맞춤기술찾기

이전대상기술

플라즈마 전자밀도 및 전자온도 모니터링 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2015179372
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 플라즈마 전자밀도 및 전자온도 모니터링 장치 및 방법에 관한 것으로, 일련되는 주파수 대역의 전자파가 연속 송출되는 전자파 발생기; 상기 전자파 발생기의 전자파가 반응용기 내의 플라즈마에 대해 상관 관계를 갖도록 상기 반응용기 내에 접속되고 상기 전자파 발생기에 전기적으로 연결되어 전자파를 송출하는 전자파 송수신기; 상기 전자파 송수신기로부터 수신되는 전자파의 주파수를 분석하도록 상기 전자파 송수신기에 전기적으로 연결되는 주파수 분석기; 및 상기 전자파의 주파수 대역별 송출 지령과, 상기 분석 데이터에 기초한 상기 전자밀도 및 전자온도와 당해 각 전자파의 상관관계 연산을 위해 상기 전자파 발생기 및 주파수 분석기에 전기적으로 연결되는 컴퓨터;를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.플라즈마, 전자밀도, 전자온도, 컷오프, 주파수, 반도체
Int. CL H01L 21/3065 (2006.01) H01L 21/02 (2006.01) H01L 21/66 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020060061055 (2006.06.30)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-0805879-0000 (2008.02.14)
공개번호/일자 10-2008-0002308 (2008.01.04) 문서열기
공고번호/일자 (20080220) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.06.30)
심사청구항수 8

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 김정형 대한민국 대전 유성구
2 윤주영 대한민국 대전 유성구
3 성대진 대한민국 충남 공주시

