요약 | 본 발명은 2개의 기판 각각에 신호선 전극을 증착 또는 인쇄하고 적어도 어느 한 기판에 감압형 저항층 또는 위치측정용 저항층을, 그리고 그 위로 스크린 인쇄된 다수의 도트 스페이서를 형성하는 방식으로 접촉힘 측정이 가능한 접촉저항형 센서, 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 접촉저항형 센서, 그리고 그들 센서의 제조방법 및 그들 센서를 이용하는 방법을 제공한다. 이에 의하면, 단일 터치의 터치 입력기기에 적용되도록 선의 갯수를 줄이면서 넓은 면적을 감지할 수 있으며 불투명한 키패드, 터치패드 등에 용이하게 적용될 수 있을 뿐만 아니라 제조 방법이 간단하여 대량생산이 가능하므로 상용화에 적합하다.터치 입력기기, 접촉저항형 센서, 힘센서, 감압형 저항, 위치측정용 저항, 온도 보상, 마우스, 터치 패드 |
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Int. CL | G01L 1/18 (2006.01) G01L 1/16 (2006.01) G01L 5/00 (2006.01) |
CPC | G06F 3/045(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020090087805 (2009.09.17) |
출원인 | 한국표준과학연구원 |
등록번호/일자 | 10-1169935-0000 (2012.07.25) |
공개번호/일자 | 10-2011-0029928 (2011.03.23) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20120806) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2009.09.17) |
심사청구항수 | 22 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
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1 | 한국표준과학연구원 | 대한민국 | 대전 유성구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
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1 | 김종호 | 대한민국 | 대전광역시 서구 |
2 | 김민석 | 대한민국 | 대전광역시 서구 |
3 | 박연규 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
4 | 강대임 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 김문종 | 대한민국 | 서울특별시 강남구 삼성로**길*, *층(대치동 삼성빌딩)(특허법인 아이퍼스) |
2 | 손은진 | 대한민국 | 서울특별시 강남구 삼성로**길*, *층(대치동 삼성빌딩)(특허법인 아이퍼스) |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
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1 | 한국표준과학연구원 | 대전 유성구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application |
2009.09.17 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0571219-42 |
2 | 선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search |
2010.12.14 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
3 | 선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search |
2011.01.14 | 수리 (Accepted) | 9-1-2011-0002493-57 |
4 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2011.06.17 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2011-0330910-48 |
5 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2011.08.12 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2011-0626448-17 |
6 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2011.08.12 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0626395-96 |
7 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2011.12.13 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2011-0736818-56 |
