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정전용량의 변화를 이용하여 접촉 위치 및 힘 측정의 인식 감도가 개선된 정전용량형 터치 패널 및 그 측정방법

  • 기술번호 : KST2015179977
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 터치에 의하여 변화되는 정전용량 값을 이용하여 정밀한 접촉 위치 및 접촉 힘의 인식 감도를 대폭 향상시킬 수 있는 정전용량형 터치 패널 및 그 측정방법에 관한 것이다. 본 발명의 일례와 관련된 정전용량형 터치 패널은, 상면의 적어도 일부인 제 1 터치영역에 제 1 객체 및 제 2 객체 중 적어도 하나인 터치수단이 접촉될 수 있는 상판, 상기 상판과 이격되어 배치되는 하판, 상기 상판의 하면에 소정 간격으로 평행하게 배치되는 복수의 상부전극, 상기 하판의 상면에 소정 간격으로 평행하게 배치되고 상기 복수의 상부전극과 교차하는 방향으로 배치되는 복수의 하부전극, 상기 상판과 상기 하판 사이에 배치되는 유전체 및 제어부를 포함하되, 상기 제 1 객체가 상기 제 1 터치영역에 접촉되는 경우, 상기 복수의 상부전극 중 적어도 하나인 제 1 상부전극과 상기 복수의 하부전극 중 적어도 하나인 제 1 하부전극 사이의 제 1 전기장이 상기 제 1 객체의 접촉에 의하여 변화되고, 상기 제 1 전기장의 변화 정도에 대응하여 상기 제 1 상부전극과 상기 제 1 하부전극 사이에 형성되는 제 1 커패시턴스의 변화가 유도되며, 상기 제 1 객체 및 상기 제 2 객체가 상기 제 1 터치영역에 접촉하여 힘을 인가함으로써 상기 유전체의 형태가 변화되는 경우, 상기 변화된 유전체의 형태에 따라 상기 제 1 상부전극과 상기 제 1 하부전극 사이의 이격거리가 변화되고, 상기 이격거리의 변화 정도에 대응하여 상기 제 1 커패시턴스의 변화가 유도되며, 상기 제어부는 상기 상부전극과 상기 하부전극 사이에 형성되는 커패시턴스의 값을 감지하여 위치에 따른 상기 제 1 커패시턴스의 값을 측정하고, 상기 측정된 제 1 커패시턴스의 값을 이용하여 상기 터치수단과 관련된 입력정보를 판단할 수 있다.
Int. CL G06F 3/044 (2006.01)
CPC G06F 3/044(2013.01)
출원번호/일자 1020130134153 (2013.11.06)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-1535426-0000 (2015.07.03)
공개번호/일자 10-2015-0052906 (2015.05.15) 문서열기
공고번호/일자 (20150714) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.11.06)
심사청구항수 32

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김종호 대한민국 대전 서구
2 김영태 대한민국 경기도 안성시
3 김동기 대한민국 경기 광주시
4 김민석 대한민국 대전 서구
5 박연규 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 아이퍼스 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로**길*, *층(대치동 삼성빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2013.11.06 수리 (Accepted) 1-1-2013-1011967-47
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2014.07.07 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2014.08.08 수리 (Accepted) 9-1-2014-0062989-90
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2015.03.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0215952-84
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2015.04.06 수리 (Accepted) 1-1-2015-0334213-28
