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공초점 어레이 검출기를 이용한 마이크로스코프

  • 기술번호 : KST2015179339
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 공초점 현미경의 고분해능 원리를 사용하여 스핌의 축상 고분해능 및 면상검출기로 측정시간을 단축할 수 있도록 된 구조의 공초점 어레이 검출기를 이용한 마이크로스코프가 개시되어 있다.이 개시된 마이크로스코프는 레이저 조명광을 조사하는 광원과; 광경로 상에 배치되어, 조명광이 샘플 방향으로 진행하도록 경로를 변환하는 빔스프리터와; 빔스프리터와 샘플 사이에 배치되어, 입사광을 집속시키는 대물렌즈와; 샘플에서 발생되고 대물렌즈와 빔스프리터를 경유하여 입사된 샘플의 형광을 수광하는 것으로, 대물렌즈의 초점면에서 발생된 형광은 투과시키고 그 이외의 위치에서 발생된 형광을 차단하는 핀홀 어레이와, 핀홀 어레이를 투과한 형광을 수광하는 검출기 어레이를 구비한 공초점 어레이 검출기;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
Int. CL G02B 21/36 (2006.01) G02B 21/00 (2006.01)
CPC G02B 21/0032(2013.01) G02B 21/0032(2013.01) G02B 21/0032(2013.01) G02B 21/0032(2013.01)
출원번호/일자 1020050033555 (2005.04.22)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2006-0111142 (2006.10.26) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2005.04.22)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 유용심 대한민국 대전 유성구
2 이재용 대한민국 충북 청주시 상당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 최효선 대한민국 서울특별시 강남구 논현로 *** (역삼동) 성지하이츠 *차 빌딩, ****호(광개토특허법률사무소)
2 최환욱 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로**길 **, *층(역삼동, 케이앤와이빌딩)(특허법인 수)
3 강민수 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **, *층 (역삼동, 우일빌딩)(광개토국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2005.04.22 수리 (Accepted) 1-1-2005-0211035-56
2 전자문서첨부서류제출서
Submission of Attachment to Electronic Document
2005.04.25 수리 (Accepted) 1-1-2005-5050850-02
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2006.02.15 수리 (Accepted) 4-1-2006-5019752-35
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2006.04.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2006.05.15 수리 (Accepted) 9-1-2006-0030980-19
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2006.06.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0359927-74
7 대리인변경신고서
Agent change Notification
2006.07.28 수리 (Accepted) 1-1-2006-0545383-53
8 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2006.08.26 수리 (Accepted) 1-1-2006-0613450-43
9 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2006.09.26 수리 (Accepted) 1-1-2006-0697687-03
10 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2006.10.26 수리 (Accepted) 1-1-2006-0776393-61
11 의견서
Written Opinion
2006.11.24 수리 (Accepted) 1-1-2006-0866436-70
12 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2006.11.24 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2006-0866434-89
13 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2007.03.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0173724-30
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
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번호 청구항
1 1
레이저 조명광을 조사하는 광원과;광경로 상에 배치되어, 상기 조명광이 샘플 방향으로 진행하도록 경로를 변환하는 빔스프리터와;상기 빔스프리터와 상기 샘플 사이에 배치되어, 입사광을 집속시키는 대물렌즈와;상기 샘플에서 발생되고 상기 대물렌즈와 상기 빔스프리터를 경유하여 입사된 샘플의 형광을 수광하는 것으로, 상기 대물렌즈의 초점면에서 발생된 형광은 투과시키고 그 이외의 위치에서 발생된 형광을 차단하는 핀홀 어레이와, 상기 핀홀 어레이를 투과한 형광을 수광하는 검출기 어레이를 구비한 공초점 어레이 검출기;를 포함하는 것을 특징으로 하는 마이크로스코프
2 2
제1항에 있어서,상기 광원과 상기 빔스프리터 사이에 배치되어, 상기 광원에서 조사된 광을 집속시키는 집속렌즈를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 마이크로스코프
3 3
레이저 광을 조사하는 광원과;입사광을 면광으로 변환하여 샘플에 조명하는 광시트와;상기 샘플에서 발생된 샘플의 형광을 집속시키는 대물렌즈와;상기 대물렌즈에서 집속된 형광을 수광하는 것으로, 상기 대물렌즈의 초점면에서 발생된 형광은 투과시키고 그 이외의 위치에서 발생된 형광을 차단하는 핀홀 어레이와, 상기 핀홀 어레이를 투과한 형광을 수광하는 검출기 어레이를 구비한 공초점 어레이 검출기;를 포함하는 것을 특징으로 하는 마이크로스코프
4 4
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 핀홀 어레이는 상기 대물렌즈의 초점면에서 발생된 광의 진행 경로에 형성된 복수의 핀홀을 포함하고,상기 검출기 어레이는 상기 복수의 핀홀 각각에 대응되는 위치에 형성되어, 상기 핀홀을 투과한 광을 각각 수광하는 복수의 검출기를 포함하는 것을 특징으로 하는 마이크로스코프
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.