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금속 표면의 결함을 측정하기 위한 어레이형 용량성 센서

  • 기술번호 : KST2015179412
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 평판 전극을 이용하여 전도체 표면의 결함을 탐지하기 위한 센서로서 기존의 용량성 센서가 주로 액체 유량이나 금속 표면 위에서의 갭 센서(Gap Sensor)로 사용되었던 것과는 달리 본 발명은 물체 표면에 작은 결함을 탐지하거나 표면 굴곡을 측정할 수 있다.금속판, 커패시터, 양극, 음극, 리프트-오프, 커패시터 프로브.
Int. CL G01N 27/22 (2006.01) G01N 27/24 (2006.01)
CPC G01N 27/24(2013.01) G01N 27/24(2013.01) G01N 27/24(2013.01) G01N 27/24(2013.01) G01N 27/24(2013.01) G01N 27/24(2013.01)
출원번호/일자 1020060133637 (2006.12.26)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-0763569-0000 (2007.09.27)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20071004) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.12.26)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김영주 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박만순 대한민국 서울특별시 서초구 사임당로 **, **층 (서초동, 신영빌딩)(특허법인세원)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2006.12.26 수리 (Accepted) 1-1-2006-0961207-83
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2007.08.07 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2007.09.11 수리 (Accepted) 9-1-2007-0055020-89
4 등록결정서
Decision to grant		 2007.09.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0509970-92
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
동일 평면상에 인접하게 배치되는 금속 재질의 음극 전극과 양극 전극으로 이루어진 용량성 프로브;상기 양극 전극에 전원을 공급하는 전원; 및 상기 음극전극과 양극전극이 금속 시편을 인접하게 탐상하는 동안 상기 음극전극과 양극전극 간의 전정용량의 변화를 감지하고 이를 분석하여 금속 시편에 결함이 존재하는지를 검출하는 감지 및 검출수단;을 포함하는 것을 특징으로 하는 금속 표면의 결함을 측정하기 위한 어레이형 용량성 센서
2 2
제1항에 있어서,상기 용량성 프로브는, 일렬로 배열된 다수의 양극전극과 일렬로 배열된 다수의 음극전극으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 금속 표면의 결함을 측정하기 위한 어레이형 용량성 센서
3 3
제1항에 있어서,상기 용량성 프로브는, 1개의 양극 전극과 1개의 음극 전극을 가지는 절대형 또는 1개의 양극 전극과 2개의 음극 전극을 가지는 차동형으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 금속 표면의 결함을 측정하기 위한 어레이형 용량성 센서
4 4
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,상기 용량성 프로브는 F-PCB에 부착된 상태로 센서 본체의 평면 또는 곡면에 부착되는 것을 특징으로 하는 금속 표면의 결함을 측정하기 위한 어레이형 용량성 센서
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.