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반도체를 이용한 방사능 측정기 및 이의 측정방법

  • 기술번호 : KST2015180214
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 반도체를 이용한 방사능 측정기가 개시된다. 이 반도체를 이용한 방사능 측정기는 측정대상 방사선원의 방사능과 반도체를 이용한 방사능 측정기가 방사선원의 방사능을 측정하는 기간동안 방출되는 방사능이 일정한 보정 방사선원의 방사능 중 적어도 하나에 대응하는 신호를 발생하는 검출부; 및 상기 보정 방사선원이 상기 검출부에 위치되면 상기 보정 방사선원만이 상기 검출부에 위치될 때의 상기 보정 방사선원의 제1계수율을 산출하고, 상기 측정대상 방사선원과 상기 보정 방사선원이 상기 검출부에 위치되면 상기 측정대상 방사선원의 방사능과 상기 보정 방사선원의 방사능을 동시에 측정하고, 상기 측정대상 방사선원과 상기 보정 방사선원이 상기 검출기부에 함께 위치될 때의 상기 보정 방사선원의 제2계수율을 산출하여, 상기 측정대상 방사선원의 방사능을 상기 제1계수율과 상기 제2계수율을 이용하여 보정하는 제어부를 포함한다.
Int. CL H01L 27/14 (2006.01) G01T 1/24 (2006.01)
CPC G01T 1/24(2013.01) G01T 1/24(2013.01) G01T 1/24(2013.01) G01T 1/24(2013.01)
출원번호/일자 1020130022975 (2013.03.04)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-1445793-0000 (2014.09.23)
공개번호/일자 10-2014-0110159 (2014.09.17) 문서열기
공고번호/일자 (20141104) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.03.04)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 한주봉 대한민국 경상북도 포항시 남구
2 이경범 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인다나 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 *길 **, 신관 *층~*층, **층(역삼동, 광성빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.03.04 수리 (Accepted) 1-1-2013-0189715-09
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.12.26 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2014.02.10 수리 (Accepted) 9-1-2014-0008167-21
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.03.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0218557-32
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.05.28 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0507221-62
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.05.28 수리 (Accepted) 1-1-2014-0507222-18
8 등록결정서
Decision to grant
2014.08.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0594923-69
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
측정대상 방사선원의 방사능과 반도체를 이용한 방사능 측정기가 방사선원의 방사능을 측정하는 기간동안 방출되는 방사능이 일정한 보정 방사선원의 방사능 중 적어도 하나에 대응하는 신호를 발생하는 검출부; 및상기 보정 방사선원이 상기 검출부에 위치되면 상기 보정 방사선원만이 상기 검출부에 위치될 때의 상기 보정 방사선원의 제1계수율을 산출하고, 상기 측정대상 방사선원과 상기 보정 방사선원이 상기 검출부에 위치되면 상기 측정대상 방사선원의 방사능과 상기 보정 방사선원의 방사능을 동시에 측정하고, 상기 측정대상 방사선원과 상기 보정 방사선원이 상기 검출부에 함께 위치될 때의 상기 보정 방사선원의 제2계수율을 산출하여, 상기 측정대상 방사선원의 방사능을 상기 제1계수율과 상기 제2계수율을 이용하여 보정하는 제어부를 포함하고, 상기 제어부는 식 1으로 상기 측정대상 방사선원의 방사능을 보정하는 반도체를 이용한 방사능 측정기
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제1항에 있어서,상기 검출부는 일측이 폐쇄된 원통형상을 가지는 검출부 본체를 포함하고,상기 검출부 본체의 재질은 P형 고순도 게르마늄(P-type High Purity Germannium) 또는 N형 고순도 게르마늄(N-type High Purity Germannium)인 반도체를 이용한 방사능 측정기
3 3
제1항에 있어서,상기 보정 방사선원은 세슘137(137Cs)인 반도체를 이용한 방사능 측정기
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반도체를 이용한 방사능 측정기가 방사선원의 방사능을 측정하는 기간동안 방출되는 방사능이 일정한 보정 방사선원이 검출부에 위치되면 상기 보정 방사선원만이 반도체를 이용한 방사능 측정기의 검출부에 위치될 때의 보정 방사선원의 제1계수율을 측정하는 단계;방사능 측정이 필요한 측정대상 방사선원과 상기 보정 방사선원이 상기 검출부에 위치되면 상기 측정대상 방사선원의 방사능과 상기 보정 방사선원의 방사능을 동시에 측정하고, 상기 측정대상 방사선원과 상기 보정 방사선원이 상기 검출부에 함께 위치될 때의 상기 보정 방사선원의 제2계수율을 산출하는 단계; 및상기 제1계수율과 상기 제2계수율을 이용하여 상기 측정대상 방사선원의 방사능을 보정하는 단계를 포함하고, 상기 측정대상 방사선원의 방사능을 보정하는 단계는 식 1을 이용하는 반도체를 이용한 방사능 측정기의 측정방법
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육과학기술부 한국표준과학연구원 방사선안전기술개발사업 핵의학 방사선 안전보증을 위한 이동표준기술 및 열량측정기술개발