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2015.04.06 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2015-0334214-74
8 등록결정서
Decision to grant		 2015.06.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0431922-25
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
상면의 적어도 일부인 제 1 터치영역에 제 1 객체 및 제 2 객체 중 적어도 하나인 터치수단이 접촉될 수 있는 상판;상기 상판과 이격되어 배치되는 하판;상기 상판의 하면에 소정 간격으로 평행하게 배치되는 복수의 상부전극;상기 하판의 상면에 소정 간격으로 평행하게 배치되고, 상기 복수의 상부전극과 교차하는 방향으로 배치되는 복수의 하부전극;상기 상판과 상기 하판 사이에 배치되는 유전체; 및제어부;를 포함하되,상기 제 1 객체가 상기 제 1 터치영역에 접촉되는 경우, 상기 복수의 상부전극 중 적어도 하나인 제 1 상부전극과 상기 복수의 하부전극 중 적어도 하나인 제 1 하부전극 사이의 제 1 전기장이 상기 제 1 객체의 접촉에 의하여 변화되고, 상기 제 1 전기장의 변화 정도에 대응하여 상기 제 1 상부전극과 상기 제 1 하부전극 사이에 형성되는 제 1 커패시턴스의 변화가 유도되며,상기 제 1 객체 및 상기 제 2 객체가 상기 제 1 터치영역에 접촉하여 힘을 인가함으로써 상기 유전체의 형태가 변화되는 경우, 상기 변화된 유전체의 형태에 따라 상기 제 1 상부전극과 상기 제 1 하부전극 사이의 이격거리가 변화되고, 상기 이격거리의 변화 정도에 대응하여 상기 제 1 커패시턴스의 변화가 유도되며,상기 제어부는 상기 상부전극과 상기 하부전극 사이에 형성되는 커패시턴스의 값을 감지하여 위치에 따른 상기 제 1 커패시턴스의 값을 측정하고, 상기 측정된 제 1 커패시턴스의 값을 이용하여 상기 터치수단과 관련된 입력정보를 판단하는 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널
2 2
제 1항에 있어서,상기 이격거리의 변화 정도에 대응하여 유도되는 상기 제 1 커패시턴스의 변화는 상기 제 1 상부전극과 상기 제 1 하부전극이 겹쳐지는 부분 사이에서 발생되는 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널
3 3
제 1항에 있어서,상기 제 1 전기장의 변화 정도에 대응하여 유도되는 상기 제 1 커패시턴스의 변화는 상기 제 1 상부전극과 상기 제 1 하부전극이 겹쳐지지 않는 부분 사이에서 발생되는 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널
4 4
제 1항에 있어서,상기 제어부는 기 설정된 제 1 값, 제 2 값 및 제 3 값 중 적어도 하나를 상기 감지된 커패시턴스의 값 또는 상기 측정된 제 1 커패시턴스의 값과 비교하여 상기 입력정보를 판단하고,상기 제 1 값은 상기 제 2 값보다 작고, 상기 제 2 값은 상기 제 3 값보다 작으며,상기 입력정보는 상기 터치수단의 종류, 상기 터치수단의 접촉 위치 및 상기 터치수단에 의하여 인가된 힘의 크기 중 적어도 하나인 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널
5 5
제 4항에 있어서,상기 터치수단의 접촉 또는 상기 터치수단에 의해 인가된 힘에 인하여 상기 제 1 터치영역에서 측정된 제 1 커패시턴스 값이 상기 제 1 값 이하의 값을 갖도록 변화되는 경우,상기 제어부는 상기 터치수단의 종류가 상기 제 1 객체라고 판단하고, 상기 터치수단의 접촉 위치가 제 1 위치라고 판단하며,상기 제 1 위치는 모멘트 중심을 이용하여 추출된 상기 제 1 터치영역의 적어도 일부인 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널
6 6
