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플라즈마질량분석기및그제조방법

  • 기술번호 : KST2015180059
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 플라즈마 질량 분석기에 관한 것으로서, 플라즈마가 생성되어 있으며 시료 용액을 이온화하는 플라즈마부, 플라즈마부에서 이온화된 시료 이온빔에서 필요한 성분을 추출해내는 인터페이스, 인터페이스를 통과한 시료 이온빔을 포커싱하는 이온 렌즈부, 이온 렌즈부를 통과한 시료 이온 중 필요한 성분을 추출하는 사중극자부, 사중극자부에서 추출된 시료 이온을 검출하는 이온 검출부를 포함하는 질량 분석기에 있어서, 진공 체임버와 인터페이스를 차단하는 게이트 밸브 기능을 인터페이스에 구비하고 있으며, 인터페이스는 샘플러콘과 스키머콘 모두를 끼울 수 있는 구조로 되어 있고, 이온 렌즈부와 사중극자부가 포함되어 있는 진공 체임버는 알루미늄 기둥을 깎아 만들고, 플라즈마부에 RF 전류를 공급하는 로드 코일은 금도금한 구이 코일을 나선형의 홈이 파져 있는 막대에 홈을 따라 감음을 특징으로 하는 플라즈마 질량 분석기에 관한 것이다. 이렇게 함으로써 본 발명은 이온빔의 통과 효율을 높이며, 제작 및 조립이 용이하며 제작비가 싸고 보수 유지가 용이한 플라즈마 질량 분석기를 제공할 수 있다.
Int. CL H01J 49/26 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1019950013451 (1995.05.26)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-0199835-0000 (1999.03.08)
공개번호/일자 10-1996-0042052 (1996.12.19) 문서열기
공고번호/일자 (19990615) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1995.05.26)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박창준 대한민국 대전광역시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 송만호 대한민국 서울(특허법인 퇴사후 사무소변경 미신고)
2 유미특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 서림빌딩 **층 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인 한국표준과학연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1995.05.26 수리 (Accepted) 1-1-1995-0058627-15
2 출원심사청구서
Request for Examination
1995.05.26 수리 (Accepted) 1-1-1995-0058628-50
3 특허출원서
Patent Application
1995.05.26 수리 (Accepted) 1-1-1995-0058626-69
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
1998.06.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1995-0030112-52
5 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
1998.08.21 수리 (Accepted) 1-1-1995-0058629-06
6 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
1998.09.22 수리 (Accepted) 1-1-1995-0058630-42
7 지정기간연장승인서
Acceptance of Extension of Designated Period
1998.10.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1995-0030113-08
8 의견서
Written Opinion
1998.10.22 수리 (Accepted) 1-1-1995-0750333-30
9 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
1998.10.22 수리 (Accepted) 1-1-1995-0750273-99
10 등록사정서
Decision to grant
1998.12.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1995-0481226-14
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.18 수리 (Accepted) 4-1-1999-0008522-00
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.02.25 수리 (Accepted) 4-1-1999-0038464-97
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.05.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0073381-61
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2006.02.15 수리 (Accepted) 4-1-2006-5019752-35
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

플라즈마가 생성되어 있으며 시료 용액을 이온화하는 플라즈마부, 상기 플라즈마부에서 이온화된 시료 이온빔에서 필요한 성분을 추출해내는 인터페이스, 상기 인터페이스를 통과한 시료 이온빔을 포커싱하는 이온 렌즈부, 상기 이온 렌즈부를 통과한 시료 이온 중 필요한 성분을 추출하는 사중극자부, 상기 사중극자부에서 추출된 시료 이온을 검출하는 이온 검출부를 포함하는 질량 분석기에 있어서, 상기 인터페이스는 상기 시료 이온빔을 단속하는 단속 수단을 포함함을 특징으로 하는 플라즈마 질량 분석기

