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비선형 파라미터 측정 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2015179910
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 비선형 파라미터 측정 장치 및 방법이 개시된다. 비선형 파라미터 측정 장치는 초음파 신호를 이용하여 피측정체의 비선형 파라미터를 측정하는 장치로서 피측정체의 일측에 연결되어 피측정체로 초음파 신호를 입사시키는 초음파 버퍼부와, 톤-버스트를 발생시켜 초음파 신호를 생성하는 초음파 생성부와, 초음파 버퍼부에 연결되고, 초음파 생성부에서 생성된 초음파 신호를 초음파 버퍼부에 입사시키는 탐촉자와, 초음파 버퍼부에 레이저를 조사하여 피측정체로 입사되는 초음파 신호를 측정하는 입력 초음파 신호 측정부와, 피측정체의 타측에 레이저를 조사하여 피측정체로부터 출력되는 초음파 신호를 측정하는 출력 초음파 신호 측정부와, 입력 초음파 신호 측정부 및 출력 초음파 신호 측정부에서 측정된 초음파 신호에 기초하여 피측정체의 비선형 파라미터를 산출하는 비선형 파라미터 산출부를 포함하여 구성된다. 따라서, 정확한 비선형 파라미터를 산출할 수 있다.
Int. CL G01B 11/00 (2006.01) G01N 29/00 (2006.01)
CPC G01N 29/04(2013.01) G01N 29/04(2013.01) G01N 29/04(2013.01)
출원번호/일자 1020120151976 (2012.12.24)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-1391141-0000 (2014.04.25)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20140502) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.12.24)
심사청구항수 17

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 서대철 대한민국 대전 유성구
2 조승현 대한민국 세종 누리로 **, *
3 박춘수 대한민국 대전 유성구
4 이승석 대한민국 대전 유성구
5 성영민 대한민국 부산 영도구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 정안 대한민국 서울특별시 강남구 선릉로 *** ***층(논현동,썬라이더빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.12.24 수리 (Accepted) 1-1-2012-1070319-64
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.12.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2014.01.10 수리 (Accepted) 9-1-2014-0003064-66
5 등록결정서
Decision to grant
2014.02.05 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0088371-86
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
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번호 청구항
1 1
초음파 신호를 이용하여 피측정체의 비선형 파라미터(nonlinear parameter)를 측정하는 장치로서,상기 피측정체의 일측에 연결되어 상기 피측정체로 상기 초음파 신호를 입사시키는 초음파 버퍼부;톤-버스트(tone-burst)를 발생시켜 상기 초음파 신호를 생성하는 초음파 생성부;상기 초음파 버퍼부에 연결되고, 상기 초음파 생성부에서 생성된 상기 초음파 신호를 상기 초음파 버퍼부에 입사시키는 탐촉자;상기 초음파 버퍼부에 레이저를 조사하여 상기 피측정체로 입사되는 상기 초음파 신호를 측정하는 입력 초음파 신호 측정부;상기 피측정체의 타측에 레이저를 조사하여 상기 피측정체로부터 출력되는 상기 초음파 신호를 측정하는 출력 초음파 신호 측정부; 및상기 입력 초음파 신호 측정부 및 출력 초음파 신호 측정부에서 측정된 상기 초음파 신호에 기초하여 상기 피측정체의 비선형 파라미터를 산출하는 비선형 파라미터 산출부를 포함하는, 비선형 파라미터 측정 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 초음파 버퍼부는,상기 초음파 신호를 상기 피측정체에 평면파(plane wave)로 입사시키고, 상기 입력 초음파 신호 측정부로부터 조사된 레이저를 투과시키는, 비선형 파라미터 측정 장치
3 3
