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접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 접촉저항형 터치입력기기, 그 터치입력기기의 제조방법 및 이용방법

  • 기술번호 : KST2015180272
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 2개의 기판 각각에 신호선 전극을 증착 또는 인쇄하고 적어도 어느 한 기판에 감압형 저항층을 형성하며 위치측정용 저항층을 추가 형성함으로써 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 접촉저항형 터치입력기기, 그리고 그 터치입력기기의 제조방법 및 이용방법에 관한 것이다. 이에 의하면 단일 터치의 터치 입력기기에 적용되도록 선의 갯수를 줄이면서 넓은 면적을 감지할 수 있으며 불투명한 키패드, 터치패드 등에 용이하게 적용될 수 있을 뿐만 아니라 제조 방법이 간단하여 대량생산이 가능하므로 상용화에 적합하다. 터치 입력기기, 접촉저항형 센서, 접촉저항형 터치입력기기, 힘센서, 감압형 저항, 위치측정용 저항, 온도 보상, 마우스, 터치 패드
Int. CL G06F 3/045 (2006.01) G06F 3/041 (2006.01)
CPC G06F 3/045(2013.01) G06F 3/045(2013.01) G06F 3/045(2013.01) G06F 3/045(2013.01)
출원번호/일자 1020090092325 (2009.09.29)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-1124227-0000 (2012.02.29)
공개번호/일자 10-2011-0034862 (2011.04.06) 문서열기
공고번호/일자 (20120412) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.09.29)
심사청구항수 24

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김종호 대한민국 대전광역시 서구
2 김민석 대한민국 대전광역시 서구
3 박연규 대한민국 대전광역시 유성구
4 강대임 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김문종 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로**길*, *층(대치동 삼성빌딩)(특허법인 아이퍼스)
2 손은진 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로**길*, *층(대치동 삼성빌딩)(특허법인 아이퍼스)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2009.09.29 수리 (Accepted) 1-1-2009-0598368-13
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2011.03.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0173168-82
3 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2011.05.26 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0395352-81
4 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2011.05.26 수리 (Accepted) 1-1-2011-0395351-35
5 등록결정서
Decision to grant		 2011.11.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0698140-28
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
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번호 청구항
1 1
소정 갭(120)을 유지하면서 서로 평행하게 배열되는 제 1기판(100) 및 제 2기판(110);상기 제 1기판(100) 및 상기 제 2기판(110) 사이에 배치되며 상기 제 1기판(100) 및 상기 제 2기판(110) 각각에 형성되어 상기 갭(120)을 유지하면서 온도 또는 접촉힘에 따라 저항이 변화되는 제 1감압형 저항층(130) 및 제 2감압형 저항층(135);상기 제 1기판(100)에 형성되며 상기 제 1감압형 저항층(130)에 개별적으로 연결되어 상기 제 1감압형 저항층(130) 및 상기 제 2감압형 저항층(135)에 부가되는 전압신호를 선택적으로 입력받을 수 있는 제 1신호선 전극(140) 및 제 2신호선 전극(145);상기 제 2기판(110)에 형성되며 상기 제 2감압형 저항층(135)에 개별적으로 연결되어 상기 전압신호를 선택적으로 입력받을 수 있는 제 3신호선 전극(150) 및 제 4신호선 전극(155);상기 제 1기판(100)으로 상기 접촉힘에 대응하는 복원력 전달을 위해 상기 제 2감압형 저항층(135)에 형성된 다수의 도트 스페이서(170); 및상기 제 1기판(100) 및 상기 제 2기판(110)과의 사이에서 접촉면의 접착으로 상기 갭(120)을 형성하는 갭 스페이서(175);를 포함하는 것을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 터치입력기기
