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2차원 회절 격자를 이용한 6 자유도 측정 장치

  • 기술번호 : KST2015180246
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 6 자유도 변위 측정 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 2차원 회절 격자를 이용한 3축 변위 측정방법을 확장하여 3축 회전 각도를 포함한 6 자유도 측정이 가능한 6 자유도 변위 측정 장치에 관한 것이다. 이를 위해, 본 발명은 단일파장의 레이저 빔을 갖는 광원; 측정물의 표면에 부착되며, 상기 광원으로부터 입사되어 복수의 회절빔을 발생시키는 회절격자; 상기 회절격자의 Z축 방향 변위를 측정하기 위한 Z축 변위측정수단; 상기 회절격자의 X축 방향 변위를 측정하기 위한 X축 변위측정수단; 상기 회절격자의 Y축 방향 변위를 측정하기 위한 Y축 변위측정수단; 상기 회절격자의 X,Y,Z축 회전각도를 측정하기 위한 3축 회전각도측정수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 6 자유도 변위 측정 장치를 제공한다. 6 자유도, 회절격자, 광분할기, 편광분할기, 미러, 광검출기, 위치감지검출기
Int. CL G01B 11/00 (2006.01) G01B 11/26 (2006.01)
CPC G01D 5/38(2013.01) G01D 5/38(2013.01) G01D 5/38(2013.01)
출원번호/일자 1020080100002 (2008.10.13)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2010-0041024 (2010.04.22) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.10.13)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김종안 대한민국 대전광역시 유성구
2 김재완 대한민국 대전광역시 유성구
3 강주식 대한민국 대전광역시 유성구
4 엄태봉 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이학수 대한민국 부산광역시 연제구 법원로 **, ****호(이학수특허법률사무소)
2 백남훈 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로 ***, KTB네트워크빌딩**층 한라국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.10.13 수리 (Accepted) 1-1-2008-0710314-19
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2008.10.14 수리 (Accepted) 1-1-2008-0713352-69
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2009.12.22 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2010.01.15 수리 (Accepted) 9-1-2010-0004355-77
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.08.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0382875-55
6 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2010.11.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0547902-71
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
단일파장의 레이저 빔을 갖는 광원; 측정물의 표면에 부착되며, 상기 광원으로부터 입사되어 복수의 회절빔을 발생시키는 회절격자; 상기 회절격자의 Z축 방향 변위를 측정하기 위한 Z축 변위측정수단; 상기 회절격자의 X축 방향 변위를 측정하기 위한 X축 변위측정수단; 상기 회절격자의 Y축 방향 변위를 측정하기 위한 Y축 변위측정수단; 상기 회절격자의 X,Y,Z축 회전각도를 측정하기 위한 3축 회전각도측정수단을 포함하는 6 자유도 변위 측정 장치
2 2
청구항 1에 있어서, 상기 Z축 변위측정수단은 광원과 회절격자 사이에 배치되고, 상기 광원에서 나온 빛 중 일부를 반사하고 나머지 일부를 투과시키는 Z축 광분할기; 상기 광분할기에서 투과된 빛 중 일부를 반사시키고 나머지 일부를 투과시키는 편광분할기; 상기 Z축 광분할기 및 편광분할기에 의해 반사된 빔의 위상차를 검출하는 기준빔 광검출기 및 Z축방향 광검출기를 포함하고, 상기 광검출기에 의해 검출된 위상차를 통해 Z축 방향의 변위를 측정하는 것을 특징으로 하는 6 자유도 변위 측정 장치
3 3
청구항 2에 있어서, 상기 X축 변위측정수단은 회절격자에 의해 반사된 X축방향 회절빔의 경로에 배치되어 상기 회절빔을 반사시키는 미러; 상기 미러에 의해 반사된 회절빔의 일부를 반사시키고 나머지 일부를 투과시키는 X축 편광분할기; 상기 X축 편광분할기를 통해 반사된 회절빔과 투과된 빔의 위상차를 검출하는 제1 및 제2광검출기를 포함하고, 상기 광검출기에 의해 검출된 위상차를 통해 X축 방향의 변위를 측정하는 것을 특징으로 하는 6 자유도 변위 측정 장치
4 4
청구항 3에 있어서, 상기 Y축 변위측정수단은 회절격자에 의해 반사된 Y축방향 회절빔의 경로에 배치되어 상기 회절빔의 일부를 반사시키는 Y축 광분할기; 상기 Y축 광분할기에 의해 반사된 회절빔의 일부를 반사시키고 나머지 일부를 투과시키는 Y축 편광분할기; 상기 Y축 편광분할기를 통해 반사된 회절빔과 투과된 빔의 위상차를 검출하는 제3 및 제4광검출기를 포함하고, 상기 광검출기에 의해 검출된 위상차를 통해 Y축 방향의 변위를 측정하는 것을 특징으로 하는 6 자유도 변위 측정 장치
5 5
청구항 4에 있어서, 상기 3축 회전각도측정수단은 Y축 광분할기를 통해 투과된 회절빔의 위치변화를 감지하는 위치감지검출기와, 상기 Y축 광분할기와 위치감지검출기 사이에 상기 회절빔이 투과되도록 설치된 렌즈를 포함하고, 상기 위치감지검출기를 통해 감지된 위치변화로 3축의 회전각도를 계산하는 것을 특징으로 하는 6 자유도 변위 측정 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육과학부 한국표준과학연구원 특정연구개발사업 다채널 주파수 스캐닝 레이저를 이용한 광간섭식 고속 나노형상 측정기술