제2항에 있어서,상기 초음파 버퍼부는,상기 초음파 신호 및 상기 입력 초음파 신호 측정부로부터 입사된 레이저를 상기 피측정체의 입사면에 수직하게 입사시키는, 비선형 파라미터 측정 장치
4 4
제2항에 있어서,상기 초음파 버퍼부는,상기 초음파 신호 및 상기 입력 초음파 신호 측정부로부터 입사된 레이저를 상기 피측정체의 입사면에 경사지게 입사시키는, 비선형 파라미터 측정 장치
5 5
제1항에 있어서,상기 피측정체로 입사되는 상기 초음파 신호는,상기 초음파 신호의 기본 주파수 성분 및 입사 고조파 성분을 포함하는, 비선형 파라미터 측정 장치
6 6
제1항에 있어서,상기 입력 초음파 신호 측정부는,상기 초음파 신호가 상기 피측정체로 입사되는 면의 변위를 레이저로 측정하여 상기 피측정체로 입사되는 상기 초음파 신호를 측정하는, 비선형 파라미터 측정 장치
7 7
제1항에 있어서,상기 피측정체로부터 출력되는 상기 초음파 신호는,상기 피측정체로부터 출력되는 상기 초음파 신호의 기본 주파수 성분, 상기 기본 주파수 성분에 대한 2차 고조파 성분, 상기 초음파 신호의 입사 고조파 성분 및 상기 입사 고조파 성분에 대한 2 차 고조파 성분을 포함하는, 비선형 파라미터 측정 장치
8 8
제1 항에 있어서,상기 출력 초음파 신호 측정부는,상기 초음파 신호가 상기 피측정체로부터 출력되는 면의 변위를 레이저로 측정하여 상기 피측정체로부터 출력되는 상기 초음파 신호를 측정하는, 비선형 파라미터 측정 장치
9 9
제1항에 있어서,상기 비선형 파라미터 산출부는,상기 입력 초음파 신호 측정부에서 측정된 상기 피측정체로 입사되는 상기 초음파 신호의 입사 고조파 성분을 고려하여 상기 피측정체의 비선형 파라미터를 산출하는, 비선형 파라미터 측정 장치
10 10
초음파 신호를 이용하여 피측정체의 비선형 파라미터(nonlinear parameter)를 측정하는 방법으로,톤-버스트(tone-burst)를 발생시켜 상기 초음파 신호를 생성하는 단계;상기 피측정체의 일측에 연결된 초음파 버퍼부에 상기 초음파 신호를 입사시키는 단계; 상기 초음파 버퍼부에 레이저를 조사하여 상기 피측정체로 입사되는 상기 초음파 신호를 측정하는 단계;상기 피측정체의 타측에 레이저를 조사하여 상기 피측정체로부터 출력되는 상기 초음파 신호를 측정하는 단계; 및측정된 상기 피측정체로 입사되는 초음파 신호 및 측정된 상기 피측정체로부터 출력되는 초음파 신호에 기초하여 상기 피측정체의 비선형 파라미터를 산출하는 단계를 포함하는, 비선형 파라미터 측정 방법
11 11
제10항에 있어서,상기 피측정체로 입사되는 상기 초음파 신호는,평면파(plane wave)로 입사되는, 비선형 파라미터 측정 방법
12 12
제10항에 있어서,상기 초음파 신호 및 상기 레이저는,상기 피측정체의 입사면에 수직하게 입사되는, 비선형 파라미터 측정 방법
13 13
제10항에 있어서,상기 피측정체로 입사되는 상기 초음파 신호는,상기 초음파 신호의 기본 주파수 성분 및 입사 고조파 성분을 포함하는, 비선형 파라미터 측정 방법
14 14
제10항에 있어서,상기 초음파 버퍼부에 레이저를 조사하여 상기 피측정체로 입사되는 상기 초음파 신호를 측정하는 단계는,상기 초음파 신호가 상기 피측정체로 입사되는 면의 변위를 레이저로 측정하여 상기 피측정체로 입사되는 상기 초음파 신호를 측정하는, 비선형 파라미터 측정 방법
15 15
제10항에 있어서,상기 피측정체로부터 출력되는 상기 초음파 신호는,상기 초음파 신호의 기본 주파수 성분, 상기 기본 주파수 성분에 대한 2차 고조파 성분, 상기 초음파 신호의 입사 고조파 성분 및 상기 입사 고조파 성분에 대한 2 차 고조파 성분을 포함하는, 비선형 파라미터 측정 방법
16 16
제10항에 있어서,상기 피측정체의 타측에 레이저를 조사하여 상기 피측정체로부터 출력되는 상기 초음파 신호를 측정하는 단계는,상기 초음파 신호가 상기 피측정체로부터 출력되는 면의 변위를 레이저로 측정하여 상기 피측정체로부터 출력되는 상기 초음파 신호를 측정하는, 비선형 파라미터 측정 방법
17 17
제10항에 있어서,상기 측정된 상기 피측정체로 입사되는 초음파 신호 및 측정된 상기 피측정체로부터 출력되는 초음파 신호에 기초하여 상기 피측정체의 비선형 파라미터를 산출하는 단계는,상기 피측정체로 입사되는 상기 초음파 신호의 입사 고조파 성분을 고려하여 상기 피측정체의 비선형 파라미터를 산출하는, 비선형 파라미터 측정 방법
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1 KR101391140 KR 대한민국 FAMILY
2 US09829469 US 미국 FAMILY
3 US20150323505 US 미국 FAMILY
4 WO2014104563 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

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