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형광물질 혼합체 제조 장치, 형광물질 혼합체 균일도 검사 장치, 및 형광물질 혼합체 균일도 검사 방법

  • 기술번호 : KST2015179601
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 형광물질 혼합체 제조 장치, 형광물질 혼합체 균일도 검사 장치, 및 형광물질 혼합체의 균일도 검사 방법을 제공한다. 이 형광물질 혼합체 제조 장치는 형광물질 및 봉지재를 포함하는 혼합체를 담고 있는 혼합 용기, 혼합 용기에 삽입되어 혼합체를 균일하게 혼합하는 혼합부, 혼합체 내부에 삽입되어 여기광을 혼합체에 조사하고, 조사된 부분의 혼합체가 방출하는 신호광을 수집하는 광학 프로브들, 및 광학 프로브들에 여기광을 제공하고 신호광을 처리하는 광 처리부를 포함한다. 형광물질, 형광물질 혼합체, 형광체, 봉지재, 균일도, 검사, 광학 프로브
Int. CL B01F 7/16 (2006.01) B01F 15/00 (2006.01) G01N 21/00 (2006.01)
CPC B01F 7/16(2013.01) B01F 7/16(2013.01) B01F 7/16(2013.01) B01F 7/16(2013.01) B01F 7/16(2013.01)
출원번호/일자 1020090083760 (2009.09.07)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-1107566-0000 (2012.01.12)
공개번호/일자 10-2011-0026041 (2011.03.15) 문서열기
공고번호/일자 (20120125) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.09.07)
심사청구항수 22

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김승관 대한민국 대전광역시 유성구
2 박승남 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이평우 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 **길 **-*(역삼동, IT빌딩 *층)(특허법인 누리)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2009.09.07 수리 (Accepted) 1-1-2009-0547876-11
2 [대리인해임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Dismissal of Sub-agent] Report on Agent (Representative)		 2009.10.15 수리 (Accepted) 1-1-2009-0631364-40
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2011.02.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2011.03.18 수리 (Accepted) 9-1-2011-0023244-32
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2011.05.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0269924-66
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2011.05.31 수리 (Accepted) 1-1-2011-0409568-19
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2011.05.31 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0409593-40
8 등록결정서
Decision to grant		 2012.01.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0014241-12
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