제 5항에 있어서,상기 제어부는 상기 변화된 제 1 커패시턴스의 최대값과 최소값에 기초하여 상기 터치수단에 의하여 인가된 힘의 크기를 판단하는 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널
7 7
제 5항에 있어서,상기 터치수단이 상기 제 1 터치영역에 힘을 추가적으로 인가하여 상기 제 1 커패시턴스의 최대값이 상기 제 2 값보다 커지도록 변화되고, 상기 추가적으로 인가된 힘에 의하여 상기 터치수단의 접촉 위치가 상기 제 1 위치와 인접한 제 2 위치로 변하는 경우,상기 제어부는 상기 터치수단의 추가적으로 인가된 힘에 의하여 변한 접촉 위치를 상기 제 1 위치라고 판단하는 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널
8 8
제 7항에 있어서,상기 추가적인 힘에 의하여 변화된 상기 제 1 커패시턴스의 최대값이 상기 제 2 값 이하인 경우,상기 제어부는 상기 모멘트 중심을 이용하여 상기 터치수단의 접촉 위치를 다시 판단하는 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널
9 9
제 4항에 있어서,상기 제 1 터치영역에서 측정된 상기 제 1 커패시턴스의 최소값이 상기 제 1 값보다 크고, 상기 제 1 커패시턴스의 최대값이 상기 제 3 값 이상인 경우,상기 제어부는 상기 터치수단의 종류가 상기 제 2 객체라고 판단하고, 상기 터치수단의 접촉 위치가 제 1 위치라고 판단하며,상기 제 1 위치는 모멘트 중심을 이용하여 추출된 상기 제 1 터치영역의 적어도 일부인 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널
10 10
제 9항에 있어서,상기 제어부는 상기 제 1 커패시턴스의 최대값에 기초하여 상기 터치수단에 의하여 인가된 힘의 크기를 판단하는 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널
11 11
제 4항에 있어서,상기 제 1 터치영역에서 측정된 상기 제 1 커패시턴스의 최소값이 상기 제 1 값보다 크고, 상기 제 1 커패시턴스의 최대값이 상기 제 3 값보다 작은 경우,상기 제어부는 상기 터치수단에 의한 접촉이 없었던 것으로 간주하는 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널
12 12
제 4항에 있어서,상기 제어부는, 상기 제 1 커패시턴스의 최대값이 상기 제 3 값 이하인 경우, 상기 터치수단의 종류가 상기 제 1 객체라고 판단하고,상기 제 1 커패시턴스의 최대값이 상기 제 3 값보다 큰 경우, 상기 터치수단의 종류가 상기 제 2 객체라고 판단하는 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널
13 13
제 1항에 있어서,상기 복수의 상부전극 각각은 복수의 제 1 돌출부가 형성된 제 1 띠 형상이 횡방향으로 배치되어 이루어지고, 상기 복수의 제 1 돌출부 각각은 사각 형상이며, 상기 복수의 제 1 돌출부는 상기 제 1 띠 형상의 길이방향의 양 측면에 일정한 간격으로 이격되어 돌출 형성되고,상기 복수의 상부전극 각각은 종방향으로 일정한 간격으로 이격되게 배열되어 상기 복수의 상부전극을 이루며,상기 복수의 하부전극 각각은 복수의 제 2 돌출부가 형성된 제 2 띠 형상이 종방향으로 배치되어 이루어지고, 상기 복수의 제 2 돌출부 각각은 사각 형상이며, 상기 복수의 제 2 돌출부는 상기 제 2 띠 형상의 길이방향의 양 측면에 일정한 간격으로 이격되어 돌출 형성되고,상기 복수의 하부전극 각각은 횡방향으로 일정한 간격으로 이격되게 배열되어 상기 복수의 하부전극을 이루는 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널
14 14
제 13항에 있어서,상기 복수의 제 1 돌출부 각각과 상기 복수의 제 2 돌출부 각각이 서로 겹쳐지도록 상기 복수의 상부전극과 상기 복수의 하부전극이 배치되는 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널
15 15
제 13항에 있어서,상기 제 2 띠 형상의 폭은 상기 제 1 띠 형상의 폭보다 넓게 형성되는 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널
