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레이저 다중 선로 공정에 의한 웨이퍼 미세 가공 방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2015179880
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 목적은 웨이퍼 또는 박막이 적층된 웨이퍼로 형성되는 가공 대상물에, 다중 광을 조사하여 패턴을 형성하거나 절단을 수행함으로써 공정 정밀도 및 공정 품질을 극대화시키는, 레이저 다중 선로 공정에 의한 웨이퍼 미세 가공 방법 및 장치를 제공함에 있다. 보다 상세하게는, 본 발명은 둘 혹은 그 이상의 레이저 빔을 박형 웨이퍼 혹은 웨이퍼위에 적층된 박막의 상부에 직접 혹은 간접적으로 조사함으로써, 가공 대상물의 변형을 최소화함과 동시에 레이저 자체에서 발생하는 충격파를 수반하게 하여 가공 대상물을 절단 혹은 패터닝하는, 레이저 다중 선로 공정에 의한 웨이퍼 미세 가공 방법 및 장치를 제공함에 있다.본 발명의 레이저 다중 선로 공정에 의한 웨이퍼 미세 가공 방법은, 웨이퍼(510) 또는 박막(520)이 적층된 웨이퍼(510)로 형성되는 가공 대상물(500)에 패턴을 형성하거나 절단을 수행하는 미세 가공 방법에 있어서, 레이저 및 상기 가공 대상물(500)의 특성에 따라 결정되는 소정 간격(D)으로 서로 이격된 다중의 레이저 광이 상기 가공 대상물(500)의 표면 상에 패턴 형상에 상응하도록 조사되어 다중 선로를 형성시키고, 상기 형성된 다중 선로의 내측부가 패턴 형성 과정에서 발생하는 충격파(shockwave) 에너지에 의해 자발적으로 제거되어 패턴이 형성되거나 또는 다중 선로 부위가 절단되어 절단이 수행되도록 하는 것을 특징으로 한다.
Int. CL H01L 21/301 (2006.01) H01L 21/78 (2006.01)
CPC B23K 26/359(2013.01) B23K 26/359(2013.01) B23K 26/359(2013.01) B23K 26/359(2013.01) B23K 26/359(2013.01)
출원번호/일자 1020120074367 (2012.07.09)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2012-0090904 (2012.08.17) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 취하
심사진행상태 취하
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자 10-2010-0099937 (2010.10.13)
관련 출원번호 1020100099937
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정세채 대한민국 대전광역시 유성구
2 양지상 대한민국 대전광역시 유성구
3 이흥순 대한민국 대전광역시 중구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김종관 대한민국 대전광역시 서구 한밭대로 ***번지 (둔산동, 사학연금회관) **층(특허법인 플러스)
2 박창희 대한민국 대전광역시 서구 한밭대로 ***번지 (둔산동, 사학연금회관) **층(특허법인 플러스)
3 권오식 대한민국 대전광역시 서구 한밭대로 ***번지 (둔산동, 사학연금회관) **층(특허법인 플러스)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [분할출원]특허출원서
[Divisional Application] Patent Application
2012.07.09 취하 (Withdrawal) 1-1-2012-0545350-54
2 협의요구서
Request for Consultation
2012.11.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0716015-87
3 [특허 등 절차 취하]취하(포기)서
[Withdrawal of Procedure such as Patent, etc.] Request for Withdrawal (Abandonment)
2013.01.24 수리 (Accepted) 1-1-2013-0070151-02
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
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번호 청구항
1 1
웨이퍼(510) 또는 박막(520)이 적층된 웨이퍼(510)로 형성되는 가공 대상물(500)에 패턴을 형성하거나 절단을 수행하는 미세 가공 방법에 있어서,레이저 및 상기 가공 대상물(500)의 특성에 따라 결정되는 소정 간격(D)으로 서로 이격된 다중의 레이저 광이 동시에 상기 가공 대상물(500)의 표면 상에 패턴 형상에 상응하도록 조사되어 다중 선로를 형성시키고, 상기 형성된 다중 선로의 내측부가 패턴 형성 과정에서 발생하는 충격파(shockwave) 에너지에 의해 자발적으로 제거되어, 제거된 부위 하부에서의 결함을 방지하면서 패턴이 형성되거나 또는 다중 선로 부위가 절단되어 절단이 수행되도록 하며,가공 시 가공 부위의 열적 변형이 방지되도록, 상기 레이저 광은 펨토초, 피코초, 나노초 중 선택되는 어느 한 가지 펄스폭을 가지는 것을 특징으로 하는 레이저 다중 선로 공정에 의한 웨이퍼 미세 가공 방법
2 2
제 1항에 있어서, 상기 소정 간격(D)은하기의 수학식에 따라 결정되는 것을 특징으로 하는 레이저 다중 선로 공정에 의한 웨이퍼 미세 가공 방법
3 3