형광물질 및 봉지재를 포함하는 혼합체를 담고 있는 혼합 용기; 상기 혼합 용기에 삽입되어 상기 혼합체를 균일하게 혼합하는 혼합부; 상기 혼합체 내부에 삽입되어 여기광을 상기 혼합체에 조사하고 상기 조사된 부분의 상기 혼합체가 방출하는 상기 여기광과 다른 파장의 신호광을 수집하는 광학 프로브들; 및 상기 광학 프로브들에 여기광을 제공하고 상기 신호광을 처리하는 광 처리부를 포함하고, 상기 광처리부는 상기 여기광과 신호광을 분리하는 분광부를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광물질 혼합체 제조 장치
2 2
형광물질 및 봉지재를 포함하는 혼합체를 담고 있는 혼합 용기; 상기 혼합 용기에 삽입되어 상기 혼합체를 균일하게 혼합하는 혼합부; 상기 혼합체 내부에 삽입되어 여기광을 상기 혼합체에 조사하고 상기 조사된 부분의 상기 혼합체가 방출하는 신호광을 수집하는 광학 프로브들; 및 상기 광학 프로브들에 여기광을 제공하고 상기 신호광을 처리하는 광 처리부를 포함하고, 상기 광 처리부는: 상기 광학 프로브들에 상기 여기광을 제공하는 광원부; 상기 광원부의 상기 여기광을 상기 광학 프로브들에게 분배하는 광커플러; 상기 광커플러와 상기 광학 프로브들 사이에 배치되어 상기 여기광의 광 경로를 제공하는 입력 도파로들; 상기 광학 프로브들의 상기 신호광을 감지하는 감지부; 상기 감지부와 상기 광학 프로브들 사이에 배치되어 신호광들의 광 경로를 제공하는 출력 도파로들; 및 상기 출력 도파로들 중에서 하나를 선택하여 상기 감지부에 상기 신호광을 제공하는 광스위치부를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광물질 혼합체 제조 장치
3 3
형광물질 및 봉지재를 포함하는 혼합체를 담고 있는 혼합 용기; 상기 혼합 용기에 삽입되어 상기 혼합체를 균일하게 혼합하는 혼합부; 상기 혼합체 내부에 삽입되어 여기광을 상기 혼합체에 조사하고 상기 조사된 부분의 상기 혼합체가 방출하는 신호광을 수집하는 광학 프로브들; 및 상기 광학 프로브들에 여기광을 제공하고 상기 신호광을 처리하는 광 처리부를 포함하고, 상기 광 처리부는: 상기 광학 프로브들에 상기 여기광을 제공하는 광원부; 상기 광원부의 상기 여기광을 상기 광학 프로브들에게 분배하는 입력 광커플러; 상기 입력 광커플러와 상기 광학 프로브들 사이에 배치되어 상기 여기광의 광 경로를 제공하는 입력 도파로들; 상기 광학 프로브들의 상기 신호광을 감지하는 감지부; 상기 감지부와 상기 광학 프로브들 사이에 배치되어 신호광들의 광 경로를 제공하는 출력 도파로들; 상기 입력 도파로들의 여기광 또는 상기 출력 도파로들의 출력광에 시간 지연을 제공하는 시간 지연부; 상기 출력 도파로의 출력광들 또는 상기 시간 지연부의 출력광들을 결합하는 출력 광커플러; 및 상기 출력 광커플러의 출력광 중에서 하나의 신호광을 선택하는 게이트부를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광물질 혼합체 제조 장치
4 4
제3 항에 있어서, 상기 광 처리부는: 펄스 발생부를 더 포함하고, 상기 펄스 발생부는 상기 여기광을 펄스 형태로 제공하고, 상기 펄스 발생부는 상기 게이트부와 동기화된 것을 특징으로 하는 형광물질 혼합체 제조 장치
5 5
제3 항에 있어서, 상기 광 처리부는: 펄스 발생부;및 변조기를 더 포함하고, 상기 변조기는 상기 펄스 발생부의 출력 신호를 입력받아 상기 여기광을 펄스 형태로 제공하고, 상기 펄스 발생부는 상기 게이트부와 상기 변조기와 동기화된 것을 특징으로 하는 형광물질 혼합체 제조 장치
6 6
제2 항에 있어서, 상기 광 처리부는 상기 감지부와 상기 광스위치부 사이에 배치된 분광부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 형광물질 혼합체 제조 장치
7 7
형광물질 및 봉지재를 포함하는 혼합체를 담고 있는 혼합 용기; 상기 혼합 용기에 삽입되어 상기 혼합체를 균일하게 혼합하는 혼합부; 상기 혼합체 내부에 삽입되어 여기광을 상기 혼합체에 조사하고 상기 조사된 부분의 상기 혼합체가 방출하는 신호광을 수집하는 광학 프로브들; 및 상기 광학 프로브들에 여기광을 제공하고 상기 신호광을 처리하는 광 처리부를 포함하고, 상기 광학 프로브들은: 중심부에 관통 홀을 포함하고 상기 혼합체에 삽입되는 지지부; 상기 지지부에 삽입되고 상기 혼합체에 상기 여기광을 제공하는 프로브 광섬유; 및 상기 프로브 광섬유의 일단과 고정 결합하고 상기 지지부의 일단에 배치되는 고정부를 포함하고, 상기 프로브 광섬유는 상기 고정부를 관통하여 배치되는 것을 특징으로 하는 형광물질 혼합체 제조 장치