2 2
제 1항에 있어서,상기 제 1기판(100) 및 상기 제 2기판(110)은 폴리이미드 필름, 폴리에스터 필름 및 유리 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 터치입력기기
3 3
제 1항에 있어서,상기 제 1신호선 전극(140), 상기 제 2신호선 전극(145), 상기 제 3신호선 전극(150) 및 상기 제 4신호선 전극(155)은 금속 증착 또는 실버페이스트 인쇄로 형성된 것임을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 터치입력기기
4 4
제 1항에 있어서,상기 제 1감압형 저항층(130) 및 상기 제 2감압형 저항층(135)은 면저항의 범위가 1 kΩ/□ ~ 1000 kΩ/□ 인 것을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 터치입력기기
5 5
제 1항에 있어서,상기 다수의 도트 스페이서(170)는 스크린 인쇄를 통해 형성된 것을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 터치입력기기
6 6
제 1항에 있어서,상기 다수의 도트 스페이서(170)는 직경이 10 ㎛ ~ 100 ㎛ 이고, 높이가 10 ㎛ ~ 50 ㎛ 이며, 인접하는 상기 각 도트 스페이서(170) 사이의 피치거리가 20 ㎛ ~ 2000 ㎛인 것을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 터치입력기기
7 7
제 1항에 있어서,상기 다수의 도트 스페이서(170)의 재질은 폴리우레탄 또는 실리콘 고무인 것을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 터치입력기기
8 8
제 1항에 있어서,상기 갭 스페이서(175)는 상기 접촉면에 열접착 테이프 또는 양면 테이프로 접착한 것을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 터치입력기기
9 9
소정 갭(220)을 유지하면서 서로 평행하게 배열되는 제 1기판(200) 및 제 2기판(210);상기 제 1기판(200) 및 상기 제 2기판(210) 사이에 배치되며 상기 제 1기판(200) 및 상기 제 2기판(210) 각각에 대향 형성되어 상기 갭(220)을 유지하면서 소정 포인팅 오브젝트의 접촉위치에 따라 저항의 변화를 보이는 제 1위치측정용 저항층(280) 및 제 2위치측정용 저항층(285);상기 제 1위치측정용 저항층(280) 및 상기 제 2위치측정용 저항층(285) 중 적어도 어느 하나에 형성되며 온도 또는 접촉힘에 따라 저항 변화를 보이는 감압형 저항층(235, 330, 335);상기 제 1기판(200)에 형성되며 상기 제 1위치측정용 저항층(280)에 개별적으로 연결되어 상기 제 1위치측정용 저항층(280), 상기 제 2위치측정용 저항층(285) 및 상기 감압형 저항층(235, 330, 335)에 부가되는 전압신호를 선택적으로 입력받을 수 있는 제 1신호선 전극(240) 및 제 2신호선 전극(245);상기 제 2기판(210)에 형성되며 상기 제 2위치측정용 저항층(285)에 개별적으로 연결되어 상기 전압신호를 선택적으로 입력받을 수 있는 제 3신호선 전극(250) 및 제 4신호선 전극(255);상기 제 1기판(200) 또는 상기 제 2기판(210)으로 상기 접촉힘에 대응하는 복원력 전달을 위해 상기 감압형 저항층(235, 335) 상에 형성되며, 상기 갭(220)을 향해 볼록 구조를 갖는 다수의 도트 스페이서(270); 및상기 제 1기판(200) 및 상기 제 2기판(210)과의 사이에서 접촉면의 접착으로 상기 갭(220)을 형성하는 갭 스페이서(275);를 포함하는 것을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 터치입력기기
10 10
제 9항에 있어서,상기 제 1기판(200) 및 상기 제 2기판(210)은 폴리이미드 필름, 폴리에스터 필름 및 유리 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 터치입력기기
11 11
