것을 특징으로 하는 토양 유류 오염 측정 시스템

5 5

제4항에 있어서, 대역 필터는 파장 대역이 300 내지 500 ㎚인 형광만을 투과시키는 것을 특징으로 하는 토양 유류 오염 측정 시스템

6 6

제1항, 제4항, 또는 제5항에 있어서, 대역 필터는 측정 파장 대역을 줄이거나 그 파장 대역에 변화를 주기 위한 협대역 필터 또는 단색화 장치로 대체될 수 있는 것을 특징으로 하는 토양 유류 오염 측정 시스템

7 7

제1항에 있어서, 파이버 프로브는 Y형으로 형성되고, Y형 파이버 프로브의 하나의 브랜치 또는 제1 브랜치는 광원으로부터 발진된 광을 토양 중에 입사시키는데, 그리고 다른 하나의 브랜치 또는 제2 브랜치는 토양으로부터 방출된 형광을 형광 검출 장치에 인도하는데 각각 사용되는 것을 특징으로 하는 토양 유류 오염 측정 시스템

8 8

제7항에 있어서, 파이버 프로브의 제1 브랜치는 단일의 파이버 코어를 구비하고, 파이버 프로브의 제2 브랜치는 다수의 파이버 코어를 구비하는 것을 특징으로 하는 토양 유류 오염 측정 시스템

9 9

제1항, 제7항, 또는 제8항에 있어서, 파이버 프로브의 제2 브랜치의 형광 검출 장치 측 단부에는 전송되는 형광을 필터링 장치에 집속하는 제3 집속 장치가 추가로 배치되는 것을 특징으로 하는 토양 유류 오염 측정 시스템

10 10

제1항에 있어서, 형광 검출 장치로서 형광 신호를 전기 신호로 변환하는 광전관이 사용되는 것을 특징으로 하는 토양 유류 오염 측정 시스템

11 11

제1항 또는 제10항에 있어서, 형광 검출 장치로서 미약한 형광 신호까지 검출할 수 있는 광 증배관이 사용되는 것을 특징으로 하는 토양 유류 염 측정 시스템

12 12

제1항 또는 제10항에 있어서, 계측 장치는 광전관 또는 광 증배관으로서 형성된 형광 검출 장치의 출력 신호로부터 형광의 세기를 측정하는 전류 측정기 및 그 출력 신호로부터 형광의 파장을 측정하는 오실로스코프를 구비하는 것을 특징으로 하는 토양 유류 오염 측정 시스템

13 13

제1항에 있어서, 광원과 파이버 프로브의 광원 측 단부와의 사이에 광원으로부터 발진된 광을 2개의 빔으로 분기시키는 빔 분리기 및 그 분기된 2개의 빔 중의 하나를 검출하여 전기 신호로 변환하는 광 다이오드가 마련되는 것을 특징으로 하는 토양 유류 오염 측정 시스템

14 14

제1항, 제12항, 또는 제13항에 있어서, 광 다이오드에 의해 검출되어 변환된 전기 신호는 계측 장치에 속하는 오실로스코프의 트리거 신호로서 사용되는 것을 특징으로 하는 토양 유류 오염 측정 시스템

15 15

제1항에 있어서, 계측 장치로부터 얻은 결과를 처리 분석할 뿐만 아니라, 측정 시스템의 제반 구성 요소를 제어하는 프로그램화될 수 있는 마이크로프로세서를 구비하는 것을 특징으로 하는 토양 유류 오염 측정 시스템

16 16

제1항에 있어서, 각각의 집속 장치는 집속 렌즈 및 그 집속 렌즈를 부착한 채로 파이버 프로브의 단부에 연결되는 커넥터로 이뤄지는 것을 특징으로 하는 토양 유류 오염 측정 시스템

17 17

제1항 또는 제16항에 있어서, 제2 집속 장치는 2개 이상의 조합된 집속 렌즈 및 그 집속 렌즈를 토양에 의한 오염으로부터 보호하는 석영 창을 구비하는 것을 특징으로 하는 토양 유류 오염 측정 시스템

18 18

제1항 내지 제17항 중의 어느 한 항에 따른 토양 유류 오염 측정 시스템에 의해 토양 유류 오염을 측정하는 방법으로서,

측정 시스템을 측정 대상 장소에 설치하고 파이버 프로브의 측정 측 단부를 측정하려는 토양 중에 삽입하는 단계;