제 1항에 있어서, 상기 미세 가공 방법은자외선 영역 파장 이하의 파장을 가지는 레이저 광을 사용하여 가공을 수행하는 것을 특징으로 하는 레이저 다중 선로 공정에 의한 웨이퍼 미세 가공 방법
4 4
제 1항에 있어서, 상기 미세 가공 방법은다중의 레이저 광이 상기 가공 대상물(500)의 표면 상에 동시 선형 조사되어 다중 선로가 형성될 때,상기 가공 대상물(500) 표면에 압축 가스가 분사되어 초음속 단열 팽창을 통해 상기 가공 대상물(500) 표면이 직접 냉각되며, 상기 가공 대상물(500) 표면의 이물질 및 가공 부산물이 제거되도록 하는 것을 특징으로 하는 레이저 다중 선로 공정에 의한 웨이퍼 미세 가공 방법
5 5
제 1항에 있어서, 상기 미세 가공 방법은레이저 광의 진행 방향에 대하여 레이저 편광이 수직이 되도록 하여 상기 가공 대상물(500) 표면에 편광된 레이저가 조사되도록 하는 것을 특징으로 하는 레이저 다중 선로 공정에 의한 웨이퍼 미세 가공 방법
6 6
제 1항에 있어서, 상기 미세 가공 방법은2중 광을 사용하여 가공을 수행하는 것을 특징으로 하는 레이저 다중 선로 공정에 의한 웨이퍼 미세 가공 방법
7 7
웨이퍼(510) 또는 박막(520)이 적층된 웨이퍼(510)로 형성되는 가공 대상물(500)에 패턴을 형성하거나 절단을 수행하는 미세 가공 장치(100)에 있어서,상기 미세 가공 장치(100)는, 레이저 및 상기 가공 대상물(500)의 특성에 따라 결정되는 소정 간격(D)으로 서로 이격된 다중의 레이저 광을 동시에 상기 가공 대상물(500) 표면 상에 조사하여 가공을 수행하는 광 조사부(110), 상기 가공 대상물(500)이 그 위에 배치되는 스테이지(120), 및 상기 광 조사부(110) 및 상기 스테이지(120)의 상대 위치를 이동시키는 이동수단(130)을 포함하여 이루어지되,상기 광 조사부(110)에서 조사되는 다중 광이 상기 가공 대상물(500)의 표면 상에 패턴 형상에 상응하도록 조사되어 다중 선로를 형성시키고, 상기 형성된 다중 선로의 내측부가 패턴 형성 과정에서 발생하는 충격파(shockwave) 에너지에 의해 자발적으로 제거되어 패턴이 형성되거나 또는 다중 선로 부위가 절단되어 절단이 수행되며,상기 광 조사부(110)는, 레이저 광원(111); 상기 레이저 광원(111)으로부터 발산된 레이저 기본 광을 비선광학결정으로 통과시켜 최소한 2차 이상의 다차 조화파 광을 발생시키는 SHG(second harmonic generator, 112); 상기 SHG(112)를 통과하여 나온 광을 기본 광과 다차 조화파 광으로 분리하는 광 분리기(beam splitter, 113); 상기 광 분리기(113)를 통과하여 나온 기본 광 및 다차 조화파 광의 광경로를 조절하여 소정 간격 이격시키는 광학계(114); 상기 광학계(114)를 통과하여 나온 기본 광 및 다차 조화파 광을 합치는 광 결합기(beam combiner, 115); 상기 광 결합기(115)를 통과하여 나온 서로 소정 간격 이격된 기본 광 및 다차 조화파 광을 상기 가공 대상물(500) 표면 상에 조사 집속하는 광 집속기(116); 를 포함하여 이루어지고,가공 시 가공 부위의 열적 변형이 방지되도록, 상기 레이저 광은 펨토초, 피코초, 나노초 중 선택되는 어느 한 가지 펄스폭을 가지는 것을 특징으로 하는 레이저 다중 선로 공정에 의한 웨이퍼 미세 가공 장치
8 8
제 7항에 있어서, 상기 소정 간격(D)은하기의 수학식에 따라 결정되는 것을 특징으로 하는 레이저 다중 선로 공정에 의한 웨이퍼 미세 가공 장치
9 9
제 7항에 있어서, 상기 광 조사부(110)는자외선 영역 파장 이하의 파장을 가지는 레이저 광을 발생시키는 것을 특징으로 하는 레이저 다중 선로 공정에 의한 웨이퍼 미세 가공 장치
10 10
제 7항에 있어서, 상기 미세 가공 장치(100)는압축 가스를 분사하여 초음속 단열 팽창을 통해 웨이퍼 표면을 직접 냉각하며, 상기 가공 대상물(500) 표면의 이물질 및 가공 부산물을 제거하는 노즐(140);을 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 레이저 다중 선로 공정에 의한 웨이퍼 미세 가공 장치
11 11
제 7항에 있어서, 상기 광 조사부(110)는레이저 광의 진행 방향에 대하여 레이저 편광이 수직이 되도록 하여 상기 가공 대상물(500) 표면에 편광된 레이저가 조사되도록 하는 것을 특징으로 하는 레이저 다중 선로 공정에 의한 웨이퍼 미세 가공 장치
12 12
제 7항에 있어서, 상기 광 조사부(110)는2중 광을 발생시켜 조사하는 것을 특징으로 하는 레이저 다중 선로 공정에 의한 웨이퍼 미세 가공 장치
13 13
제 7항에 있어서, 상기 광 분리기(113)는이색성 광 분리기(dichroic beam splitter)로 이루어지는 것을 특징으로 하는 레이저 다중 선로 공정에 의한 웨이퍼 미세 가공 장치
14 14
제 7항에 있어서, 상기 광 결합기(115)는이색성 광 분리기(dichroic beam splitter)로 이루어지는 것을 특징으로 하는 레이저 다중 선로 공정에 의한 웨이퍼 미세 가공 장치
지정국 정보가 없습니다
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1 KR101282053 KR 대한민국 FAMILY
2 WO2012050376 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY
3 WO2012050376 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

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