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펄스 플라즈마 전자밀도 및 전자온도 모니터링 장치 및방법

  • 기술번호 : KST2015179385
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 펄스 플라즈마에 대해 일련되는 대역의 전자파를 송/수신하도록 안테나 구조의 탐침기가 실장되며, 이에 더하여 송신된 전자파 중 당해 펄스 플라즈마의 시간변화에 대해 컷오프(cutoff)되거나 흡수되는 특정의 전자파 컷오프 주파수(cutoff frequency)및 흡수 주파수(absorption frequency)의 대역을 분석하여 이를 기초로 당해 플라즈마의 전자밀도 및 전자온도를 연산하도록 분석도구가 구비되는 것을 특징으로 하는 펄스 플라즈마 전자밀도 및 전자온도 모니터링 장치 및 방법에 관한 것으로, 트리거 신호 출력부로부터 트리거 신호를 출력받아 동기되며, 이를 근거로 전자파 송수신기로부터 수신되는 전자파의 주파수를 시간변화와 합산하여 분석하도록 상기 전자파 송수신기에 전기적으로 연결되는 주파수 분석기; 및 상기 전자파의 주파수 대역별 송출 지령과, 상기 분석 데이터에 기초한 상기 전자밀도 및 전자온도와 당해 각 전자파의 상관 관계 연산을 위해 상기 전자파 발생기 및 주파수 분석기에 전기적으로 연결되며, 주파수 분석기로부터 펄스 플라즈마의 펄스에 의한 플라즈마의 시간변화에 따른 컷오프 주파수를 추출하여 시간에 따라 변화하는 전자온도 및 전자밀도를 분석하는 컴퓨터;를 포함하고, 상기 펄스 플라즈마의 펄스가 200Hz 이상인 경우 전자파 발생기와 주파수 분석기를 각각 이용하여 시간변화에 따른 컷오프 주파수를 판단하고, 펄스 플라즈마의 펄스가 200Hz 이하인 경우 네트워크 분석기를 이용하여 시간변화에 따른 컷오프 주파수를 판단하는 것을 특징이다.플라즈마, 전자밀도, 전자온도, 컷오프, 주파수, 반도체
Int. CL H01L 21/3065 (2006.01)
CPC H01J 37/32935(2013.01) H01J 37/32935(2013.01)
출원번호/일자 1020060126324 (2006.12.12)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-0833646-0000 (2008.05.23)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20080530) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.12.12)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김정형 대한민국 대전 유성구
2 윤주영 대한민국 서울 양천구
3 성대진 대한민국 충남 공주시
4 신용현 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김문종 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로**길*, *층(대치동 삼성빌딩)(특허법인 아이퍼스)
2 손은진 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로**길*, *층(대치동 삼성빌딩)(특허법인 아이퍼스)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.12.12 수리 (Accepted) 1-1-2006-0919533-22
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2007.10.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0570200-85
3 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2007.12.22 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2007-0922799-65
4 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2007.12.22 수리 (Accepted) 1-1-2007-0922800-24
5 등록결정서
Decision to grant
2008.04.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0217711-03
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
삭제
2 2