16 16
제 1항에 있어서,상기 복수의 상부전극 각각의 형상은 마름모 형상이 횡방향으로 서로 연결되고 상기 복수의 상부전극 각각의 마름모 형상이 횡방향으로 서로 연결되는 부분에 사각 형상이 겹쳐지는 형태로 형성되고,상기 복수의 상부전극 각각은 종방향으로 일정한 간격으로 이격되게 배열되어 상기 복수의 상부전극을 이루며,상기 복수의 하부전극 각각의 형상은 마름모 형상이 종방향으로 서로 연결되고 상기 복수의 하부전극 각각의 마름모 형상이 종방향으로 서로 연결되는 부분에사각 형상이 겹쳐지는 형태로 형성되고,상기 복수의 하부전극 각각은 횡방향으로 일정한 간격으로 이격되게 배열되어 상기 복수의 하부전극을 이루는 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널
17 17
제 16항에 있어서,상기 복수의 상부전극 각각의 사각 형상과 상기 복수의 하부전극 각각의 사각 형상이 서로 겹쳐지도록 상기 복수의 상부전극과 상기 복수의 하부전극이 배치되는 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널
18 18
제 1항에 있어서,상기 유전체는,겔(gel), PDMS(polydimethylsiloxane), OCA(Optically Clear Adhesive), 실리콘 및 고분자 중 적어도 하나로 이루어지는 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널
19 19
제 1항에 있어서,상기 상판 및 상기 하판 중 적어도 하나는 글래스(Glass), 강화 고분자 기판 또는 PI 기판으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널
20 20
제 1항에 있어서,상기 복수의 상부전극 및 상기 복수의 하부전극은 투명전극이고, 인듐 주석 산화물(Induim Tin Oxide, ITO), 탄소 나노튜브(Carbon Nano Tube, CNT), 그래핀(Graphene), 금속 나노 와이어, 전도성 고분자(PEDOT, Poly(3,4-ethylenedioxythiophene)) 및 투명 전도성 산화물(TCO) 중 적어도 하나로 이루어지는 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널
21 21
제 1항에 있어서,상기 복수의 상부전극 및 상기 복수의 하부전극은 불투명전극이고, 구리(Cu) 및 은(Ag) 중 적어도 하나로 이루어지는 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널
22 22
상판; 상기 상판과 이격되어 배치되는 하판; 상기 상판의 하면에 소정 간격으로 평행하게 배치되는 복수의 상부전극; 상기 하판의 상면에 소정 간격으로 평행하게 배치되고, 상기 복수의 상부전극과 교차하는 방향으로 배치되는 복수의 하부전극;을 포함하는 정전용량형 터치 패널에 있어서,상기 복수의 상부전극 각각은 복수의 제 1 돌출부가 형성된 제 1 띠 형상이 횡방향으로 배치되어 이루어지고, 상기 복수의 제 1 돌출부 각각은 사각 형상이며, 상기 복수의 제 1 돌출부는 상기 제 1 띠 형상의 길이방향의 양 측면에 일정한 간격으로 이격되어 돌출 형성되고,상기 복수의 상부전극 각각은 종방향으로 일정한 간격으로 이격되게 배열되어 상기 복수의 상부전극을 이루며,상기 복수의 하부전극 각각은 복수의 제 2 돌출부가 형성된 제 2 띠 형상이 종방향으로 배치되어 이루어지고, 상기 복수의 제 2 돌출부 각각은 사각 형상이며, 상기 복수의 제 2 돌출부는 상기 제 2 띠 형상의 길이방향의 양 측면에 일정한 간격으로 이격되어 돌출 형성되고,상기 복수의 하부전극 각각은 횡방향으로 일정한 간격으로 이격되게 배열되어 상기 복수의 하부전극을 이루는 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널
23 23
제 22항에 있어서,상기 복수의 제 1 돌출부 각각과 상기 복수의 제 2 돌출부 각각이 서로 겹쳐지도록 상기 복수의 상부전극과 상기 복수의 하부전극이 배치되는 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널
