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광학 장치

  • 기술번호 : KST2015180373
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 광학 장치를 제공한다. 이 광학 장치는 스캐닝하는 평행빔을 제공하는 스캐닝부, 평행빔이 공통 상면(intermediate image plane; IIP)에 초점 궤적들을 형성하도록 제공하는 어댑터 렌즈 모듈(ALM), 및 초점 궤적들을 샘플에 집속하여 샘플 상면에 전달하고 샘플에 삽입 가능한 프로브 렌즈 모듈(Probe Lens Module;PLM)을 포함한다.
Int. CL G01J 3/44 (2006.01) G02B 26/08 (2006.01) G02B 21/06 (2006.01) G01N 21/65 (2006.01)
CPC G01J 3/44(2013.01) G01J 3/44(2013.01) G01J 3/44(2013.01) G01J 3/44(2013.01) G01J 3/44(2013.01)
출원번호/일자 1020100103233 (2010.10.22)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-1261271-0000 (2013.04.30)
공개번호/일자 10-2012-0041863 (2012.05.03) 문서열기
공고번호/일자 (20130507) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.10.22)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이재용 대한민국 충청북도 청주시 상당구
2 이은성 대한민국 대전광역시 유성구
3 문대원 대한민국 대전광역시 유성구
4 임천석 대한민국 대전광역시 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이평우 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 **길 **-*(역삼동, IT빌딩 *층)(특허법인 누리)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.10.22 수리 (Accepted) 1-1-2010-0682624-14
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2011.10.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.11.18 수리 (Accepted) 9-1-2011-0091101-40
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.03.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0167613-47
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.04.26 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0333228-20
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.04.26 수리 (Accepted) 1-1-2012-0333219-19
7 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2012.10.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0647396-59
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.11.14 수리 (Accepted) 1-1-2012-0936025-91
9 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2012.11.14 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2012-0935991-92
10 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.12.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0755446-00
11 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.02.04 수리 (Accepted) 1-1-2013-0101348-16
12 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.02.04 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0101340-41
13 등록결정서
Decision to Grant Registration
2013.04.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0281117-99
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
스캐닝하는 평행빔을 제공하는 스캐닝부;상기 평행빔이 공통 상면(intermediate image plane; IIP)에 초점 궤적들을 형성하도록 제공하는 어댑터 렌즈 모듈(ALM); 및상기 초점 궤적들을 샘플에 집속하여 샘플 상면에 전달하고 상기 샘플에 삽입 가능한 프로브 렌즈 모듈(Probe Lens Module;PLM)을 포함하고,상기 평행빔의 초점 평면을 상기 공통 상면에 배치되도록 상기 어댑터 렌즈 모듈과 상기 스캐닝부 사이에 배치되는 구경 조리개를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 장치
2 2
제1 항에 있어서,상기 스캐닝부는 서로 다른 파장의 펌프 빔과 스톡스 빔을 스캐닝하고, 상기 샘플의 집속된 점은 간섭성 엔티-스톡스 라만 산란 신호(Coherent Anti-Stokes Raman Scattering Signal; CARS signal)를 출력하는 것을 특징으로 하는 광학 장치
3 3