제 9항에 있어서,상기 제 1신호선 전극(240), 상기 제 2신호선 전극(245), 상기 제 3신호선 전극(250) 및 상기 제 4신호선 전극(255)은 금속 증착 또는 실버페이스트 인쇄로 형성된 것임을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 터치입력기기
12 12
제 9항에 있어서,상기 감압형 저항층(235, 330, 335)은 면저항의 범위가 1 kΩ/□ ~ 1000 kΩ/□ 인 것을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 터치입력기기
13 13
제 9항에 있어서,상기 제 1위치측정용 저항층(280) 및 상기 제 2위치측정용 저항층(285)은 면저항의 범위가 100 Ω/□ ~ 1 kΩ/□ 인 것을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 터치입력기기
14 14
제 9항에 있어서,상기 다수의 도트 스페이서(270)는 스크린 인쇄를 통해 형성된 것을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 터치입력기기
15 15
제 9항에 있어서,상기 다수의 도트 스페이서(270)는 직경이 10 ㎛ ~ 100 ㎛ 이고, 높이가 10 ㎛ ~ 50 ㎛ 이며, 인접하는 상기 각 도트 스페이서 사이의 피치거리가 20 ㎛ ~ 2000 ㎛인 것을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 터치입력기기
16 16
제 9항에 있어서,상기 다수의 도트 스페이서(270)의 재질은 폴리우레탄 또는 실리콘 고무인 것을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 터치입력기기
17 17
제 9항에 있어서,상기 갭 스페이서(275)는 상기 접촉면에 열접착 테이프 또는 양면 테이프로 접착한 것을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 터치입력기기
18 18
제 1기판(400)에 제 1신호선 전극(440), 제 2신호선 전극(445) 및 적어도 하나의 저항층이 형성된 제 1가공 기판(405)과 제 2기판(410)에 제 3신호선 전극(450), 제 4신호선 전극(455), 적어도 하나의 저항층 및 다수의 도트 스페이서(470)가 형성된 제 2가공 기판(415)의 제조단계(S10); 및상기 제조된 제 1가공 기판(405) 및 상기 제조된 제 2가공 기판(415)을 서로 평행하게 나열하되 소정 갭(420)을 갖도록 갭 스페이서(475)를 상기 제 1가공 기판(405) 및 상기 제 2가공 기판(415) 사이에 위치시키고, 상기 갭 스페이서(475)와의 접촉면에 열접착 테이프 또는 양면테이프를 이용하여 상호 합착하는 단계(S20);를 포함하고,상기 제 1가공 기판(405)의 제조단계(S10)는,고분자 필름 또는 유리 재질의 상기 제 1기판(400)에 금속의 증착 또는 실버페이스트의 인쇄로 상기 제 1신호선 전극(440) 및 상기 제 2신호선 전극(445)을 형성하는 단계(S110); 및상기 제 1기판(400) 상부에, 그리고 상기 제 1신호선 전극(440) 및 상기 제 2신호선 전극(445) 사이에 제 1감압형 저항층(430)을 형성하는 단계(S120);를 포함하며,상기 제 2가공 기판(415)의 제조단계(S10)는,고분자 필름 또는 유리 재질의 상기 제 2기판(410)에 금속의 증착 또는 실버페이스트의 인쇄로 상기 제 3신호선 전극(450) 및 상기 제 4신호선 전극(455)을 형성하는 단계(S210);상기 제 2기판(410) 상부에, 그리고 상기 제 1신호선 전극(440) 및 상기 제 2신호선 전극(445) 사이에 제 2감압형 저항층(435)을 형성하는 단계(S220); 및상기 제 2감압형 저항층(435) 상부에 스크린 인쇄를 통해 상기 다수의 도트 스페이서(470)를 형성하는 단계(S230);를 포함하는 것을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 터치입력기기의 제조방법
19 19
제 1기판(500)에 제 1신호선 전극(540), 제 2신호선 전극(545) 및 적어도 하나의 저항층이 형성된 제 1가공 기판(505)과 제 2기판(510)에 제 3신호선 전극(550), 제 4신호선 전극(555), 적어도 하나의 저항층 및 다수의 도트 스페이서(570)가 형성된 제 2가공 기판(515)의 제조단계(S30); 및상기 제조된 제 1가공 기판(505) 및 상기 제 2가공 기판(515)을 서로 평행하게 나열하되 소정 갭(520)을 갖도록 갭 스페이서(575)를 상기 제 1가공 기판(505) 및 상기 제 2가공 기판(515) 사이에 위치시키고, 상기 갭 스페이서(575)와의 접촉면에 열접착 테이프 또는 양면테이프를 이용하여 상호 합착하는 단계(S40);를 포함하고,상기 제 1가공 기판(505)의 제조단계(S30)는,고분자 필름 