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복사조도 측정장치 및 그 측정방법

  • 기술번호 : KST2015180161
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 복사조도 측정장치 및 그 측정방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 전면에 형성된 개구부를 통해 측정대상 광원으로부터 입사되는 빛의 세기에 따른 전류신호를 생성하는 실리콘 복사계와, 측정대상 광원으로부터 입사되는 빛의 파장을 측정하는 분광기를 일체로 구비하여, 제어부를 통해 입사광의 파장에 따른 실리콘 복사계의 감응도에 기반한 연산과정을 통해 측정대상 광원의 복사조도를 측정하도록 구성함으로써, 단색기를 이용한 분광복사계 등과 같은 고가의 장비를 사용하지 않고도 LED(Light Emitting Diode)나 OLED(Organic Light Emitting Diode) 또는 레이저 램프(Laser Lamp) 등과 같이 통상의 백열등이나 형광등에 비해 상대적으로 파장폭이 좁은 광원에 대해서도 저가(低價)의 장비로 간편하고 정밀하게 복사조도를 측정할 수 있는 복사조도 측정장치 및 그 측정방법에 관한 것이다.
Int. CL G01J 3/18 (2006.01) G01J 1/42 (2006.01)
CPC G01J 3/18(2013.01) G01J 3/18(2013.01) G01J 3/18(2013.01) G01J 3/18(2013.01)
출원번호/일자 1020140167214 (2014.11.27)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-1557769-0000 (2015.09.30)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20151019) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.11.27)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박철웅 대한민국 대전광역시 유성구
2 박성종 대한민국 대전광역시 유성구
3 이동훈 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신운철 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로***길 *(삼성동) 우경빌딩*층(가디언국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.11.27 수리 (Accepted) 1-1-2014-1150791-14
2 등록결정서
Decision to grant
2015.09.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0644034-36
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
광원의 복사조도를 측정하기 위한 복사조도 측정장치에 있어서,전면에 개구부가 형성되어 측정대상 광원으로부터 상기 개구부를 통과하여 입사되는 빛의 광량을 측정하여 빛의 세기에 따른 전류신호를 생성하는 실리콘 복사계와;상기 실리콘 복사계의 전면 일측에 일체로 구비되어 상기 측정대상 광원으로부터 입사되는 빛의 파장을 측정하는 분광기와; 상기 실리콘 복사계에서 생성된 전류신호와 상기 분광기를 통해 측정된 파장을 전달받아, 입사광의 파장에 따른 실리콘 복사계의 감응도(spectral responsivity)에 기반한 연산과정을 통해 상기 측정대상 광원의 복사조도를 산출하는 제어부;를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 복사조도 측정장치
2 2
제 1항에 있어서,상기 복사조도 측정장치에는,입사광의 파장에 따른 상기 실리콘 복사계의 감응도값이 일정 간격의 파장 대역별로 매칭되어 감응도 특성테이블 형태로 저장되고,상기 제어부는,상기 감응도 특성테이블에 수록된 파장 대역별 감응도값에 기반하여, 비례연산을 통해 상기 분광기를 통해 측정된 파장에 따른 측정대상 광원의 감응도값을 추출하고, 상기 추출된 감응도값과 상기 실리콘 복사계에서 생성된 전류신호값을 이용하여 상기 측정대상 광원의 복사조도를 산출하는 것을 특징으로 하는 복사조도 측정장치
3 3
제 1항에 있어서,상기 실리콘 복사계의 개구부는,3mm 내지 8mm 직경의 원형홀로 형성되는 것을 특징으로 하는 복사조도 측정장치
4 4
제 1항에 있어서,상기 분광기는,전면에 상기 측정대상 광원으로부터 입사되는 빛을 수집하기 위한 개구홀이 형성되고, 내부에는 상기 개구홀을 통과하여 입사되는 빛을 파장별로 분리시키는 회절격자와, 상기 회절격자를 통해 파장별로 분리된 빛의 파장을 측정하기 위한 센서부를 포함하여 구성되는 회절격자 타입의 분광기인 것을 특징으로 하는 복사조도 측정장치
5 5
실리콘 복사계와 분광기가 일체로 구비된 복사조도 측정장치를 이용하여 광원의 복사조도를 측정하는 방법에 있어서,실리콘 복사계를 통해 측정대상 광원으로부터 입사되는 빛의 세기에 따른 전류신호를 생성하는 단계와;분광기를 통해 상기 측정대상 광원으로부터 입사되는 빛의 파장을 측정하는 단계와;상기 실리콘 복사계에서 생성된 전류신호와 상기 분광기를 통해 측정된 파장을 이용하여, 입사광의 파장에 따른 실리콘 복사계의 감응도(spectral responsivity)에 기반한 연산과정을 통해 상기 측정대상 광원의 복사조도를 산출하는 단계;를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 복사조도 측정 방법
6 6
제 5항에 있어서,상기 복사조도 측정장치에는,입사광의 파장에 따른 상기 실리콘 복사계의 감응도값이 일정 간격의 파장 대역별로 매칭되어 감응도 특성테이블 형태로 저장되어,상기 감응도 특성테이블에 수록된 파장 대역별 감응도값에 기반하여, 상기 분광기를 통해 측정된 파장에 따른 측정대상 광원의 감응도값을 추출하고, 상기 추출된 감응도값과 상기 실리콘 복사계에서 생성된 전류신호값을 이용하여 상기 측정대상 광원의 복사조도를 산출하는 것을 특징으로 하는 복사조도 측정 방법
7 7
제 6항에 있어서,상기 측정대상 광원의 감응도값은,상기 감응도 특성테이블에 수록된 파장 대역별 감응도값에 기반한 비례연산을 통해 추출되는 것을 특징으로 하는 복사조도 측정 방법
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제 5항에 있어서,상기 복사조도는
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조부 한국표준과학연구원 5-2-3 중소기업육성 LD를 이용한 레이저 등명기 시제품설계 및 제작