8 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2012.02.08 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2012-0103778-36 |
9 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2012.02.08 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0103777-91 |
10 | 등록결정서 Decision to grant |
2012.07.03 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2012-0385780-11 |
11 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.01.09 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5004381-25 |
12 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2018.12.27 | 수리 (Accepted) | 4-1-2018-5266645-00 |
13 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2018.12.27 | 수리 (Accepted) | 4-1-2018-5266640-72 |
14 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2018.12.27 | 수리 (Accepted) | 4-1-2018-5266627-88 |
번호 | 청구항 |
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1 |
1 소정 갭(120)을 유지하면서 서로 평행하게 배열되는 제 1기판(100) 및 제 2기판(110);상기 제 1기판(100) 및 상기 제 2기판(110) 사이에 배치되며 온도 또는 접촉힘에 따라 저항이 변화되는 감압형 저항층(130);상기 제 1기판(100)에 형성되고 상기 저항 변화에 기초하여 상기 감압형 저항층에 부가되는 전압신호를 선택적으로 입력받을 수 있는 제 3신호선 전극(160);상기 제 2기판(110)에 형성되며 상기 감압형 저항층(130)에 개별적으로 연결되어 상기 전압신호를 선택적으로 입력받을 수 있는 제 1신호선 전극(140) 및 제 2신호선 전극(150);상기 제 1기판(100)으로 상기 접촉힘에 대응한 복원력 전달을 위해 상기 감압형 저항층(130)에 형성된 다수의 도트 스페이서(170); 및상기 제 1기판(100) 및 상기 제 2기판(110)과의 사이에서 접촉면에 열접착 테이프 또는 양면 테이프로 합착되어 상기 갭(120)을 형성하는 갭 스페이서(175);를 포함하는 것을 특징으로 하는 접촉힘 측정이 가능한 접촉저항형 센서 |
2 |
2 제 1항에 있어서,상기 제 1기판(100) 및 상기 제 2기판(110)은 폴리이미드 필름, 폴리에스터 필름 및 유리 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 접촉힘 측정이 가능한 접촉저항형 센서 |
3 |
3 제 1항에 있어서,상기 제 1신호선 전극(140), 상기 제 2신호선 전극(150) 및 상기 제 3신호선 전극(160)은 금속 증착 또는 실버페이스트 인쇄로 형성된 것임을 특징으로 하는 접촉힘 측정이 가능한 접촉저항형 센서 |
4 |
4 제 1항에 있어서,상기 감압형 저항층(130)은 면저항의 범위가 100 Ω/sq ~ 1000 kΩ/sq 인 것을 특징으로 하는 접촉힘 측정이 가능한 접촉저항형 센서 |
5 |
5 제 1항에 있어서,상기 감압형 저항층(130)은 상기 갭(120)을 유지하면서 상기 제 1기판(100)에 형성된 제 1감압형 저항층(132)과 상기 제 2기판(110)에 형성된 제 2감압형 저항층(134)으로 구성되며,상기 도트 스페이서(170)는 상기 제 2감압형 저항층(134)에 형성된 것을 특징으로 하는 접촉힘 측정이 가능한 접촉저항형 센서 |
6 |
6 제 1항에 있어서,상기 다수의 도트 스페이서(170)는 스크린 인쇄를 통해 형성된 것을 특징으로 하는 접촉힘 측정이 가능한 접촉저항형 센서 |
7 |
7 제 1항에 있어서,상기 다수의 도트 스페이스(170)는 직경이 10 ㎛ ~ 100 ㎛ 이고 높이가 10 ㎛ ~ 50 ㎛ 이며, 인접하는 상기 각 도트 스페이스 사이의 피치거리가 20 ㎛ ~ 2000 ㎛인 것을 특징으로 하는 접촉힘 측정이 가능한 접촉저항형 센서 |
8 |
8 제 1항에 있어서,상기 다수의 도트 스페이서(170)의 재질은 폴리우레탄 또는 실리콘 고무인 것을 특징으로 하는 접촉힘 측정이 가능한 접촉저항형 센서 |
9 |
