맞춤기술찾기

이전대상기술

시료의 적외선 광학 특성 동시 측정방법

  • 기술번호 : KST2015179663
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 시료의 적외선 광학 특성 동시 측정방법에 관한 것으로, ⅰ) 흑체의 복사량(Lb)을 측정하여 장치의 민감도(R(λ))를 산출하는 단계, ⅱ) 제1기판의 제1복사율(εsub1) 및 제2기판의 제2복사율(εsub2)을 산출하는 단계, ⅲ) 상기 제1복사율을 갖는 상기 제1기판을 히터 및 측정 대상 시료 사이에 위치시켜 소정 온도에서 상기 시료의 제1복사량을 산출하는 단계, ⅳ) 상기 제2복사율을 갖는 상기 제2기판을 상기 히터 및 상기 측정 대상 시료 사이에 위치시켜 상기 소정 온도에서 상기 시료의 제2복사량을 산출하는 단계, ⅴ) 상기 제1기판의 제1 겉보기 복사율(ε*1) 및 상기 제2기판의 제2 겉보기 복사율(ε*2)을 산출하는 단계 및 ⅶ) 상기 제1복사율(εsub1), 상기 제2복사율(εsub2), 상기 제1 겉보기 복사(ε*1)율 및 상기 제2 겉보기 복사율(ε*2)을 이용하여 상기 시료의 복사율(εs), 투과율(Ts) 및 반사율(rs)을 산출하는 단계를 포함한다.
Int. CL G01N 25/00 (2006.01)
CPC G01N 25/20(2013.01) G01N 25/20(2013.01) G01N 25/20(2013.01)
출원번호/일자 1020100093965 (2010.09.28)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-1237958-0000 (2013.02.21)
공개번호/일자 10-2012-0032362 (2012.04.05) 문서열기
공고번호/일자 (20130326) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.09.28)
심사청구항수 5

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 이근우 대한민국 대전광역시 유성구
2 전상호 대한민국 대전광역시 서구
3 유용심 대한민국 대전광역시 유성구
4 황지수 대한민국 대전광역시 서구
5 박승남 대한민국 대전광역시 유성구
6 박철웅 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 정수영 대한민국 서울특별시 송파구 법원로**, ***호, ***호(문정동,문정법조프라자) (특허법인명)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대전 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.09.28 수리 (Accepted) 1-1-2010-0625403-61
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.05.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0301118-69
3 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2012.07.23 수리 (Accepted) 1-1-2012-0584471-28
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.08.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0677670-66
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.08.23 수리 (Accepted) 1-1-2012-0677669-19
6 등록결정서
Decision to grant
2012.12.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0750347-16
7 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2013.02.04 불수리 (Non-acceptance) 1-1-2013-0103892-78
8 서류반려이유통지서
Notice of Reason for Return of Document
2013.02.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2013-0015108-18
9 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2013.02.12 수리 (Accepted) 1-1-2013-0123265-29
10 서류반려통지서
Notice for Return of Document
2013.03.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2013-0027307-12
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
ⅰ) 흑체의 복사량(Lb)을 측정하여 장치의 민감도(R(λ))를 산출하는 단계;ⅱ) 제1기판의 제1복사율(εsub1) 및 제2기판의 제2복사율(εsub2)을 산출하는 단계;ⅲ) 상기 제1복사율을 갖는 상기 제1기판을 히터 및 측정 대상 시료 사이에 위치시켜 소정 온도에서 상기 시료의 제1복사량을 산출하는 단계;ⅳ) 상기 제2복사율을 갖는 상기 제2기판을 상기 히터 및 상기 측정 대상 시료 사이에 위치시켜 상기 소정 온도에서 상기 시료의 제2복사량을 산출하는 단계;ⅴ) 상기 제1기판의 제1 겉보기 복사율(ε*1) 및 상기 제2기판의 제2 겉보기 복사율(ε*2)을 산출하는 단계; 및ⅶ) 상기 제1복사율(εsub1), 상기 제2복사율(εsub2), 상기 제1 겉보기 복사(ε*1)율 및 상기 제2 겉보기 복사율(ε*2)을 이용하여 상기 시료의 복사율(εs), 투과율(Ts) 및 반사율(rs)을 산출하는 단계를 포함하고;상기 단계 ⅶ)은하기 [수학식 7]로부터 상기 시료의 투과율(Ts), 복사율(εs) 및 반사율(rs)을 산출하는 것을 특징으로 하는 시료의 적외선 광학 특성 동시 측정방법
2 2
삭제
3 3
제1항에 있어서,상기 제1복사량은 제1 겉보기 복사량(Apparent radiation)이거나 상기 제1기판 및 상기 시료의 복사량을 포함하는 복사량(Ssub1)이고,상기 제2복사량은 제2 겉보기 복사량이거나 상기 제2기판 및 상기 시료의 복사량을 포함하는 복사량(Ssub2)인 것을 특징으로 하는 시료의 적외선 광학 특성 동시 측정방법
4 4
제1항에 있어서,상기 측정 대상 시료는 반투명 시료, 투명 시료 또는 세라믹 시료인 것을 특징으로 하는 시료의 적외선 광학 특성 동시 측정방법
5 5
제1항에 있어서,상기 장치의 민감도는 Two-temperature method(TTM)를 이용하여 아래 [수학식 8]로부터 산출하는 것을 특징으로 하는 시료의 적외선 광학 특성 동시 측정방법
6 6
제1항에 있어서,상기 제1기판은 금을 도포한 기판을 포함하고, 상기 제2기판은 검정 페인트를 도포한 기판을 포함하는 것을 특징으로 하는 시료의 적외선 광학 특성 동시 측정방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육과학기술부 한국표준과학연구원 한국표준과학연구원연구운영비지원 광측정 세계선도 연구
2 교육과학기술부 한국표준과학연구원 첨단융합기술개발 초고온 하이브리드 레비테이션 개발 및 초고온 물성 연구