24 24
상판; 상기 상판과 이격되어 배치되는 하판; 상기 상판의 하면에 소정 간격으로 평행하게 배치되는 복수의 상부전극; 상기 하판의 상면에 소정 간격으로 평행하게 배치되고, 상기 복수의 상부전극과 교차하는 방향으로 배치되는 복수의 하부전극;을 포함하는 정전용량형 터치 패널에 있어서,상기 복수의 상부전극 각각의 형상은 마름모 형상이 횡방향으로 서로 연결되고 상기 복수의 상부전극 각각의 마름모 형상이 횡방향으로 서로 연결되는 부분에 사각 형상이 겹쳐지는 형태로 형성되고,상기 복수의 상부전극 각각은 종방향으로 일정한 간격으로 이격되게 배열되어 상기 복수의 상부전극을 이루며,상기 복수의 하부전극 각각의 형상은 마름모 형상이 종방향으로 서로 연결되고 상기 복수의 하부전극 각각의 마름모 형상이 종방향으로 서로 연결되는 부분에 사각 형상이 겹쳐지는 형태로 형성되고,상기 복수의 하부전극 각각은 횡방향으로 일정한 간격으로 이격되게 배열되어 상기 복수의 하부전극을 이루는 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널
25 25
제 24항에 있어서,상기 복수의 상부전극 각각의 사각 형상과 상기 복수의 하부전극 각각의 사각 형상이 서로 겹쳐지도록 상기 복수의 상부전극과 상기 복수의 하부전극이 배치되는 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널
26 26
상면의 적어도 일부인 제 1 터치영역에 제 1 객체 및 제 2 객체 중 적어도 하나인 터치수단이 접촉될 수 있는 상판; 상기 상판과 이격되어 배치되는 하판; 상기 상판의 하면에 소정 간격으로 평행하게 배치되는 복수의 상부전극; 상기 하판의 상면에 소정 간격으로 평행하게 배치되고, 상기 복수의 상부전극과 교차하는 방향으로 배치되는 복수의 하부전극; 및 상기 상판과 상기 하판 사이에 배치되는 유전체;를 포함하는 정전용량형 터치 패널의 측정방법에 있어서,상기 터치수단이 상기 제 1 터치영역에 접촉하는 제 1 단계;상기 터치수단이 상기 제 1 터치영역에 힘을 인가하여 상기 유전체의 형태가 변화되는 제 2 단계; 상기 변화된 유전체의 형태에 따라 상기 제 1 상부전극과 상기 제 1 하부전극 사이의 이격거리가 변화되는 제 3 단계;상기 이격거리의 변화 정도에 대응하여 상기 제 1 상부전극과 상기 제 1 하부전극 사이에 형성되는 제 1 커패시턴스의 변화가 유도되는 제 4 단계;상기 상부전극과 상기 하부전극 사이에 형성되는 커패시턴스의 값을 감지하여 위치에 따른 상기 제 1 커패시턴스의 값을 측정하는 제 5 단계; 및기 설정된 제 1 값, 제 2 값 및 제 3 값 중 적어도 하나를 상기 감지된 커패시턴스의 값 또는 상기 측정된 제 1 커패시턴스의 값과 비교하여 상기 터치수단의 종류, 상기 터치수단의 접촉 위치 및 상기 터치수단에 의하여 인가되는 힘의 크기 중 적어도 하나를 판단하는 제 6 단계;를 포함하되,상기 제 1 값은 상기 제 2 값보다 작고, 상기 제 2 값은 상기 제 3 값보다 작은 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널의 측정방법
27 27
제 26항에 있어서,상기 제 6단계에서,상기 제 1 커패시턴스의 최소값이 상기 제 1 값보다 크고, 상기 제 1 커패시턴스의 최대값이 상기 제 3 값 이상인 경우, 상기 터치수단의 종류가 상기 제 2 객체라고 판단하고, 상기 터치수단의 접촉 위치가 제 1 위치라고 판단하며,상기 제 1 위치는 모멘트 중심을 이용하여 추출된 상기 제 1 터치영역의 적어도 일부인 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널의 측정방법
28 28
제 26항에 있어서,상기 제 6단계에서,상기 제 1 커패시턴스의 최소값이 상기 제 1 값보다 크고, 상기 제 1 커패시턴스의 최대값이 상기 제 3 값보다 작은 경우,상기 터치수단에 의한 접촉이 없었던 것으로 간주하는 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널의 측정방법
29 29