광원에 의해 특정의 파장 대역의 광을 발진하는 단계;

광원으로부터 발진된 광을 제1 집속 장치에 의해 파이버 프로브에 광원 측 단부에 집속하는 단계;

파이버 프로브의 광원 측 단부에 집속된 광을 파이버 프로브를 경유하여 파이버 프로브의 측정 측 단부로 전송하는 단계;

파이버 프로브의 측정 측 단부로 전송된 광을 제2 집속 장치에 의해 토양 중에 입사시키는 단계;

토양 중에 입사된 광에 의해 토양 중의 유류 오염물이 광 여기된 상태에서 방출하는 형광을 제2 집속 장치에 의해 파이버 프로브에 측정 측 단부에 집속하는 단계;

파이버 프로브의 측정 측 단부에 집속된 형광을 파이버 프로브를 경유하여 형광 검출 장치로 전송하는 단계;

형광 검출 장치에 입력되는 형광 중에 들어 있는 다른 광 성분을 필터링하는 단계;

파이버 프로브를 경유하여 전송된 형광을 형광 검출 장치에서 검출하는 단계; 및

형광 검출 장치에서 검출된 형광 신호로부터 계측 장치에 의해 형광의 세기 및 그 파장을 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 토양 유류 오염 측정 방법

19 19

제18항에 있어서, 광원으로서는 다이오드 레이저를 이용한 나노초 Nd-YAG 레이저를 사용하는 것을 특징으로 하는 토양 유류 오염 측정 방법

20 20

제18항에 있어서, 과원으로서의 Nd-YAG 레이저에 의해 발진되는 레이저 광을 파장 대역이 약 266 ㎚인 자외선 레이저 광으로 하는 것을 특징으로 하는 토양 유류 오염 측정 방법

21 21

제18항에 있어서, 광원에 의해 광을 발진하는 단계와 그 발진된 광을 파이버 프로브의 광원 측 단부에 집속하는 단계와의 사이에 광원으로부터 발진된 광을 빔 분리기에 의해 2개의 빔으로 분기시키는 단계; 및 분기된 2개의 빔 중의 하나를 광 다이오드에 의해 검출하여 전기 신호로 변환하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 토양 유류 오염 측정 방법

22 22

제21항에 있어서, 광 다이오드에 의해 검출되어 변환된 전기 신호를 계측 장치에 속하는 오실로스코프의 트리거 신호로서 사용하는 것을 특징으로 하는 토양 유류 오염 측정 방법

23 23

제18항에 있어서, 필터링 단계를 대역 필터에 의해 특정의 파장 대역의 형광만을 투과시키는 형식으로 행하는 것을 특징으로 하는 토양 유류 오염 측정 방법

24 24

제18항 또는 제23항에 있어서, 필터링 단계를 미리 주어진 파장 대역을 줄이거나 변경하는 협대역 필터 또는 단색화 장치에 의해 행하는 것을 특징으로 하는 토양 유류 오염 측정 방법

25 25

제23항에 있어서, 필터링 단계에 의해 투과시키려는 특정의 파장 대역을 300 내지 500 ㎚로 설정하는 것을 특징으로 하는 토양 유류 오염 측정 방법

26 26

제18항에 있어서, 형광 검출 장치에서 형광을 검출하는 단계는 입력된 형광 신호를 전기 신호로 변환하는 단계로 이뤄지는 것을 특징으로 하는 토양 유류 오염 측정 방법

27 27

제26항에 있어서, 형광 신호를 전기 신호로 변환하는 단계를 광전관 또는 광 증배관에 의해 행하는 것을 특징으로 하는 토양 유류 오염 측정 방법

28 28

제18항, 제26항, 또는 제27항에 있어서, 형광 검출 장치에서 검출된 형광 신호로부터 형광의 세기 및 그 파장을 측정하는 단계는 형광 검출 장치로부터 출력된 전기 신호로부터 전류 측정기에 의해 형광의 세기를 측정하는 동시에 오실로스코프에 의해 형광의 파장을 측정하는 단계로 이뤄지는 것을 특징으로 하는 토양 유류 오염 측정 방법

29 29

제18항에 있어서, 프로그램화될 수 있는 마이크로프로세서에 의해 계측 장치로부터 얻은 결과를 처리 분석할 뿐만 아니라, 측정 시스템의 제반 구성 요소를 제어하는 것을 특징으로 하는 토양 유류 오염 측정 방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.