제2 항에 있어서,상기 펌프 빔의 파장은 817 nm이고, 상기 스톡스 빔의 파장은 1064 nm 인 것을 특징으로 하는 광학 장치
4 4
제2 항에 있어서,상기 스캐닝부와 상기 프로브 렌즈 모듈 사이의 광 경로에 배치되고, 상기 프로브 렌즈 모듈 및 상기 어댑터 렌즈 모듈을 통과한 상기 간섭성 엔티-스톡스 라만 산란 신호를 선택적으로 반사하는 이색성 거울(dichroic mirror); 및상기 이색성 거울을 통하여 선택적으로 반사된 상기 간섭성 엔티-스톡스 라만 산란 신호를 검출하는 검출기; 중에서 적어도 하나를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 장치
5 5
제1 항에 있어서,상기 프로브 렌즈 모듈의 길이는 25 mm 이상이고, 상기 프로브 렌즈 모듈의 광학구경(Clear Aperture)의 직경은 2
6 6
제1 항에 있어서,상기 프로브 렌즈 모듈의 상기 샘플 측의 수치구경(numerical aperture)은 물 잠김(water immersion)을 고려하여 0
7 7
제1 항에 있어서,상기 프로브 렌즈 모듈의 물체 측의 수치구경(numerical aperture)은 0
8 8
스캐닝하는 평행빔을 제공하는 스캐닝부;상기 평행빔이 공통 상면(intermediate image plane; IIP)에 초점 궤적들을 형성하도록 제공하는 어댑터 렌즈 모듈(ALM); 및상기 초점 궤적들을 샘플에 집속하여 샘플 상면에 전달하고 상기 샘플에 삽입 가능한 프로브 렌즈 모듈(Probe Lens Module;PLM)을 포함하고,상기 프로브 렌즈 모듈의 렌즈의 개수는 적어도 8매이고, 구면 및 평면으로 구성된 것을 특징으로 하는 광학 장치
9 9
제1 항에 있어서,상기 샘플 측 시야는 0
10 10
삭제
11 11
삭제
12 12
스캐닝하는 평행빔을 제공하는 스캐닝부;상기 평행빔이 공통 상면(intermediate image plane; IIP)에 초점 궤적들을 형성하도록 제공하는 어댑터 렌즈 모듈(ALM); 및상기 초점 궤적들을 샘플에 집속하여 샘플 상면에 전달하고 상기 샘플에 삽입 가능한 프로브 렌즈 모듈(Probe Lens Module;PLM)을 포함하고,상기 평행빔의 초점 평면을 상기 공통 상면에 배치되도록 상기 어댑터 렌즈 모듈과 상기 스캐닝부 사이에 배치되는 구경 조리개를 더 포함하고,상기 프로브 렌즈 모듈은 글래어 스톱을 포함하고,상기 프로브 렌즈 모듈과 상기 어댑터 렌즈 모듈은 다음의 조건을 충족하고,여기서, S는 공통 상면과 상기 글래어 스톱 사이의 거리이고,fa는 상기 어댑터 렌즈 모듈의 유효 초점 거리이고,D는 구경 조리개의 직경이고,NAO는 상기 프로브 렌즈 모듈의 물체 측 수치구경이고, 및η는 공통 상면 높이인 것을 특징으로 하는 광학 장치
13 13
삭제
14 14
어댑터 렌즈 모듈(ALM)을 포함하는 광학 장치에 있어서,상기 어댑터 렌즈 모듈은 스캐닝하는 평행빔을 제공하는 스캐닝부와 초점 궤적들을 샘플에 집속하여 전달하고 상기 샘플에 삽입가능한 프로브 렌즈 모듈(Probe Lens Module;PLM) 사이에 배치되고, 상기 평행빔이 공통 상면(intermediate image plane; IIP)에 상기 초점 궤적들을 형성하도록 제공하는 어댑터 렌즈 모듈(ALM)을 포함하고,상기 평행빔의 초 점 평면을 상기 공통 상면에 배치되도록 상기 어댑터 렌지 모듈과 상기 스캐닝부 사이에 배치되는 구경 조리개를 더 포함하고,상기 구경 조리개의 중심을 통과한 주광선(principal ray)은 상기 어댑터 렌즈 모듈에서 굴절되어, 상기 어댑터 렌즈 모듈의 광축에 소정의 각도를 유지하면서 상기 공통 상면에 입사하는 것을 특징 으로 하는 광학 장치
15 15
어댑터 렌즈 모듈(ALM)을 포함하는 광학 장치에 있어서,상기 어댑터 렌즈 모듈은 스캐닝하는 평행빔을 제공하는 스캐닝부와 초점 궤적들을 샘플에 집속하여 전달하고 상기 샘플에 삽입가능한 프로브 렌즈 모듈(Probe Lens Module;PLM) 사이에 배치되고, 상기 평행빔이 공통 상면(intermediate image plane; IIP)에 상기 초점 궤적들을 형성하도록 제공하는 어댑터 렌즈 모듈(ALM)을 포함하고,상기 프로브 렌즈 모듈은 글래어 스톱을 포함하고,상기 프로브 렌즈 모듈과 상기 어댑터 렌즈 모듈은 다음의 조 건을 충족하고,여기서, S는 공통 상면과 상기 글래어 스톱 사이의 거리이고,fa는 상기 어댑터 렌즈 모듈의 유효 초점 거리이고,D는 구경 조리개의 직경이고,NAO는 상기 프로브 렌즈 모듈의 물체 측 수치구경이고, 및η는 공통 상면 높이인 것을 특징으로 하는 광학 장치
16 16
어댑터 렌즈 모듈(ALM)을 포함하는 광학 장치에 있어서,상기 어댑터 렌즈 모듈은 스캐닝하는 평행빔을 제공하는 스캐닝부와 초점 궤적들을 샘플에 집속하여 전달하고 상기 샘플에 삽입가능한 프로브 렌즈 모듈(Probe Lens Module;PLM) 사이에 배치되고, 상기 평행빔이 공통 상면(intermediate image plane; IIP)에 상기 초점 궤적들을 형성하도록 제공하는 어댑터 렌즈 모듈(ALM)을 포함하고,상기 어댑터 렌즈 모듈(ALM)은 적어도 8 매의 렌즈를 포함하고, 상기 렌즈는 평면 또는 구면으로 형성된 것을 특징으로 하는 광학 장치
17 17
삭제
18 18
프로브 렌즈 모듈(PLM)을 포함하는 광학 장치에 있어서,스캐닝하는 평행빔을 제공하는 스캐닝부와 상기 평행빔이 공통 상면(intermediate image plane; IIP)에 초점 궤적들을 형성하도록 제공하는 어댑터 렌즈 모듈(ALM)을 통하여 제공되는 상기 초점 궤적들을 샘플에 집속하여 샘플 상면에 전달하고 상기 샘플에 삽입 가능하고,상기 프로브 렌즈 모듈의 길이 는 25 mm 이상이고, 상기 프로브 렌즈 모듈의 광학구경(Clear Aperture)의 직경은 2
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 한국표준과학연구원 국가연구개발사업 CARS 기반 생체조직 분석 및 세포 지질 이미지 기반 신약스크린 기술 개발