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판형 및 원형 시료의 두께 측정장치

  • 기술번호 : KST2015179375
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 판형 및 원형 시료의 두께 측정 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 횡과 종으로 골을 형성하며 구획되는 크로스라인을 형성한 지지판 상단에 시료를 위치하고, 일단에 측정체를 구비하는 복수개의 디지털 마이크로미터를 지지판 상면과 하면에서 서로 마주보게 구성하되, 판형 시료의 경우에는 구 형상의 측정체와 측정체로 구성하여 시료의 표면 사방으로 두께를 일정한 간격으로 측정하고, 원형 시료의 경우에는 나이프 형상의 측정체와 측정체로 구성된 측정장치를 사용하여, 측정체 사이의 중앙에 시료가 위치하도록 하고 시료의 길이 방향으로 두께를 일정한 간격으로 측정하여 두 개의 디지털 마이크로미터가 지시하는 합이 시료의 정확한 두께가 되며, 각각의 측정점 마다 컴퓨터가 자동으로 계산되도록 함으로써 금속 뿐 만 아니라 다양한 재료에 대하여 정밀하고 정확한 판형 및 원형 시료의 두께 측정장치이다.두께측정, 비저항, 지지판, 프로브, 디지털 마이크로미터 가압부, 실린더, 디지털 마이크로미터
Int. CL G01B 7/06 (2006.01)
CPC G01B 7/06(2013.01) G01B 7/06(2013.01) G01B 7/06(2013.01) G01B 7/06(2013.01)
출원번호/일자 1020060049407 (2006.06.01)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-0749388-0000 (2007.08.08)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20070814) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항 심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.06.01)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강전홍 대한민국 대전광역시 유성구
2 유광민 대한민국 대전광역시 서구
3 김한준 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 진용석 대한민국 대전광역시 서구 청사로 ***, 청사오피스텔 ***호 세빈 국제특허법률사무소 (둔산동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.06.01 수리 (Accepted) 1-1-2006-0389064-88
2 우선심사신청서
Request for Accelerated Examination
2006.06.02 수리 (Accepted) 1-1-2006-0392683-01
3 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2006.06.14 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2006-0417000-79
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2006.07.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2006.08.11 수리 (Accepted) 9-1-2006-0053360-16
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2006.08.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0489949-38
7 의견서
Written Opinion
2006.10.25 수리 (Accepted) 1-1-2006-0772894-30
8 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2006.10.25 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2006-0772892-49
9 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2006.12.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0755442-10
10 명세서 등 보정서(심사전치)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2007.02.13 보정승인 (Acceptance of amendment) 7-1-2007-0005926-54
11 심사전치출원의 심사결과통지서
Notice of Result of Reexamination
2007.03.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0138429-11
12 보정각하결정서
Decision of Rejection for Amendment
2007.03.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0138427-19
13 등록결정서
Decision to grant
2007.08.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0431405-66
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
금속, 세라믹, 절연재료 등 다양한 종류의 시료에 대한 두께 측정 장치에 있어서,지지대(21)가 상부로 수직연장되는 베이스(20)와;상기 지지대(21) 상단에 결합되는 지지판(10)과;상기 베이스(20)의 상단에 수직으로 결합되며, 상부 일단에 디지털 마이크로미터 가압부(40)를 형성하는 고정대(30)와;상기 지지판(10)을 사이에 두고 동일 수직선상에 상호 대향 되며, 상기 지지판(10)에 관통 형성된 센터공(12)의 상면과 저면에 위치되는 각각의 디지털 마이크로미터(7)와;상기 각각의 디지털 마이크로미터(7) 외주면에 일측이 결합되고, 타측이 상기 디지털 마이크로미터 가압부(40)에 결합되는 디지털 마이크로미터 조절튜브(50);를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 판형 및 원형 시료의 두께 측정장치
2 2
제 1항에 있어서,상기 디지털 마이크로미터 가압부(40)는 다수개의 원통형 실린더(41)와, 상기 각각의 실린더(41)의 내부에 삽입되는 피스톤(42)과, 상기 피스톤(42) 상부에 결합되는 누름판(43)으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 판형 및 원형 시료의 두께 측정장치
3 3
제 1항에 있어서,상기 지지판(10)은 상면에 종과 횡으로 골을 형성하며 구획되는 크로스라인(11)이 형성되는 것을 특징으로 하는 판형 및 원형 시료의 두께 측정장치
4 4
제 3항에 있어서,상기 지지판(10)은 중심에 센터공(12)을 형성하여 상기 지지판(10) 하면에 설치된 디지털 마이크로미터(7)가 상기 센터공(12)에 위치되어 시료(60)에 접촉할 수 있도록 된 것을 특징으로 하는 판형 및 원형 시료의 두께 측정장치
5 5
제 1항에 있어서,상기 디지털 마이크로미터(7)는 측정체(9, 9'')를 형성하는 프로브(8)가 외주면에 돌출형성되되, 판형 시료(60)를 측정할 경우 상기 측정체(9')는 구 형상인 것을 특징으로 하는 판형 및 원형 시료의 두께 측정장치
6 6
제 1항에 있어서,상기 디지털 마이크로미터(7)는 측정체(9' ,9'')를 형성하는 프로브(8)가 외주면에 돌출형성되되, 원형 시료(60)를 측정할 경우 상기 측정체(9'')는 나이프 형상인 것을 특징으로 하는 판형 및 원형 시료의 두께 측정장치
7 7
제 5항 또는 제 6항에 있어서,상기 프로브(8)는 시료 없이 상호 간 접촉했을 시 디지털 마이크로미터(7) 게이지의 지시값의 합은 항상 "0" 이 되고, 시료(60)를 사이에 두고 상호간 접촉했을 시의 디지털 마이크로미터(7) 지시값을 합산한 값이 두께 측정값이 되며, 각각의 디지털 마이크로미터(7) 지시값을 합산하여 평균한 값이 두께 측정값이 되는 것을 특징으로 하는 판형 및 원형 시료의 두께 측정장치
8 8
제 7항에 있어서,상기 프로브(8)는 디지털 마이크로미터 가압부(40)에 압력을 가했을 경우 상호 간 이격되고, 압력을 해제했을 경우 상호 간 근접하는 것을 특징으로 하는 판형 및 원형 시료의 두께 측정장치
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