2 2

제1항에 있어서, 상기 이온 렌즈부 쪽의 상기 인터페이스는 오목부가 형성되어 있고, 상기 인터페이스에는 상기 플라즈마부를 통과한 이온빔이 상기 이온 렌즈부 쪽으로 이동하는 통로인 관통공의 출구가 상기 오목부에 형성되어 있고, 상기 단속 수단은 상기 오목부에 삽입되어 미끄러져 오르내릴 수 있으며 중앙에 구멍을 가진 차단판을 포함하며, 상기 인터페이스에 형성되어 있는 상기 관통공의 출구 둘레에는 이중으로 오링이 형성되어 있음을 특징으로 하는 플라즈마 분석기

3 3

플라즈마가 생성되어 있으며 시료 용액을 이온화하는 플라즈마부, 상기 플라즈마부에서 이온화된 시료 이온빔에서 필요한 성분을 추출해내는 인터페이스, 상기 인터페이스를 통과한 시료 이온빔을 포커싱하는 이온 렌즈부, 상기 이온 렌즈부를 통과한 시료 이온 중 필요한 성분을 추출하는 사중극자부, 상기 사중극자부에서 추출된 시료 이온을 검출하는 이온 검출부를 포함하며, 상기 인터페이스는 몸체, 상기 플라즈마부로부터의 이온빔을 거르는 샘플러콘, 상기 샘플러콘을 지지하며 상기 몸체에 부착되는 샘플러콘 지지대, 상기 샘플러콘과 유사하게 가운데에 구멍이 나 있어 상기 샘플러콘을 통과한 이온을 다시 거르며 상기 몸체에 고정되어 있는 스키머콘을 포함하는 플라즈마 질량 분석기에 있어서, 상기 인터테이스의 몸체와 샘플러콘 지지대는 일체로 형성되어 있음을 특징으로 하는 플라즈마 질량 분석기

4 4

제4항에 있어서, 상기 샘플러콘의 부착부는 상기 스키머콘의 부착부보다 커서 상기 스키머콘의 부착이 용이하도록 되어 있음을 특징으로 하는 플라즈마 질량 분석기

5 5

플라즈마가 생성되어 있으며 시료 용액을 이온화하는 플라즈마부, 상기 플라즈마부에서 이온화된 시료 이온빔에서 필요한 성분을 추출해내는 인터페이스, 상기 인터페이스를 통과한 시료 이온빔을 포커싱하는 이온 렌즈부, 상기 이온 렌즈부를 통과한 시료 이온 중 필요한 성분을 추출하는 사중극자부, 상기 사중극자부에서 추출된 시료 이온을 검출하는 이온 검출부를 포함하며, 상기 이온 렌즈부 및 상기 사중극자부는 진공 체임버 속에 위치하고 있는 플라즈마 질량 분석기의 제조 방법에 있어서, 상기 진공 체임버는 알루미늄 기둥을 깎아 만듦을 특징으로 하는 플라즈마 질량 분석기의 제조방법

6 6

플라즈마가 생성되어 있으며 시료 용액을 이온화하는 플라즈마부, 상기 플라즈마부에서 이온화된 시료 이온빔에서 필요한 성분을 추출해내는 인터페이스, 상기 인터페이스를 통과한 시료 이온빔을 포커싱하는 이온 렌즈부, 상기 이온 렌즈부를 통과한 시료 이온 중 필요한 성분을 추출하는 사중극자부, 상기 사중극자부에서 추출된 시료 이온을 검출하는 이온 검출부를 포함하며, 상기 플라즈마부는 세 개의 동심 튜브로 구성되는 토치, 상기 토치의 입구 부근에 감겨 있는 로드 코일, 상기 로드 코일에 RF 전류를 공급하는 RF 생성기를 포함하는 플라즈마 질량 분석기의 제조 방법에 있어서, 상기 로드 코일은 금도금한 구리 코일을 나선형의 홈이 파져 있는 막대에 홈을 따라 감음으로써 형성함을 특징으로 하는 플라즈마 질량 분석기의 제조방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.