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투시창 세정 장치, 투시창 세정 방법, 및 공정 모니터링 방법

  • 기술번호 : KST2015179659
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 투시창 세정 장치, 투시창 세정 방법, 및 공정 모니터링 방법을 제공한다. 이 투시창 세정 장치는 투시창을 포함하는 진공 용기, 진공 용기의 내부 또는 외부에 배치되어 진공 용기의 내부에 플라즈마를 발생시키는 플라즈마 발생 수단, 투시창의 외부에 배치된 전극, 및 전극에 전력을 인가하는 전원을 포함한다. 플라즈마는 투시창을 충격하여 투시창의 내부 측면에 부착된 부산물을 제거한다.
Int. CL B08B 7/00 (2006.01) B08B 7/04 (2006.01)
CPC B08B 7/0035(2013.01) B08B 7/0035(2013.01) B08B 7/0035(2013.01) B08B 7/0035(2013.01)
출원번호/일자 1020100093538 (2010.09.28)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-1235796-0000 (2013.02.15)
공개번호/일자 10-2012-0032101 (2012.04.05) 문서열기
공고번호/일자 (20130221) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.09.28)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 성대진 대한민국 충청남도 공주시
2 김정형 대한민국 대전광역시 동구
3 유신재 대한민국 대전광역시 유성구
4 신용현 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이평우 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 **길 **-*(역삼동, IT빌딩 *층)(특허법인 누리)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.09.28 수리 (Accepted) 1-1-2010-0621975-61
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2012.04.06 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2012.05.01 수리 (Accepted) 9-1-2012-0035582-19
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.07.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0421518-00
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.09.17 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0750209-88
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.09.17 수리 (Accepted) 1-1-2012-0750260-07
7 등록결정서
Decision to grant
2013.01.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0073621-10
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
투시창을 포함하는 진공 용기;상기 진공 용기의 내부 또는 외부에 배치되어 상기 진공 용기의 내부에 플라즈마를 발생시키는 플라즈마 발생 수단;상기 투시창의 외부에 배치된 전극; 상기 투시창 및 상기 전극을 통과한 상기 플라즈마의 방출광을 수광하는 광학부; 및상기 플라즈마가 발생되는 동안 상기 전극에 음의 전압을 인가하는 전원을 포함하고,상기 전극은 투명전극이고,상기 플라즈마는 상기 진공용기 내에서 공정 진행 또는 공정 모니터링을 위하여 생성되고,상기 플라즈마에 의한 방출광은 상기 광학부에서 분석되어 공정 모니터링을 수행하고,상기 플라즈마는 상기 전극에 의하여 상기 투시창을 충격하여 상기 투시창의 내부 측면에 부착된 부산물을 제거하는 것을 특징으로 하는 공정 모니터링 장치
2 2
삭제
3 3
제1 항에 있어서,상기 진공 용기는 배기라인을 포함하고,상기 투시창은 배기라인에 배치되는 것을 특징으로 하는 공정 모니터링 장치
4 4
삭제
5 5
제1 항에 있어서,상기 진공 용기는 가스를 분배하는 가스 분배수단을 더 포함하고,상기 가스 분배 수단은 플라즈마 발생 수단과 일체화된 것을 특징으로 하는 공정 모니터링 장치
6 6
제1 항에 있어서,상기 플라즈마 발생 수단은 DC 전력, AC 전력, RF 전력, 또는 초고주파 전력 중에서 적어도 하나를 공급받는 것을 특징으로 하는 공정 모니터링 장치
7 7
제1 항에 있어서,상기 진공 용기는 기판 홀더; 및상기 기판 홀더 상에 장착되는 기판을 포함하고,상기 진공 용기는 증착 공정, 식각 공정, 이온 주입 공정, 및 표면 처리 공정 중에서 적어도 하나를 수행하는 것을 특징으로 하는 공정 모니터링 장치
8 8
진공 용기에 가스를 공급하고 배기하는 단계;상기 진공용기 내에서 공정 진행 또는 공정 모니터링을 위한 상기 진공 용기 내에 플라즈마를 생성하는 단계; 상기 플라즈마를 생성되는 동안 상기 진공 용기에 배치된 투시창의 외부 측면에 배치된 투명 전극에 음의 전압을 인가하여 상기 플라즈마는 상기 투명 전극에 의하여 상기 투시창을 충격하여 상기 투시창의 내부 측면에 부착된 부산물을 제거하는 단계; 및상기 투시창 및 상기 투명 전극을 통과한 상기 플라즈마의 방출광을 분석하여 공정 모니터링을 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 공정 모니터링 방법
9 9
제8 항에 있어서,상기 진공 용기는 배기라인을 포함하고,상기 투시창은 배기라인에 배치되는 것을 특징으로 하는 공정 모니터링 방법
10 10
삭제
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 한국표준과학연구원 국가연구개발사업 차세대 반도체용 진공공정의 실시간 측정/진단/제어 기술개발(총괄)