또는 유리 재질의 상기 제 1기판(500)에 금속의 증착 또는 실버페이스트의 인쇄로 상기 제 1신호선 전극(540) 및 상기 제 2신호선 전극(545)을 형성하는 단계(S310); 및상기 제 1기판(500) 상부에, 그리고 상기 제 1신호선 전극(540) 및 상기 제 2신호선 전극(545) 사이에 제 1위치측정용 저항층(580)을 형성하는 단계(S320);를 포함하며,상기 제 2가공 기판(515)의 제조단계(S30)는,고분자 필름 또는 유리 재질의 상기 제 2기판(510)에 금속의 증착 또는 실버페이스트의 인쇄로 상기 제 3신호선 전극(550) 및 상기 제 4신호선 전극(555)을 형성하는 단계(S410);상기 제 2기판(510) 상부에, 그리고 상기 제 3신호선 전극(550) 및 상기 제 4신호선 전극(555) 사이에 제 2위치측정용 저항층(585)을 형성하는 단계(S420);상기 제 2위치측정용 저항층(585) 상부에 제 2감압형 저항층(535)을 형성하는 단계(S430); 및상기 제 2감압형 저항층(535) 상부에 스크린 인쇄를 통해 상기 다수의 도트 스페이서(570)를 형성하는 단계(S440);를 포함하는 것을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 터치입력기기의 제조방법
20 20
제 19항에 있어서,상기 제 1가공 기판의 제조단계(S30)는 제 1위치측정용 저항층(580) 형성단계(S320) 이후에,상기 제 1위치측정용 저항층(580) 상부에 제 1감압형 저항층(630)을 형성하는 단계(S330);를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 터치입력기기의 제조방법
21 21
소정 갭(120)을 유지한 상태로 상호 평행하게 배열된 제 1기판(100) 및 제 2기판(110) 중 어느 하나가 소정 포인팅 오브젝트의 접촉힘에 의해 변형되는 제 1변형단계(S510);상기 변형된 제 1기판(100) 또는 상기 변형된 제 2기판(110)으로부터 상기 접촉힘을 전달받아 상기 제 1기판(100)과 상기 제 2기판(110) 사이에 위치하며 상기 제 1기판(100) 및 상기 제 2기판(110) 중 적어도 어느 하나에 형성된 감압형 저항층(130, 135)이 변형되는 제 2변형단계(S520);상기 제 1기판(100)에 형성되어 제 1위치측정용 저항층(280) 또는 상기 제 1위치측정용 저항층(280) 없을시 제 1감압형 저항층(130)에 연결된 두 개의 신호선 전극 중 제 1신호선 전극(140)을 기준전압으로 하고 제 2신호선 전극(145)을 개방상태로 하되, 상기 제 2기판(110)에 형성되어 제 2위치측정용 저항층(285) 또는 상기 제 2위치측정용 저항층(285) 없을시 제 2감압형 저항층(135)에 연결된 두 개의 신호선 전극 중 제 4신호선 전극(155)을 접지상태로 하고 제 3신호선 전극(150)에서 전압 측정수단이 상기 적어도 어느 하나에 형성된 감압형 저항층(130, 135)의 변형에 따른 제 3신호선 전극(150) 전압을 측정하며, 그리고상기 제 4신호선 전극(155)을 접지상태로 하고 상기 제 3신호선 전극(150)을 개방상태로 하되, 상기 제 1신호선 전극(140)을 기준전압으로 하고 상기 제 2신호선 전극(145)에서 상기 전압 측정수단이 상기 적어도 어느 하나에 형성된 감압형 저항층(130, 135)의 변형에 따른 제 2신호선 전극 전압을 측정하는 제 1전압 측정단계(S530); 및제어수단이 상기 측정된 제 3신호선 전극 전압 및 상기 측정된 제 2신호선 전극 전압에 기초하여 상기 적어도 어느 하나에 형성된 감압형 저항층(130, 135)의 물리량으로서, 상기 포인팅 오브젝트의 접촉에 대응하는 상기 접촉힘의 세기를 도출하는 단계(S540);를 포함하는 것을 특징으로 하는 접촉저항형 터치입력기기를 이용한 접촉힘 및 접촉위치 측정방법
22 22
제 21항에 있어서,상기 제 2변형단계(S520)는, 제 1기판(200) 및 제 2기판(210) 중 적어도 어느 하나에 형성된 감압형 저항층(235)의 변형과 함께 상기 제 1기판(200)에 형성된 상기 제 1위치측정용 저항층(280) 및 상기 제 2기판(210)에 형성된 상기 제 2위치측정용 저항층(285)이 변형되는 단계(S620)이며,상기 접촉힘 도출단계(S540) 이후에,상기 제 1신호선 전극(240) 및 상기 제 2신호선 전극(245) 중 어느 하나를 기준전압으로 두고 다른 하나를 접지한 상태에서, 상기 제 3신호선 전극(250) 및 상기 제 4신호선 전극(255) 중 어느 하나를 개방상태로 하고 다른 하나에서 전압 측정수단이 일 방향으로 접촉위치 측정을 위해 제 1위치측정용 저항층 전압을 측정하며, 그리고상기 제 3신호선 전극(250) 및 상기 제 4신호선 전극(255) 중 어느 하나를 기준전압으로 두고 다른 하나를 접지한 상태에서, 상기 제 1신호선 전극(240) 및 상기 제 2신호선 전극(245) 중 어느 하나를 개방상태로 하고 다른 하나에서 상기 전압 측정수단이 상기 일 방향에 수직인 방향으로 접촉위치 측정을 위해 제 2위치측정용 저항층 전압을 측정하는 제 2전압 측정단계(S650); 및상기 제어수단이 상기 측정된 제 1위치측정용 저항층 전압 및 상기 측정된 제 2위치측정용 저항층 전압에 기초하여 상기 포인팅 오브젝트의 2차원 접촉위치를 도출하는 단계(S660);를 포함하는 것을 특징으로 하는 접촉저항형 터치입력기기를 이용한 접촉힘 및 접촉위치 측정방법