펄스 플라즈마 반응용기;트리거 신호를 출력하는 트리거 신호 출력부;일련되는 주파수 대역의 전자파가 연속 송출되는 전자파 발생기; 송출되는 상기 전자파의 주파수가 펄스 플라즈마의 전자밀도 및 전자온도에 대해 상관 관계를 갖도록 반응용기 내의 펄스 플라즈마에 접속되고 상기 전자파 발생기에 전기적으로 연결되어 전자파를 송출하는 전자파 송수신기; 상기 트리거 신호 출력부로부터 트리거 신호를 출력받아 동기되며, 이를 근거로 전자파 송수신기로부터 수신되는 전자파의 주파수를 시간변화와 합산하여 분석하도록 상기 전자파 송수신기에 전기적으로 연결되는 주파수 분석기; 및상기 전자파의 주파수 대역별 송출 지령과, 상기 분석 데이터에 기초한 상기 전자밀도 및 전자온도와 당해 각 전자파의 상관 관계 연산을 위해 상기 전자파 발생기 및 주파수 분석기에 전기적으로 연결되며, 주파수 분석기로부터 펄스 플라즈마의 펄스에 의한 플라즈마의 시간변화에 따른 컷오프 주파수를 추출하여 시간에 따라 변화하는 전자온도 및 전자밀도를 분석하는 컴퓨터;를 포함하여 구성되고,상기 펄스 플라즈마의 펄스가 200Hz 이상인 경우 전자파 발생기와 주파수 분석기를 각각 이용하여 시간변화에 따른 컷오프 주파수를 판단하고, 펄스 플라즈마의 펄스가 200Hz 이하인 경우 네트워크 분석기를 이용하여 시간변화에 따른 컷오프 주파수를 판단하는 것을 특징으로 하는 펄스 플라즈마 전자밀도 및 전자온도 모니터링 장치
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펄스 플라즈마 반응용기;트리거 신호를 출력하는 트리거 신호 출력부;일련되는 주파수 대역의 전자파가 연속 송출되는 전자파 발생기; 송출되는 상기 전자파의 주파수가 펄스 플라즈마의 전자밀도 및 전자온도에 대해 상관 관계를 갖도록 반응용기 내의 펄스 플라즈마에 접속되고 상기 전자파 발생기에 전기적으로 연결되어 전자파를 송출하는 전자파 송수신기; 상기 트리거 신호 출력부로부터 트리거 신호를 출력받아 동기되며, 이를 근거로 전자파 송수신기로부터 수신되는 전자파의 주파수를 시간변화와 합산하여 분석하도록 상기 전자파 송수신기에 전기적으로 연결되는 주파수 분석기; 및상기 전자파의 주파수 대역별 송출 지령과, 상기 분석 데이터에 기초한 상기 전자밀도 및 전자온도와 당해 각 전자파의 상관 관계 연산을 위해 상기 전자파 발생기 및 주파수 분석기에 전기적으로 연결되며, 주파수 분석기로부터 펄스 플라즈마의 펄스에 의한 플라즈마의 시간변화에 따른 컷오프 주파수를 추출하여 시간에 따라 변화하는 전자온도 및 전자밀도를 분석하는 컴퓨터;를 포함하여 구성되고,상기 전자파 송신부 동축선 중간에는 진행파와 반사파를 모니터링하여 주파수 분석기에서 표면파 흡수 주파수를 측정할 수 있도록 유도하는 지향성 커플러를 더 포함하여 구성함을 특징으로 하는 펄스 플라즈마 전자밀도 및 전자온도 모니터링 장치
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삭제
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삭제
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펄스 플라즈마의 주파수를 추출하는 제 1단계와;전자파 발생기(300)에서 소정 주파수의 전자파를 펄스 플라즈마의 온오프 주파수에 해당하는 시간동안 송신안테나(210a)로 인가하는 제 2단계(S2)와; 송신안테나(210a)에서 방출된 전자파를 수신안테나(220a)가 수신하여 주파수를 분석하는 제 3단계(S3)와; 소정 주파수를 일정단위로 올려가면서 상승한 상태에서 펄스 플라즈마의 온오프 주파수에 해당하는 시간동안 주파수를 송수신하는 것을 반복하는 제 4단계(S4)와; 주파수 분석에 의해 시간변화에 따른 컷오프 주파수를 측정하는 제 5단계(S5)와; 컷오프 주파수를 이용하여 온오프 주파수의 시간변화에 따른 펄스 플라즈마 밀도를 계산하는 제 6단계(S6)와; 전자파 발생기(300)에서 전자파를 송신하고 송신안테나(210a)로 되돌아오는 반사파를 모니터하여 표면파 흡수 주파수를 측정하는 제 7단계(S7)와, 제 6단계(S6) 및 제 7단계(S7)에서 구해진 펄스 플라즈마 밀도와 흡수주파수를 이용하여 온오프 주파수의 시간변화에 따른 전자온도를 계산하는 제 8단계(S8)로 이루어져 순차 진행함을 특징으로 하는 플라즈마 전자밀도 및 전자온도 모니터링 방법
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제 6항에 있어서,상기 제 6단계의 플라즈마 밀도(ωpe)는 ωpe = [nee2/ε0me]1/2 (ne은 전자수 밀도, e는 단위전하, ε0는 진공중 유전율, me는 전자질량)로 이루어지는 수학식에 의해 구해지는 것을 특징으로 하는 플라즈마 전자밀도 및 전자온도 모니터링 방법
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제 6항에 있어서,상기 제 7단계의 전자온도(Te)는,Te = [1-[ωpe/ω]2]= {Km(βa)Im'(βa)Km(βb) - Km'(βa)Im(βb)}/{ Km'(βa)Im(βa)Km(βb) - Km(βa)Im(βb) }(Km 과 Im 은 modified Bessel function, β=2π/λ, λ=2ℓ, ℓ는 송신안테나의 길이, a는 송신안테나의 금속부의 중심부터 피복체(sheath) 경계까지의 반경, b는 송신안테나의 금속부의 반경, ω는 흡수주파수, ωpe 는 플라즈마 밀도) 로 이루어지는 수식에 의해 구해지는 것을 특징으로 하는 플라즈마 전자밀도 및 전자온도 모니터링 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.