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금속나노입자 패턴의 전기적 특성을 이용한 검출방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2015180370
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 예를 들어 유기, 무기, 금속, 천연 또는 합성 생체물질의 유/무, 종류 및/또는 그 농도를 측정할 수 있는 검출방법 및 장치에 관한 것이다. 본 발명에서, 검출대상 물질에 의해 금속이온이 금속으로 환원되며, 금속이온의 환원 및 석출에 의해 기판 상에 일정한 패턴을 갖도록 배열된 금속나노입자의 형상 또는 크기가 변하는 것을 이용하여 전기적으로 검출대상 물질의 유/무, 종류 및/또는 그 농도를 측정할 수 있다.
Int. CL G01R 27/00 (2006.01) G01N 27/26 (2006.01) G01N 27/06 (2006.01)
CPC G01N 27/26(2013.01) G01N 27/26(2013.01) G01N 27/26(2013.01) G01N 27/26(2013.01) G01N 27/26(2013.01)
출원번호/일자 1020100130665 (2010.12.20)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-1266016-0000 (2013.05.14)
공개번호/일자 10-2012-0069218 (2012.06.28) 문서열기
공고번호/일자 (20130522) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.12.20)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 하동한 대한민국 대전광역시 유성구
2 김한중 대한민국 대전광역시 서구
3 손희진 대한민국 대전광역시 서구
4 김상훈 대한민국 경상북도 문경시 모전천길

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김종관 대한민국 대전광역시 서구 한밭대로 ***번지 (둔산동, 사학연금회관) **층(특허법인 플러스)
2 박창희 대한민국 대전광역시 서구 한밭대로 ***번지 (둔산동, 사학연금회관) **층(특허법인 플러스)
3 권오식 대한민국 대전광역시 서구 한밭대로 ***번지 (둔산동, 사학연금회관) **층(특허법인 플러스)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.12.20 수리 (Accepted) 1-1-2010-0839030-42
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2012.05.25 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2012.06.29 수리 (Accepted) 9-1-2012-0053765-90
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.09.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0540882-17
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.11.07 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0913575-07
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.11.07 수리 (Accepted) 1-1-2012-0913592-73
7 등록결정서
Decision to grant
2013.03.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0203674-91
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
a) 절연기판 및 상기 절연기판 상에 금속나노입자가 일정 패턴으로 형성된 검출기판에 금속 이온을 함유하는 검출용액을 접촉시키는 단계;b) 상기 검출용액에 상기 금속이온을 환원시키는 검출대상 물질을 함유하는 반응용액을 투입하는 단계; 및c) 상기 검출용액과 상기 반응용액이 혼합된 혼합용액으로부터 분리된 검출기판의 전기전도도를 측정하는 단계;를 포함하는 금속나노입자 패턴을 이용한 물질의 검출방법
2 2