9 소정 갭(220)을 유지하면서 서로 평행하게 배열되는 제 1기판(200) 및 제 2기판(210);상기 제 1기판(200) 및 상기 제 2기판(210) 사이에 배치되며 온도 또는 접촉힘에 따라 제 1저항 변화를 보이는 감압형 저항층(230);상기 감압형 저항층(230)과 상기 제 2기판(210) 사이에 배치되며 접촉위치에 따라 제 2저항 변화를 보이는 위치측정용 저항층(280);상기 제 1기판(200)에 형성되고 상기 제 1저항 변화 및 상기 제 2저항 변화에 기초하여 상기 감압형 저항층(230) 및 상기 위치측정용 저항층(280)에 부가되는 전압신호를 선택적으로 입력받는 제 3신호선 전극(260);상기 제 2기판(210)에 형성되며 상기 위치측정용 저항층(280)에 개별적으로 연결되어 상기 전압신호를 선택적으로 입력받는 제 1신호선 전극(240) 및 제 2신호선 전극(250);상기 제 1기판(200)으로 복원력을 전달하기 위해 상기 감압형 저항층(230)에 형성된 다수의 도트 스페이서(270); 및상기 제 1기판(200) 및 상기 제 2기판(210)과의 사이에서 접촉면에 열접착 테이프 또는 양면 테이프로 접착하여 상기 갭(220)을 형성하는 갭 스페이서(275);를 포함하는 것을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 접촉저항형 센서 |
10 |
10 제 9항에 있어서,상기 제 1기판(200) 및 상기 제 2기판(210)은 폴리이미드 필름, 폴리에스터 필름 및 유리 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 접촉저항형 센서 |
11 |
11 제 9항에 있어서,상기 제 1신호선 전극(240), 상기 제 2신호선 전극(250) 및 상기 제 3신호선 전극(260)은 금속 증착 또는 실버페이스트 인쇄로 형성된 것임을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 접촉저항형 센서 |
12 |
12 제 9항에 있어서,상기 감압형 저항층(230)은 면저항의 범위가 100 Ω/sq ~ 1000 kΩ/sq 인 것을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 접촉저항형 센서 |
13 |
13 제 9항에 있어서,상기 감압형 저항층(230)은 상기 갭(220)을 유지하면서 상기 제 1기판(200)에 형성된 제 1감압형 저항층(232)과 상기 제 2기판(210)에 형성된 제 2감압형 저항층(234)으로 구성되며,상기 도트 스페이서(270)는 상기 제 2감압형 저항층(234)에 형성된 것을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 접촉저항형 센서 |
14 |
14 제 9항에 있어서,상기 위치측정용 저항층(280)은 면저항의 범위가 100 Ω/sq ~ 1 kΩ/sq 인 것을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 접촉저항형 센서 |
15 |
15 제 9항에 있어서,상기 다수의 도트 스페이서(270)는 스크린 인쇄를 통해 형성된 것을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 접촉저항형 센서 |
16 |
16 제 9항에 있어서,상기 다수의 도트 스페이스(270)는 직경이 10 ㎛ ~ 100 ㎛ 이고 높이가 10 ㎛ ~ 50 ㎛ 이며, 인접하는 상기 각 도트 스페이스 사이의 피치거리가 20 ㎛ ~ 2000 ㎛인 것을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 접촉저항형 센서 |
17 |
17 제 9항에 있어서,상기 다수의 도트 스페이서(270)의 재질은 폴리우레탄 또는 실리콘 고무인 것을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 접촉저항형 센서 |
18 |
18 제 1기판(300)에 제 3신호선 전극(360)이 형성된 제 1가공 기판(305)과 제 2기판(310)에 제 1신호선 전극(340), 제 2신호선 전극(350), 적어도 하나의 저항층 및 다수의 도트 스페이서(370)가 형성된 제 2가공 기판(315)의 제조단계(S10); 및상기 제조된 제 1가공 기판(305) 및 상기 제 2가공 기판(315)을 서로 평행하게 나열하되 소정 갭(320)을 갖도록 갭 스페이서(375)를 상기 제 1가공 기판(305) 및 상기 제 2가공 기판(315) 사이에 위치시키고, 상기 갭 스페이서(375)와의 접촉면에 열접착 테이프 또는 양면테이프를 이용하여 상호 합착하는 단계(S20);를 포함하고,상기 제 1가공 기판(305)의 제조단계(S10)는,고분자 필름 또는 유리 재질의 상기 제 1기판(300)에 금속의 증착 또는 실버페이스트의 인쇄로 상기 제 3신호선 전극(360)을 형성하는 단계(S110);를 포함하며,상기 제 2가공 기판(315)의 제조단계(S10)는,고분자 필름 또는 유리 재질의 상기 제 2기판(310)에 금속의 증착 또는 실버페이스트의 인쇄로 상기 제 1신호선 전극(340) 및 상기 제 2신호선 전극(350)을 형성하는 단계(S210);상기 제 2기판(310) 상부에, 그리고 상기 제 1신호선 전극(340) 및 상기 제 2신호선 전극(350) 사이에 감압형 저항층(330)을 형성하는 단계(S220); 및상기 감압형 저항층(330) 상부에 스크린 인쇄를 통해 상기 다수의 도트 스페이서(370)를 형성하는 단계(S230);를 포함하는 것을 특징으로 하는 접촉힘 측정이 가능한 접촉저항형 센서의 제조방법 |
19 |
