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흑체의 복사량(Lb)에 의거하여 실험장치의 민감도(R)를 산출하는 단계;소정 온도(T*)에서 고복사율을 가지는 기판 물질(A)의 복사율(εA) 및 저복사율을 가지는 기판 물질(B)의 복사율(εB)을 산출하는 단계;상기 고복사율을 가지는 기판 물질(A)을 반투명 또는 투명시료의 뒷면에 위치하게 하여 소정 온도(T)에서의 반투명 또는 투명시료의 복사 신호(SA)을 산출하는 단계;상기 저복사율을 가지는 기판 물질(B)을 상기 반투명 또는 투명시료의 뒷면에 위치하게 하여 상기 소정 온도(T)에서의 반투명 또는 투명시료의 복사 신호(SB)을 산출하는 단계;상기 산출된 상기 실험장치의 민감도(R),상기 고복사율 기판 물질(A)의 복사율(εA), 상기 저복사율 기판 물질(B)의 복사율(εB), 상기 고복사율 기판 물질(A)에 대한 상기 소정 온도(T)에서의 시료의 복사 신호(SA),및 상기 저복사율 기판 물질(B)에 대한 상기 소정 온도(T)에서의 시료의 복사 신호(SB)를 이용하여 상기 반투명 또는 투명시료의 투과율(tS)을 산출하는 단계;상기 산출된 상기 투과율(tS)을 이용하여 상기 반투명 또는 투명시료의 복사율(εS)을 산출하는 단계; 및상기 산출된 상기 투과율(tS)및 상기 복사율(εS)을 이용하여 상기 반투명 또는 투명시료의 반사율(rS)을 산출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반투명 또는 투명시료의 광학적 특성 측정 방법
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제1항에 있어서,고온을 h, 저온을 c라 하는 경우, 상기 실험장치의 민감도(R)는, 이고 여기서, TC는 저온의 온도, Th는 고온의 온도, Sh는 고온에서의 흑체의 복사 신호, SC는 저온에서의 흑체의 복사 신호, Lb는 해당 온도에서의 플랑크 복사량을 특징으로 하는 반투명 또는 투명시료의 광학적 특성 측정 방법
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제1항에 있어서,상기 고복사율을 가지는 기판 물질(A)은 검정색 페인트를 칠한 기판을 포함하고 상기 저복사율을 가지는 기판 물질(B)은 금 도금을 한 기판을 포함하는 것을 특징으로 하는 반투명 또는 투명시료의 광학적 특성 측정 방법
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제1항에 있어서,상기 소정 온도(T*)에서 흑체의 복사량을 L*, 배경복사량을 LO, 소정 주변 온도(Tsur)에서 주변복사량을 Lsur이라 할 경우, 상기 고복사율 기판 물질(A)에 대한 상기 소정 온도(T)에서의 시료의 복사량(SSA)은, 이고여기서, R은 상기 실험장치의 민감도, εs는 상기 반투명 또는 투명시료의 복사율, Lb는 상기 흑체의 복사량, tS는 상기 반투명 또는 투명시료의 투과율, εA는 상기 소정 온도(T*)에서 고복사율 기판 물질(A)의 복사율을 의미하는 것을 특징으로 하는 반투명 또는 투명시료의 광학적 특성 측정 방법
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제1항에 있어서,상기 소정 온도(T*)에서 흑체의 복사량을 L*, 배경복사량을 LO, 소정 주변 온도(Tsur)에서 주변복사량을 Lsur이라 할 경우, 상기 저복사율 기판 물질(B)에 대한 상기 소정 온도(T)에서의 시료의 복사량(SSB)은, 이고여기서, R은 상기 실험장치의 민감도, εs는 상기 반투명 또는 투명시료의 복사율, Lb는 상기 흑체의 복사량, tS는 상기 반투명 또는 투명시료의 투과율, εB는 상기 소정 온도(T*)에서 저복사율 기판 물질(B)의 복사율을 의미하는 것을 특징으로 하는 반투명 또는 투명시료의 광학적 특성 측정 방법
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제1항에 있어서,상기 반투명 또는 투명시료의 투과율(tS)은, 상기 고복사율 기판 물질(A)에 대한 상기 소정 온도(T)에서의 시료의 복사신호(SA)및 상기 저복사율 기판 물질(B)에 대한 상기 소정 온도(T)에서의 시료의 복사신호(SB)의 두 식을 연립하여 산출하고 이며여기서, R은 상기 실험장치의 민감도, εA는 상기 소정 온도(T*) 에서상기 고복사율 기판 물질(A)의 복사율, L*는 상기 소정 온도(T*)에서 상기 흑체의 복사량, εB는 상기 소정 온도(T*)에서 상기 저복사율 기판 물질(B)의 복사율을 특징으로 하는 반투명 또는 투명시료의 광학적 특성 측정 방법
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제1항에 있어서, 상기 반투명 또는 투명시료의 복사율(εS)은, 이고여기서, S는 상기 고복사율 기판 물질(A)에 대한 상기 소정 온도(T)에서 시료의 복사 신호, Sh는 고온에서의 상기 흑체의 복사 신호, SC는 저온에서의 상기 흑체의 복사 신호, TC는 저온의 온도, Th는 고온의 온도, Tsur는 주변의 온도, Lsur는 주변 복사량, Lb는 상기 흑체의 복사량, tS는 상기 반투명 또는 투명시료의 투과율, εA는 상기 소정 온도(T*)에서 고복사율 기판 물질(A)의 복사율, L*는 상기 소정 온도(T*)에서 흑체의 복사량을 의미하는 것을 특징으로 하는 반투명 또는 투명시료의 광학적 특성 측정 방법
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제1항에 있어서,상기 반투명 또는 투명시료의 반사율(rS)은, 키르히호프의 법칙(Kirchhoff''s Law)에 따라 인 것을 특징으로 하는 반투명 또는 투명시료의 광학적 특성 측정 방법
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제1항에 있어서,상기 반투명 또는 투명시료는 실리콘 내마모성 코팅(wear coating)을 위한 알루미늄 옥사이드(Al2O3), 산화 마그네슘(MgO), 및 실리콘 옥사이드(SiO2)를 포함하는 것을 특징으로 하는 반투명 또는 투명시료의 광학적 특성 측정 방법
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제1항 내지 제9항 중 어느 한 항의 방법을 실행시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체
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