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누름힘의 세기 및 작용위치 검출용 터치입력구조, 이를 이용한 터치입력장치 및 누름힘의 세기 및 작용위치 검출방법

  • 기술번호 : KST2015179506
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 누름힘의 세기 및 작용위치 검출용 터치입력구조에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 터치입력구조의 상층과 하층사이의 간격변화 또는 상층의 변형률에 기초하여 누름힘의 세기 및 작용위치를 검출할 수 있는 터치입력구조, 터치입력장치 및 검출방법에 관한 것이다. 보다 상세하게는 누름힘의 세기와 작용위치 검출용 터치입력구조로서, 포인팅 오브젝트에 의한 외부의 누름힘이 인가되는 상층; 상층과 소정의 간격으로 이격되어 구비되는 하층; 및 상층과 하층 사이에 구비되어 상층과 하층을 연결하는 지지부;를 포함하고, 상기 상층과 상기 하층 사이의 간격변화를 검출하며, 상기 상층과 상기 하층의 일면에 마주보도록 전극이 형성된 간격탐지부;를 포함하며, 터치입력구조의 측면은 지지부에 의하여 완전히 지지되어 측면에서의 변위 변화 및 기울기 변화가 없거나, 단순히 지지되어 측면에서의 변위 변화가 없는 것을 특징으로 하는 누름힘의 세기 및 작용위치 검출용 터치입력구조와 이를 이용한 터치입력장치 및 누름힘의 세기와 작용위치 검출방법에 관한 것이다. 변위, 변형률, 누름힘, 위치, 세기, 터치스크린
Int. CL G06F 3/041 (2011.01) B82Y 30/00 (2011.01) G06F 3/045 (2011.01)
CPC G06F 3/0414(2013.01) G06F 3/0414(2013.01) G06F 3/0414(2013.01) G06F 3/0414(2013.01) G06F 3/0414(2013.01)
출원번호/일자 1020080078532 (2008.08.11)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-0997107-0000 (2010.11.23)
공개번호/일자 10-2010-0019808 (2010.02.19) 문서열기
공고번호/일자 (20101129) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.08.11)
심사청구항수 25