제 1항에 있어서,상기 검출대상 물질에 의해 상기 금속이온이 상기 금속나노입자에 환원 및 석출되어 상기 금속나노입자의 형상, 크기 또는 패턴이 변화하는 것을 특징으로 하는 금속나노입자 패턴을 이용한 물질의 검출방법
3 3
제 1항에 있어서,a) 단계 이전에, 검출기판의 전기전도도를 측정하는 레퍼런스(reference) 측정 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 금속나노입자 패턴을 이용한 물질의 검출방법
4 4
제 3항에 있어서,상기 레퍼런스 측정에 의한 전기전도도와 상기 c) 단계의 전기전도도의 변화를 기반으로 상기 검출대상 물질의 종류, 농도 또는 이 둘 모두를 검출하는 것을 특징으로 하는 금속나노입자 패턴을 이용한 물질의 검출방법
5 5
제 1항에 있어서, 상기 패턴은 직사각형, 정사각형, 정육각형 및 평행사변형으로 구성된 군으로부터 선택되는 다각형을 기본 형상으로 하여 상기 다각형의 각 꼭짓점과 중심점에 하나 이상의 금속나노입자의 모티프(motif)로 구성된 것을 특징으로 하는 금속나노입자 패턴을 이용한 물질의 검출방법
6 6
제 1항에 있어서, 상기 금속나노입자의 크기는 10 nm 내지 1000 nm 인 것을 특징으로 하는 금속나노입자 패턴을 이용한 물질의 검출방법
7 7
제 5항에 있어서, 상기 다각형의 변의 길이는 50 nm 내지 5000 nm 인 것을 특징으로 하는 금속나노입자 패턴을 이용한 물질의 검출방법
8 8
제 5항에 있어서, 상기 모티프(motif)는 1개 내지 6개의 금속나노입자로 구성되는 것을 특징으로 하는 금속나노입자 패턴을 이용한 물질의 검출방법
9 9
제 5항에 있어서, 상기 모티프(motif)를 구성하는 금속나노입자의 입자간 간격은 0 nm 초과 내지 100 nm인 것을 특징으로 하는 금속나노입자 패턴을 이용한 물질의 검출방법
10 10
제 4항에 있어서, 상기 검출대상물질의 종류 및 농도는 물질의 종류, 물질별 전기전도도, 농도별 전기전도도 및 측정조건으로 구성된 룩업테이블을 이용하는 것을 특징으로 하는 금속나노입자 패턴을 이용한 물질의 검출방법
11 11
제 10항에 있어서, 상기 검출대상물질은 유기물, 고분자, 무기물, 금속, 천연 또는 합성 생체물질이며,상기 측정조건은 상기 검출용액의 부피, 상기 검출용액의 금속이온 농도, 상기 검출용액의 금속이온 물질, 상기 반응용액의 부피, 반응온도, 반응시간, 상기 기판의 물질, 상기 금속나노입자의 물질, 상기 패턴 또는 이들의 조합을 파리미터로 가지며,상기 물질별 전기전도도는 상기 물질의 종류 각각의 상기 측정조건의 파리미터에 따라 측정된 전기전도도이며,상기 농도별 전기전도도는 특정한 상기 물질의 종류에서 농도별로 상기 측정조건의 파리미터에 따라 측정된 전기전도도인 것을 특징으로 하는 금속나노입자 패턴을 이용한 물질의 검출방법
12 12
제 1항에 있어서, 상기 금속나노입자는 Au, Pt, Ag, Cu, Pb, Sn, Ni, Co, Zn, Mn, Al 및 Mg로 구성된 군으로부터 단독으로 또는 조합적으로 선택되는 나노입자이며, 상기 금속이온은 Au, Pt, Ag, Cu, Pb, Sn, Ni, Co, Zn, Mn, Al 및 Mg 이온으로 구성된 군으로부터 단독으로 또는 조합적으로 선택되는 이온인 것을 특징으로 하는 금속나노입자 패턴을 이용한 물질의 검출방법
13 13
삭제
14 14
삭제
15 15
절연기판 및 상기 절연기판 상에 금속나노입자가 일정 패턴으로 형성된 검출기판과 금속 이온을 함유하는 검출용액을 접촉시킨 후, 상기 금속이온을 환원시키는 검출대상 물질을 함유하는 반응용액을 상기 검출용액에 투입하여, 상기 검출대상 물질에 의해 상기 금속이온이 상기 금속나노입자에 환원 및 석출됨으로써 상기 금속나노입자의 크기, 형상 또는 패턴이 변화되는 것을 특징으로 하고, 상기 금속나노입자 패턴 양단에 형성된 전극을 통하여 바이어스 전압을 인가함과 동시에 전류량을 측정하는 전압-전류 측정기를 더 포함하여 구성되며,상기 검출용액과 반응용액의 혼합액으로부터 분리된 상기 검출기판의 전기전도도를 측정하여 검출대상물질의 종류, 유/무 및 농도를 검출하는 것을 특징으로 하는 금속나노입자 패턴을 이용한 물질의 검출키트
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지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.