23 23
제 21항에 있어서,상기 제 2변형단계(S520)는, 제 1기판(200) 및 제 2기판(210) 중 적어도 어느 하나에 형성된 감압형 저항층(235)의 변형과 함께 상기 제 1기판(200)에 형성된 상기 제 1위치측정용 저항층(280) 및 상기 제 2기판(210)에 형성된 상기 제 2위치측정용 저항층(285)이 변형되는 단계(S720)이며,상기 위치측정용 저항층 변형단계(S720)와 상기 제 1전압 측정단계(S530) 사이에,상기 제 1신호선 전극(240) 및 상기 제 2신호선 전극(245) 중 어느 하나를 기준전압으로 두고 다른 하나를 접지한 상태에서, 상기 제 3신호선 전극(250) 및 상기 제 4신호선 전극(255) 중 어느 하나를 개방상태로 하고 다른 하나에서 전압 측정수단이 일 방향으로 위치 측정을 위해 제 1위치측정용 저항층 전압을 측정하며, 그리고상기 제 3신호선 전극(250) 및 상기 제 4신호선 전극(255) 중 어느 하나를 기준전압으로 두고 다른 하나를 접지한 상태에서, 상기 제 1신호선 전극(240) 및 상기 제 2신호선 전극(245) 중 어느 하나를 개방상태로 하고 다른 하나에서 상기 전압 측정수단이 상기 일 방향에 수직인 방향으로 위치 측정을 위해 제 2위치측정용 저항층 전압을 측정하는 제 2전압 측정단계(S722); 및상기 제어수단이 상기 측정된 제 1위치측정용 저항층 전압 및 상기 측정된 제 2위치측정용 저항층 전압에 기초하여 상기 포인팅 오브젝트의 2차원 접촉위치를 도출하는 단계(S724);를 포함하는 것을 특징으로 하는 접촉저항형 터치입력기기를 이용한 접촉힘 및 접촉위치 측정방법
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소정 갭(120, 220, 320)을 유지하면서 상호 평행하게 배열된 제 1기판(100, 200, 300) 및 제 2기판(110, 210, 310) 중 어느 하나가 온도 변화에 따라 변형되는 제 3변형단계(S810);상기 제 1기판(100, 200, 300) 또는 상기 제 2기판(110, 210, 310)으로부터 열에너지를 전달받아 상기 제 1기판(100, 200, 300)과 상기 제 2기판(110, 210, 310) 사이에 위치하며 상기 제 1기판(100, 200, 300) 및 상기 제 2기판(110, 210, 310) 중 적어도 어느 하나에 형성된 감압형 저항층(130, 135, 235, 330, 335)이 변형되는 제 4변형단계(S820);상기 제 1기판(100,200,300)에 형성되어 제 1감압형 저항층(130, 330) 또는 제 1위치측정용 저항층(280, 380)에 연결된 제 1신호선 전극(140, 240, 340) 및 제 2신호선 전극(145, 245, 345)을 개방한 상태에서 상기 제 2기판(110, 210, 310)에 형성되어 제 2감압형 저항층(135, 235, 335) 또는 제 2위치측정용 저항층(280, 380)에 연결된 제 3신호선 전극(150, 250, 350)과 제 4신호선 전극(155, 255, 355) 사이에서 전압 측정수단이 상기 적어도 어느 하나에 형성된 감압형 저항층(130, 135, 235, 330, 335)의 전압을 측정하는 단계(S830) 또는상기 제 3신호선 전극(150, 250, 350) 및 상기 제 4신호선 전극(155, 255, 355)을 개방한 상태에서 상기 제 1신호선 전극(140, 240, 340)과 상기 제 2신호선 전극(145, 245, 345) 사이에서 상기 전압 측정수단이 상기 적어도 어느 하나에 형성된 감압형 저항층(130, 135, 235, 330, 335)의 전압을 측정하는 단계(S840)가 택일적으로 실행되는 단계; 및제어수단이 측정된 상기 적어도 어느 하나에 형성된 감압형 저항층(130, 135, 235, 330, 335)의 전압에 기초하여 상기 적어도 어느 하나에 형성된 감압형 저항층(130, 135, 235, 330, 335)의 물리량으로서, 상기 온도 변화에 대응하는 저항의 온도 보상값을 도출하는 단계(S850);를 포함하는 것을 특징으로 하는 접촉힘 및 접촉위치 측정이 가능한 터치입력기기의 온도 보상값 도출방법
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