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김종호 대한민국 대전 서구
2 박연규 대한민국 대전 유성구
3 김민석 대한민국 대전 서구
4 최재혁 대한민국 대전 유성구
5 강대임 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김문종 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로**길*, *층(대치동 삼성빌딩)(특허법인 아이퍼스)
2 손은진 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로**길*, *층(대치동 삼성빌딩)(특허법인 아이퍼스)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.08.11 수리 (Accepted) 1-1-2008-0574033-37
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2009.10.08 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2009.11.12 수리 (Accepted) 9-1-2009-0061770-68
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.02.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0068663-06
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2010.04.15 수리 (Accepted) 1-1-2010-0239696-11
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.05.17 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0313791-76
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.05.17 수리 (Accepted) 1-1-2010-0313795-58
8 등록결정서
Decision to grant
2010.09.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0435906-15
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
누름힘의 세기 및 작용위치 검출용 터치입력구조로서, 포인팅 오브젝트에 의한 외부의 누름힘이 인가되는 상층; 상기 상층과 0
2 2
삭제
3 3
누름힘의 세기 및 작용위치 검출용 터치입력구조로서, 포인팅 오브젝트에 의한 외부의 누름힘이 인가되는 상층; 상기 상층과 0
4 4
제 1 항 또는 제 3 항에 있어서, 상기 상층 및 상기 하층은 투명한 재질인 것을 특징으로 하는 누름힘의 세기 및 작용위치 검출용 터치입력구조
5 5
삭제
6 6
제 1 항에 있어서, 상기 전극은 금속, ITO 또는 탄소나노튜브인 것을 특징으로 하는 누름힘의 세기 및 작용위치 검출용 터치입력구조
7 7
제 3 항에 있어서, 상기 변형률탐지부는 저항층 또는 스트레인 게이지인 것을 특징으로 하는 누름힘의 세기 및 작용위치 검출용 터치입력구조
8 8
제 7 항에 있어서, 상기 저항층은 감압잉크, ITO, 저항 페이스트 또는 탄소나노튜브인 것을 특징으로 하는 누름힘의 세기 및 작용위치 검출용 터치입력구조
9 9
포인팅 오브젝트에 의한 외부의 누름힘이 인가되는 상층; 상기 상층과 0
10 10
삭제
11 11
제 9 항에 있어서, 상기 간격탐지부는 적어도 2개 구비되는 것을 특징으로 하는 터치입력장치
12 12
제 9 항에 있어서, 상기 검출부는 상기 전극이 구비된 위치에서의 상기 상층과 상기 하층의 간격변화를 검출하는 간격변화검출부; 상기 간격변화에 기초하여 상기 누름힘이 인가된 위치를 검출하는 위치검출부; 및 상기 검출된 위치와 상기 간격변화에 대한 관계식으로부터 누름힘의 세기를 검출하는 세기검출부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치입력장치
13 13
제 12 항에 있어서, 상기 위치검출부는 상기 간격변화와 상기 누름힘의 작용위치에 관한 연산을 수행하거나 미리 저장된 데이터로부터 탐색하여 상기 작용위치를 검출하는 것을 특징으로 하는 터치입력장치
14 14
포인팅 오브젝트에 의한 외부의 누름힘이 인가되는 상층과; 상기 상층과 0
15 15
제 14 항에 있어서, 상기 변형률탐지부는 저항층 또는 스트레인게이지인 것을 특징으로 하는 터치입력장치
16 16
제 14 항에 있어서, 상기 변형률탐지부는 적어도 2개 구비되는 것을 특징으로 하는 터치입력장치
17 17
제 14 항에 있어서, 상기 검출부는 상기 변형률탐지부를 이용하여 상기 상층의 변형률을 검출하는 변형률검출부; 상기 변형률에 기초하여 상기 누름힘의 작용위치를 검출하는 위치검출부; 및 상기 검출된 작용위치와 상기 변형률에 대한 관계식으로부터 누름힘의 세기를 검출하는 세기검출부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치입력장치
18 18
제 17 항에 있어서, 상기 위치검출부는 상기 변형률과 상기 누름힘의 작용위치에 관한 연산을 수행하거나 미리 저장된 데이터로부터 탐색하여 상기 작용위치를 검출하는 것을 특징으로 하는 터치입력장치
19 19
제 14 항에 있어서, 상기 변형률은 다음의 [수학식]에 기초하는 것을 특징으로 하는 터치입력장치
20 20
삭제
21 21
삭제
22 22
제 9 항 또는 제 14 항에 있어서, 상기 누름힘의 작용위치는 직교좌표 형태로 표현되는 것을 특징으로 하는 터치입력장치
23 23
제 9 항 또는 제 14 항에 있어서, 상기 터치입력구조의 하부에는 액정패널이 더 포함되는 것을 특징으로 하는 터치입력장치
24 24
터치입력구조에 누름힘이 인가됨에 따라 상층이 변형되는 단계; 검출부가 상기 상층과 하층 사이의 간격변화를 적어도 두 곳의 위치에서 검출하는 단계; 상기 검출부가 상기 터치입력구조상에 미리 형성된 가상의 좌표계에 기초하여 상기 간격변화와 작용위치의 좌표와 세기에 관한 관계식설정단계; 상기 검출부가 상기 간격변화에 기초하여 상기 작용위치의 좌표를 획득하는 단계; 및 상기 검출부가 상기 관계식과 상기 획득된 좌표에 기초하여 상기 세기를 획득하는 단계;를 포함하며, 상기 터치입력구조의 측면은 지지부에 의하여 완전히 지지되어 상기 측면에서의 변위 변화 및 기울기 변화가 없거나, 단순히 지지되어 상기 측면에서의 변위 변화가 없는 것을 특징으로 하는 누름힘의 세기 및 작용위치 검출방법
25 25
터치입력구조에 누름힘이 인가됨에 따라 상층이 변형되는 단계; 검출부가 상기 상층의 변형률을 적어도 두 곳의 위치에서 검출하는 단계; 상기 검출부가 상기 터치입력구조상에 미리 형성된 가상의 좌표계에 기초하여 상기 변형률과 작용위치의 좌표와 세기에 관한 관계식설정단계; 상기 검출부가 상기 관계식에 기초하여 상기 작용위치의 좌표를 획득하는 단계; 및 상기 검출부가 상기 관계식과 상기 획득된 좌표에 기초하여 상기 세기를 획득하는 단계;를 포함하며, 상기 터치입력구조의 측면은 지지부에 의하여 완전히 지지되어 상기 측면에서의 변위 변화 및 기울기 변화가 없거나, 단순히 지지되어 상기 측면에서의 변위 변화가 없는 것을 특징으로 하는 누름힘의 세기 및 작용위치 검출방법
26 26
제 24 항 또는 제 25 항에 있어서, 상기 관계식설정단계, 상기 좌표를 획득하는 단계, 및 상기 세기를 획득하는 단계 중 어느 하나는 오일러 빔 이론에 의하는 것을 특징으로 하는 누름힘의 세기 및 작용위치 검출방법
27 27
삭제
28 28
제 24 항에 있어서, 상기 작용위치의 좌표획득단계는, 상기 검출부에 미리 저장되어있는 간격변화와 작용위치 간의 데이터에 기초하여 작용위치의 좌표를 탐색하여 획득하는 방식 또는 상기 관계식의 연산에 의하여 획득하는 방식인 것을 특징으로 하는 누름힘의 세기 및 작용위치 검출방법
29 29
제 25 항에 있어서, 상기 변형률은 상층에 형성된 변형률탐지부의 저항값의 변화에 기초하여 검출되는 것을 특징으로 하는 누름힘의 세기 및 작용위치 검출방법
30 30
삭제
31 31
제 25 항에 있어서, 상기 작용위치의 좌표획득단계는, 상기 검출부에 미리 저장되어있는 변형율과 작용위치 간의 데이터에 기초하여 작용위치의 좌표를 탐색하여 획득하는 방식 또는 상기 관계식의 연산에 의하여 획득하는 방식인 것을 특징으로 하는 누름힘의 세기 및 작용위치 검출방법
32 32
제 24 항 또는 제 25 항에 있어서, 상기 가상의 좌표계는 직교좌표계인 것을 특징으로 하는 누름힘의 세기 및 작용위치 검출방법
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1 WO2010018889 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

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1 WO2010018889 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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