8 8
제7 항에 있어서, 상기 프로브 광섬유의 타단에 결합하는 광분배기를 더 포함하되, 상기 광분배기는 방향성 결합기, 광 서큘레이터 또는 WDM 결합기인 것을 특징으로 하는 형광물질 혼합체 제조 장치
9 9
형광물질 및 봉지재를 포함하는 혼합체를 담고 있는 혼합 용기; 상기 혼합 용기에 삽입되어 상기 혼합체를 균일하게 혼합하는 혼합부; 상기 혼합체 내부에 삽입되어 여기광을 상기 혼합체에 조사하고 상기 조사된 부분의 상기 혼합체가 방출하는 신호광을 수집하는 광학 프로브들; 및 상기 광학 프로브들에 여기광을 제공하고 상기 신호광을 처리하는 광 처리부를 포함하고, 상기 혼합 용기에서 상기 광학 프로브들의 직선 운동을 제공하는 선형 운동부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 형광물질 혼합체 제조 장치
10 10
형광물질 및 봉지재를 포함하는 혼합체를 담고 있는 혼합 용기; 상기 혼합체 내부에 삽입되어 여기광을 혼합체에 조사하고 상기 조사된 부분의 혼합체가 방출하는 신호광을 수집하는 복수의 광학 프로브들; 및 상기 광학 프로브에 여기광을 제공하고 상기 신호광을 처리하는 광 처리부를 포함하고, 상기 광학 프로브들은 상기 혼합 용기에 삽입되어 상기 혼합체를 균일하게 혼합하는 것을 특징으로 하는 형광물질 혼합체 제조 장치
11 11
형광체 물질 및 봉지재를 포함하는 혼합체를 담고 있는 혼합 용기 내부의 상기 혼합체에 삽입되어 여기광을 상기 혼합체에 조사하고 상기 혼합체의 신호광을 수집하는 복수의 광학 프로브들; 상기 광학 프로브들에 상기 여기광을 제공하는 광원부; 상기 광원부의 상기 여기광을 입력받아 분배하는 광커플러; 상기 광커플러와 상기 광학 프로브들 사이에 배치되어 상기 여기광의 광 경로를 제공하는 입력 도파로들; 상기 광학 프로브들의 상기 신호광을 감지하는 감지부; 상기 감지부와 상기 광학 프로브들 사이에 배치되어 신호광들의 광 경로를 제공하는 출력 도파로들; 및 상기 출력 도파로들 중에서 하나를 선택하여 상기 감지부에 신호광을 제공하는 광스위치부를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광물질 혼합체 균일도 검사 장치
12 12
제 11 항에 있어서, 상기 감지부와 상기 광스위치 사이에 배치되어 상기 신호광을 분광하는 분광부; 및 상기 광스위치부를 제어하는 제어부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 형광물질 혼합체 균일도 검사 장치
13 13
제 11 항에 있어서, 상기 광학 프로브들은: 중심부에 관통 홀을 포함하고 상기 혼합체에 삽입되는 지지부; 상기 지지부에 삽입되고 상기 혼합체에 여기광을 제공하는 프로브 광섬유; 및 상기 프로브 광섬유의 일단과 고정 결합하고 상기 지지부의 일단에 배치되는 고정부를 포함하고, 상기 프로브 광섬유는 상기 고정부를 관통하여 배치되는 것을 특징으로 하는 형광물질 혼합체 균일도 검사 장치
14 14
제 13 항에 있어서, 상기 프로브 광섬유의 타단, 상기 입력 도파로 및 상기 출력 도파로에 결합하는 광분배기를 더 포함하되, 상기 광분배기는 방향성 결합기 또는 WDM 결합기인 것을 특징으로 하는 형광물질 혼합체 균일도 검사 장치
15 15
제 11 항에 있어서, 상기 광학 프로브들은: 중심부에 관통 홀을 포함하고 상기 혼합체에 삽입되는 지지부; 상기 지지부에 삽입되고 상기 혼합체에 상기 여기광을 제공하고 입력 도파로에 연결된 제1 프로브 광섬유; 상기 지지부에 삽입되고 상기 혼합체의 상기 형광을 수집하고 출력 도파로에 연결된 제2 프로브 광섬유; 및 상기 제1 및 제2 프로브 광섬유의 일단과 고정 결합하고 상기 지지부의 일단에 배치되는 고정부를 포함하고, 상기 제1 및 제2 프로브 광섬유는 상기 고정부를 관통하여 배치되는 것을 특징으로 하는 형광물질 혼합체 균일도 검사 장치
16 16