19 제 18항에 있어서,상기 제 1가공 기판(305)의 제조단계(S10)는 상기 제 3신호선 전극(360) 형성단계(S110) 이후에,상기 제 3신호선 전극(360) 상에 제 1감압형 저항층(132)을 형성하는 단계(S120);를 더 포함하고,상기 감압형 저항층(330)은 제 2감압형 저항층(134)인 것을 특징으로 하는 접촉힘 측정이 가능한 접촉저항형 센서의 제조방법 |
20 |
20 제 18항 또는 제 19항에 있어서,상기 제 2가공 기판(415)의 제조단계(S10)는,고분자 필름 또는 유리 재질의 제 2기판(410)에 금속 또는 실버페이스트로 상기 제 1신호선 전극(440) 및 상기 제 2신호선 전극(450)을 형성하는 단계(S310);상기 제 2기판(410) 상부에, 그리고 상기 제 1신호선 전극(440) 및 상기 제 2신호선 전극(450) 사이에 위치측정용 저항층(480)을 형성하는 단계(S320);상기 위치측정용 저항층(480) 상부에 감압형 저항층(430)을 형성하는 단계(S330); 및상기 감압형 저항층(430) 상부에 스크린 인쇄를 통해 상기 다수의 도트 스페이서(470)를 형성하는 단계(S340);를 포함하는 것을 특징으로 하는 접촉힘 측정이 가능한 접촉저항형 센서의 제조방법 |
21 |
21 소정 갭(120)을 유지한 상태로 상호 평행하게 배열된 제 1기판(100) 및 제 2기판(110) 중 어느 하나가 온도 변화 또는 소정 포인팅 오브젝트의 접촉힘에 의해 변형되는 제 1변형단계(S510);상기 변형된 제 1기판(100) 또는 상기 변형된 제 2기판으로부터 열 또는 상기 접촉힘을 전달받아 상기 제 1기판(100)과 상기 제 2기판(110) 사이에 형성되어 있는 감압형 저항층(130)이 변형되는 제 2변형단계(S520);상기 제 1기판(100)에 형성된 제 3신호선 전극(160), 상기 제 2기판(110)에 형성되어 상기 감압형 저항층(130)에 연결된 제 1신호선 전극(140) 및 상기 제 2기판(110)에 형성되어 상기 감압형 저항층(130)에 연결된 제 2신호선 전극(150) 중 어느 하나를 개방 상태로 하고, 나머지 둘 사이에서 전압 측정수단이 상기 감압형 저항층(130)의 변형에 따른 상기 감압형 저항층(130)에 걸리는 전압을 측정하는 단계(S530); 및제어수단이 상기 측정된 전압에 기초하여 상기 감압형 저항층(130)의 물리량으로서, 상기 온도 변화에 대응하는 저항의 온도 보상값 및 상기 포인팅 오브젝트의 접촉에 대응하는 상기 접촉힘 중 어느 하나를 도출하는 단계(S540)를 포함하고,상기 개방 상태인 것은 상기 제 3신호선 전극(160)이고,상기 측정되는 전압은 상기 제 1신호선 전극(140)과 상기 제 2신호선 전극(150) 사이의 전압이며,상기 도출되는 물리량은 상기 온도 보상값인 것을 특징으로 하는 접촉힘 측정이 가능한 접촉저항형 센서의 이용방법 |
22 |
22 삭제 |
23 |
23 소정 갭(120)을 유지한 상태로 상호 평행하게 배열된 제 1기판(100) 및 제 2기판(110) 중 어느 하나가 온도 변화 또는 소정 포인팅 오브젝트의 접촉힘에 의해 변형되는 제 1변형단계(S510);상기 변형된 제 1기판(100) 또는 상기 변형된 제 2기판으로부터 열 또는 상기 접촉힘을 전달받아 상기 제 1기판(100)과 상기 제 2기판(110) 사이에 형성되어 있는 감압형 저항층(130)이 변형되는 제 2변형단계(S520);상기 제 1기판(100)에 형성된 제 3신호선 전극(160), 상기 제 2기판(110)에 형성되어 상기 감압형 저항층(130)에 연결된 제 1신호선 전극(140) 및 상기 제 2기판(110)에 형성되어 상기 감압형 저항층(130)에 연결된 제 2신호선 전극(150) 중 어느 하나를 개방 상태로 하고, 나머지 둘 사이에서 전압 측정수단이 상기 감압형 저항층(130)의 변형에 따른 상기 감압형 저항층(130)에 걸리는 전압을 측정하는 단계(S530); 및제어수단이 상기 측정된 전압에 기초하여 상기 감압형 저항층(130)의 물리량으로서, 상기 온도 변화에 대응하는 저항의 온도 보상값 및 상기 포인팅 오브젝트의 접촉에 대응하는 상기 접촉힘 중 어느 하나를 도출하는 단계(S540)를 포함하고,상기 개방 상태인 것은 상기 제 1신호선 전극(140)이고,상기 측정되는 전압은 상기 제 3신호선 전극(160)과 상기 제 2신호선 전극(170) 사이의 전압이며,상기 도출되는 물리량은 상기 접촉힘인 것을 특징으로 하는 접촉힘 측정이 가능한 접촉저항형 센서의 이용방법 |
24 |
24 삭제 |
지정국 정보가 없습니다 |
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패밀리정보가 없습니다 |
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국가 R&D 정보가 없습니다. |
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특허 등록번호 | 10-1169935-0000 |
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표시번호 | 사항 |
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1 |