제 26항에 있어서,상기 제 1 단계와 상기 제 2 단계 사이에는,상기 터치수단의 접촉에 의하여 상기 복수의 상부전극 중 적어도 하나인 제 1 상부전극과 상기 복수의 하부전극 중 적어도 하나인 제 1 하부전극 사이의 제 1 전기장이 변화되는 제 1-1 단계;상기 제 1 전기장의 변화 정도에 대응하여 상기 제 1 상부전극과 상기 제 1 하부전극 사이에 형성되는 제 1 커패시턴스의 변화가 유도되는 제 1-2 단계; 및상기 제 1 전기장의 변화 정도에 대응한 상기 제 1 커패시턴스의 변화를 이용하여 상기 터치수단의 종류 및 상기 터치수단의 접촉 위치 중 적어도 하나를 측정하는 제 1-3 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널의 측정방법
30 30
제 29항에 있어서,상기 제 1-3 단계는,상기 상부전극과 상기 하부전극 사이에 형성되는 커패시턴스의 값을 감지하여 위치에 따른 상기 제 1 커패시턴스의 값을 측정하는 측정단계;상기 측정된 제 1 커패시턴스의 최소값을 제 1 값과 비교하는 비교단계; 및제 1 커패시턴스의 최소값이 제 1 값 이하인 경우, 상기 터치수단의 종류가 상기 제 1 객체라고 판단하고, 상기 터치수단의 접촉 위치가 상기 제 1 위치라고 판단하는 판단단계;를 더 포함하되,상기 제 1 위치는 모멘트 중심을 이용하여 추출된 상기 제 1 터치영역의 적어도 일부인 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널의 측정방법
31 31
제 30항에 있어서,상기 터치수단이 상기 제 1 터치영역에 힘을 추가적으로 인가하여 상기 제 1 커패시턴스의 최대값이 상기 제 2 값보다 커지도록 변화되고, 상기 추가적으로 인가된 힘에 의하여 상기 터치수단의 접촉 위치가 상기 제 1 위치와 인접한 제 2 위치로 변하는 단계; 및상기 터치수단의 추가적으로 인가된 힘에 의하여 변한 접촉 위치를 상기 제 1 위치라고 판단하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 정전용량형 터치 패널의 측정방법
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정전용량형 터치 패널의 측정방법을 수행하기 위하여 디지털 처리 장치에 의해 실행될 수 있는 명령어들의 프로그램이 유형적으로 구현되어 있고, 상기 디지털 처리 장치에 의해 판독될 수 있는 기록매체에 있어서,상면의 적어도 일부인 제 1 터치영역에 제 1 객체 및 제 2 객체 중 적어도 하나인 터치수단이 접촉될 수 있는 상판; 상기 상판과 이격되어 배치되는 하판; 상기 상판의 하면에 소정 간격으로 평행하게 배치되는 복수의 상부전극; 상기 하판의 상면에 소정 간격으로 평행하게 배치되고, 상기 복수의 상부전극과 교차하는 방향으로 배치되는 복수의 하부전극; 및 상기 상판과 상기 하판 사이에 배치되는 유전체;를 포함하는 정전용량형 터치 패널의 측정방법은,상기 터치수단이 상기 제 1 터치영역에 접촉하는 제 1 단계;상기 터치수단이 상기 제 1 터치영역에 힘을 인가하여 상기 유전체의 형태가 변화되는 제 2 단계; 상기 변화된 유전체의 형태에 따라 상기 제 1 상부전극과 상기 제 1 하부전극 사이의 이격거리가 변화되는 제 3 단계;상기 이격거리의 변화 정도에 대응하여 상기 제 1 상부전극과 상기 제 1 하부전극 사이에 형성되는 제 1 커패시턴스의 변화가 유도되는 제 4 단계;상기 상부전극과 상기 하부전극 사이에 형성되는 커패시턴스를 감지하여 위치에 따른 상기 제 1 커패시턴스의 값을 측정하는 제 5 단계; 및기 설정된 제 1 값, 제 2 값 및 제 3 값 중 적어도 하나를 상기 측정된 제 1 커패시턴스의 값과 비교하여 상기 터치수단의 종류, 상기 터치수단의 접촉 위치 및 상기 터치수단에 의하여 인가되는 힘의 크기 중 적어도 하나를 판단하는 제 6 단계;를 포함하되,상기 제 1 값은 상기 제 2 값보다 작고, 상기 제 2 값은 상기 제 3 값보다 작은 것을 특징으로 하는 기록매체
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1 산업통상자원부 한국표준과학연구원 산업융합원천기술 윈도우 일체형 30인치급 터치센서 개발