제 11 항에 있어서, 상기 광학 프로브들은: 중심부에 관통 홀을 포함하고 상기 혼합체에 삽입되는 지지부; 상기 지지부에 삽입되고 상기 혼합체에 상기 여기광을 제공하는 프로브 광섬유; 상기 프로브 광섬유의 일단과 고정 결합하고 상기 지지부의 일단에 배치되는 고정부; 및 상기 여기광을 상기 프로브 광섬유에 제공하고, 상기 신호광을 상기 출력 도파로에 제공하는 광 서큘레이터를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광물질 혼합체 균일도 검사 장치
17 17
제 11 항에 있어서, 상기 광학 프로브들은: 중심부에 관통 홀을 포함하고 상기 혼합체에 삽입되는 지지부; 상기 지지부에 삽입되고 상기 혼합체에 여기광을 제공하는 프로브 광섬유; 상기 프로브 광섬유의 일단과 고정 결합하고 상기 지지부의 일단에 배치되는 고정부; 및 상기 여기광을 상기 프로브 광섬유에 제공하고, 상기 신호광을 상기 출력 도파로에 제공하는 광분배부를 포함하고, 상기 프로브 광섬유의 일단은 가늘어지는 것을 특징으로 하는 형광물질 혼합체 균일도 검사 장치
18 18
제 17 항에 있어서, 상기 광분배부는 광결합기 또는 다이크로익 빔스플리터(Dichroic Beam Splitter)인 것을 특징으로 하는 형광물질 혼합체 균일도 검사 장치
19 19
형광체 물질 및 봉지재를 포함하는 혼합체를 담고 있는 혼합 용기 내부의 상기 혼합체에 삽입되어 여기광을 상기 혼합체에 조사하고 상기 혼합체의 신호광을 수집하는 복수의 광학 프로브들; 상기 광학 프로브들에 상기 여기광을 제공하는 광원부; 상기 광원부의 상기 여기광을 복수의 광학 프로브들에게 분배하는 입력 광커플러; 상기 광커플러와 상기 광학 프로브들 사이에 배치되어 상기 여기광의 광 경로를 제공하는 입력 도파로들; 상기 광학 프로브들의 상기 신호광을 감지하는 감지부; 상기 감지부와 상기 광학 프로브들 사이에 배치되어 신호광들의 광 경로를 제공하는 출력 도파로들; 상기 입력 도파로들의 여기광 또는 상기 출력 도파로들의 출력광에 시간 지연을 제공하는 시간 지연부; 상기 시간 지연부의 출력광들을 연결하는 결합하는 출력 광커플러; 및 상기 출력 광커플러의 출력광 중에서 하나의 신호광을 선택하는 게이트부를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광물질 혼합체 균일도 검사 장치
20 20
형광물질 및 봉지재를 포함하는 혼합체를 혼합 용기에 제공하는 단계; 복수의 위치에 여기광들을 혼합체에 조사하고 상기 조사된 부분의 혼합체가 방출하는 신호광들을 수집하는 단계; 상기 신호광들에 섞여들여오는 상기 여기광들을 제거하는 단계; 및 상기 신호광들을 처리하여 형광물질의 공간적 농도 분포를 추출하는 단계를 포함하는 형광물질 혼합체 균일도 검사 방법
21 21
형광물질 및 봉지재를 포함하는 혼합체를 혼합 용기에 제공하는 단계; 복수의 위치에 여기광들을 혼합체에 조사하고 상기 조사된 부분의 혼합체가 방출하는 상기 여기광과 다른 파장의 신호광들을 수집하는 단계; 및 상기 신호광들을 처리하여 형광물질의 공간적 농도 분포를 추출하는 단계를 포함하고, 상기 신호광들을 처리하여 형광물질의 공간적 농도 분포를 추출하는 단계는: 상기 신호광들 중에서 하나를 차례로 선택하는 단계; 상기 선택된 신호광을 감지하는 단계; 및 상기 신호광을 처리하여 형광물질의 농도를 추출하는 단계를 포함하고, 광학 프로브들은 상기 혼합체에 삽입되어 상기 여기광을 상기 혼합체에 제공하고, 상기 혼합체가 방출하는 신호광들을 수집하고, 상기 광학 프로브들은 광 파이버를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광물질 혼합체 균일도 검사 방법
22 22
형광물질 및 봉지재를 포함하는 혼합체를 담고 있는 혼합 용기; 상기 혼합 용기에 삽입되어 상기 혼합체를 균일하게 혼합하고 상기 혼합체 내부에 삽입되어 여기광을 상기 혼합체에 조사하고 상기 조사된 부분의 혼합체가 방출하는 신호광을 수집하는 하나 이상의 광학 프로브; 및 상기 광학 프로브에 여기광을 제공하고 상기 신호광을 처리하는 광 처리부를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광물질 혼합체 제조 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.