출원 연월일 : 20090917 출원 번호 : 1020090087805 공고 연월일 : 20120806 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20120703 청구범위의 항수 : 22 유별 : G01L 1/16 발명의 명칭 : 접촉힘 측정이 가능한 접촉저항형 센서, 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 접촉저항형 센서, 그들 센서의 제조방법 및 그들 센서의 이용방법 존속기간(예정)만료일 : 20170726 |
순위번호 | 사항 |
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1 |
(권리자) 한국표준과학연구원 대전 유성구... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 451,500 원 | 2012년 07월 26일 | 납입 |
제 4 년분 | 금 액 | 366,800 원 | 2015년 06월 29일 | 납입 |
제 5 년분 | 금 액 | 366,800 원 | 2016년 06월 30일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
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1 | [특허출원]특허출원서 | 2009.09.17 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0571219-42 |
2 | 선행기술조사의뢰서 | 2010.12.14 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
3 | 선행기술조사보고서 | 2011.01.14 | 수리 (Accepted) | 9-1-2011-0002493-57 |
4 | 의견제출통지서 | 2011.06.17 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2011-0330910-48 |
5 | [명세서등 보정]보정서 | 2011.08.12 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2011-0626448-17 |
6 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2011.08.12 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0626395-96 |
7 | 의견제출통지서 | 2011.12.13 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2011-0736818-56 |
8 | [명세서등 보정]보정서 | 2012.02.08 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2012-0103778-36 |
9 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2012.02.08 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0103777-91 |
10 | 등록결정서 | 2012.07.03 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2012-0385780-11 |
11 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.01.09 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5004381-25 |
12 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2018.12.27 | 수리 (Accepted) | 4-1-2018-5266645-00 |
13 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2018.12.27 | 수리 (Accepted) | 4-1-2018-5266640-72 |
14 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2018.12.27 | 수리 (Accepted) | 4-1-2018-5266627-88 |
기술정보가 없습니다 |
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과제고유번호 | 1345095877 |
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세부과제번호 | K09002 |
연구과제명 | 기반측정표준선진화 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 기초기술연구회 |
연구주관기관명 | 한국표준과학연구원 |
성과제출연도 | 2009 |
연구기간 | 200901~200912 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 기초연구 |
6T분류명 | 기타 |
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심판사항 정보가 없습니다 |
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