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 손은진 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로**길*, *층(대치동 삼성빌딩)(특허법인 아이퍼스)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.06.30 수리 (Accepted) 1-1-2006-0473286-11
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2007.05.07 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2007.06.12 수리 (Accepted) 9-1-2007-0032336-17
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2007.06.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0363134-69
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2007.08.20 수리 (Accepted) 1-1-2007-0599856-81
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2007.08.20 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2007-0600826-47
7 등록결정서
Decision to grant
2007.12.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0664185-14
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
삭제
2 2
삭제
3 3
일련되는 주파수 대역의 전자파가 연속 송출되는 전자파 발생기; 송출되는 상기 전자파의 주파수가 플라즈마의 전자밀도 및 전자온도에 대해 상관 관계를 갖도록 반응용기 내의 플라즈마에 접속되고 상기 전자파 발생기에 전기적으로 연결되어 전자파를 송출하는 전자파 송수신기; 상기 전자파 송수신기로부터 수신되는 전자파의 주파수를 분석하도록 상기 전자파 송수신기에 전기적으로 연결되는 주파수 분석기; 및상기 전자파의 주파수 대역별 송출 지령과, 상기 분석 데이터에 기초한 상기 전자밀도 및 전자온도와 당해 각 전자파의 상관 관계 연산을 위해 상기 전자파 발생기 및 주파수 분석기에 전기적으로 연결되는 컴퓨터;를 포함하여 구성하되, 상기 전자파 송수신기는, 상기 전자파 발생기 및 주파수 분석기에 각각 전기적으로 연결되고 서로 병설되는 제 1동축케이블 및 제 2동축케이블과, 전자파의 송/수신을 위해 상기 제 1동축케이블 및 제 2동축케이블의 일단에 동일 축선상으로 각각 연결/돌출되어 상기 플라즈마에 접속되는 송신안테나 및 수신안테나를 포함하여 구성되는 것에 있어서, 상기 각 동축케이블에는 소정두께로 외장/차폐되는 유전체 피복층이 더 포함되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 전자밀도 및 전자온도 모니터링 장치
4 4
일련되는 주파수 대역의 전자파가 연속 송출되는 전자파 발생기; 송출되는 상기 전자파의 주파수가 플라즈마의 전자밀도 및 전자온도에 대해 상관 관계를 갖도록 반응용기 내의 플라즈마에 접속되고 상기 전자파 발생기에 전기적으로 연결되어 전자파를 송출하는 전자파 송수신기; 상기 전자파 송수신기로부터 수신되는 전자파의 주파수를 분석하도록 상기 전자파 송수신기에 전기적으로 연결되는 주파수 분석기; 및상기 전자파의 주파수 대역별 송출 지령과, 상기 분석 데이터에 기초한 상기 전자밀도 및 전자온도와 당해 각 전자파의 상관 관계 연산을 위해 상기 전자파 발생기 및 주파수 분석기에 전기적으로 연결되는 컴퓨터;를 포함하여 구성된 것에 있어서, 상기 전자파 송수신기가 상기 반응용기 내에서 선택적으로 이송될 수 있도록 상기 전자파 송수신기의 타측에 연결되는 이송기가 더 포함되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 전자밀도 및 전자온도 모니터링 장치
5 5
제 4항에 있어서, 상기 이송기는 스텝핑 모터로 구동되는 구조인 것을 특징으로 하는 플라즈마 전자밀도 및 전자온도 모니터링 장치
6 6
제 4항에 있어서, 상기 이송기는 유압실린더로 구동되는 구조인 것을 특징으로 하는 플라즈마 전자밀도 및 전자온도 모니터링 장치
7 7
제 5항 또는 제 6항에 있어서, 상기 전자파 송수신기는, 상기 반응용기의 반경방향을 따라 설치되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 전자밀도 및 전자온도 모니터링 장치
8 8
일련되는 주파수 대역의 전자파가 연속 송출되는 전자파 발생기; 송출되는 상기 전자파의 주파수가 플라즈마의 전자밀도 및 전자온도에 대해 상관 관계를 갖도록 반응용기 내의 플라즈마에 접속되고 상기 전자파 발생기에 전기적으로 연결되어 전자파를 송출하는 전자파 송수신기; 상기 전자파 송수신기로부터 수신되는 전자파의 주파수를 분석하도록 상기 전자파 송수신기에 전기적으로 연결되는 주파수 분석기; 및 상기 전자파의 주파수 대역별 송출 지령과, 상기 분석 데이터에 기초한 상기 전자밀도 및 전자온도와 당해 각 전자파의 상관 관계 연산을 위해 상기 전자파 발생기 및 주파수 분석기에 전기적으로 연결되는 컴퓨터;를 포함한 플라즈마 전자밀도 및 전자온도 모니터링 방법에 있어서,상기 전자파 발생기에서 소정 주파수의 전자파를 송신안테나로 인가하는 1단계;상기 송신안테나에서 방출된 전자파를 수신안테나가 수신하여 주파수를 분석하는 2단계;주파수 분석에 의해 컷오프 주파수를 측정하는 3단계;컷오프 주파수를 이용하여 플라즈마 밀도를 계산하는 4단계;전자파 발생장치에서 전자파를 송신하고 송신안테나로 되돌아오는 반사파를 모니터하여 표면파 흡수 주파수를 측정하는 5단계;상기 4단계 및 5단계에서 구해진 플라즈마 밀도와 흡수주파수를 이용하여 전자온도를 계산하는 6단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 플라즈마 전자밀도 및 전자온도 모니터링 방법
9 9
제 8항에 있어서,상기 4단계의 플라즈마 밀도(ωpe)는 ωpe = [nee2/ε0me]1/2 로 이루어지는 수학식에 의해 구해지는 것을 특징으로 하는 플라즈마 전자밀도 및 전자온도 모니터링 방법
10 10
제 8항에 있어서,상기 6단계의 전자온도(Te)는,Te = [1-[ωpe/ω]2]= {Km(βa)Im'(βa)Km(βb) - Km'(βa)Im(βb)}/{ Km'(βa)Im(βa)Km(βb) - Km(βa)Im(βb) }(Km 과 Im 은 modified Bessel function, β=2π/λ, λ=2ℓ, ℓ는 송신안테나의 길이, a는 송신안테나의 금속부의 중심부터 피복체(sheath) 경계까지의 반경, b는 송신안테나의 금속부의 반경, ω는 흡수주파수, ωpe 는 플라즈마 밀도) 로 이루어지는 수식에 의해 구해지는 것을 특징으로 하는 플라즈마 전자밀도 및 전자온도 모니터링 방법
지정국 정보가 없습니다
순번, 패밀리번호, 국가코드, 국가명, 종류의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 패밀리정보 - 패밀리정보 표입니다.
순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 JP20016423 JP 일본 FAMILY
2 US20080000585 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

순번, 패밀리번호, 국가코드, 국가명, 종류의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 패밀리정보 - DOCDB 패밀리 정보 표입니다.
순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 JP2008016423 JP 일본 DOCDBFAMILY
2 US2008000585 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.