| 1 |
1
기술 파급관계 분석방법에 있어서(A) 선정부가 대표 국제특허분류(MIPC, Main International Patent Classification)를 선정하는 선정단계;(B) 분류부가 상기 (A) 단계에서 선정된 상기 대표 국제특허분류 각각에 속하는 제1 특허를 인용하는 제2 특허를 상기 대표 국제특허분류로 분류하는 분류단계; 및(C) 추출부가 상기 (B) 단계에서 분류된 상기 제2 특허 정보에 기초하여 연산함으로써 적어도 하나의 투자 효율도 파라미터를 추출하는 추출단계를 포함하고,상기 대표 국제특허분류는 임의의 기술분야의 국제특허분류(IPC) 중 기 설정된 기간 동안 기 설정된 개수 이상 공개된 건이 존재하는 국제특허분류이며,상기 파라미터는,다음의 수학식 1 내지 수학식 4에 의해서 수행되어 산출되는 것을 특징으로 하는 국제특허분류를 이용하는 기술 파급관계 분석방법
|
| 2 |
2
청구항 1에 있어서, 상기 (A) 단계의 상기 대표 국제특허분류는지질자원 기술분야에 속하는 국제특허분류인 것을 특징으로 하는 국제특허분류를 이용하는 기술 파급관계 분석방법
|
| 3 |
3
청구항 2에 있어서, 상기 대표 국제특허분류는C22B, C04B, G01N, G01V, C02F, C01F, B22F, C01B, B01J, B01D, E21B, B03C, C01G, E02D, B82B, C25C, H01M, G06F, B03B, C09K, B02C, B09C, B09B, E21C, G01B, B07B, G01C를 포함하는 것을 특징으로 하는 국제특허분류를 이용하는 기술 파급관계 분석방법
|
| 4 |
4
청구항 3에 있어서, 상기 대표 국제특허분류는상기 대표 국제특허분류에 속하는 상기 제1 특허가 적어도 10개인 것을 특징으로 하는 국제특허분류를 이용하는 기술 파급관계 분석방법
|
| 5 |
5
청구항 1에 있어서, 상기 (B) 단계에서 상기 분류는상기 대표 국제특허분류를 종축과 횡축으로 동일한 순서로 배열하되,상기 종축은 상기 제1 특허의 대표 국제특허분류이고, 상기 횡축은 상기 제2 특허의 대표 국제특허분류인 것을 특징으로 하는 국제특허분류를 이용하는 기술 파급관계 분석방법
|
| 6 |
6
청구항 5에 있어서, 상기 종축과 상기 횡축이 만나는 지점은상기 제1특허를 인용하는 상기 제2 특허의 개수인 것을 특징으로 하는 국제특허분류를 이용하는 기술 파급관계 분석방법
|
| 7 |
7
청구항 6에 있어서, 상기 종축의 대표 국제특허분류와 상기 횡축의 대표 국제특허분류가 동일한 지점은 자기인용 지점으로서, 그 개수를 0으로 기재하는 것을 특징으로 하는 국제특허분류를 이용하는 기술 파급관계 분석방법
|
| 8 |
8
삭제
|
| 9 |
9
청구항 1에 있어서, 상기 파라미터는상기 제1 특허의 해당 대표 국제특허분류가 상기 제2 특허의 대표 국제특허분류들에 미치는 영향을 보여주는 파급도 및상기 제2 특허의 해당 대표 국제특허분류가 상기 제1 특허의 대표 국제특허분류에 미치는 영향을 보여주는 피파급도를 포함하는 것을 특징으로 하는 국제특허분류를 이용하는 기술 파급관계 분석방법
|
| 10 |
10
청구항 9에 있어서, 상기 파라미터는상기 파급도와 피파급도의 합으로 산출되는 중요도 및상기 파급도와 피파급도의 차로 산출되는 인과도를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 국제특허분류를 이용하는 기술 파급관계 분석방법
|
| 11 |
11
청구항 10에 있어서, 상기 투자 효율도는상기 중요도와 상기 인과도에 의해 결정되는 것을 특징으로 하는 국제특허분류를 이용하는 기술 파급관계 분석방법
|
| 12 |
12
기술 파급관계 분석장치에 있어서대표 국제특허분류(MIPC, Main International Patent Classification)를 선정하는 선정부;상기 선정부에 의해 선정된 상기 대표 국제특허분류 각각에 속하는 제1 특허를 인용하는 제2 특허를 상기 대표 국제특허분류로 분류하는 분류부; 및상기 분류부에 의해 분류된 상기 대표 국제특허분류를 상기 제2 특허 정보에 기초하여 연산함으로써 적어도 하나의 투자 효율도 파라미터를 추출하고, 상기 파라미터에 근거하여 투자 효율도 분석 그래프를 출력하는 추출부;를 포함하고,상기 파라미터는다음의 수학식 1 내지 수학식 4에 의해서 수행되어 산출되는 것을 특징으로 하는 국제특허분류를 이용하는 기술 파급관계 분석장치
|
| 13 |
13
청구항 12에 있어서, 상기 분류부는상기 대표 국제특허분류를 종축과 횡축으로 동일한 순서로 배열하되,상기 종축은 상기 제1 특허의 대표 국제특허분류이고, 상기 횡축은 상기 제2 특허의 대표 국제특허분류인 것을 특징으로 하는 국제특허분류를 이용하는 기술 파급관계 분석장치
|
| 14 |
14
삭제
|
| 15 |
15
청구항 12에 있어서, 상기 파라미터는상기 제1 특허의 해당 대표 국제특허분류가 상기 제2 특허의 대표 국제특허분류들에 미치는 영향을 보여주는 파급도;상기 제2 특허의 해당 대표 국제특허분류가 상기 제1 특허의 대표 국제특허분류에 미치는 영향을 보여주는 피파급도;상기 파급도와 상기 피파급도의 합으로 산출되는 중요도 및상기 파급도와 상기 피파급도의 차로 산출되는 인과도를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 국제특허분류를 이용하는 기술 파급관계 분석장치
|
