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테라헤르츠용 포장지, 감지 센서 및 테라헤르츠파를 이용한 검출 장치

  • 기술번호 : KST2015183460
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 일 실시예와 관련된 테라헤르츠파용 포장지는 테라헤르츠파를 투과시키는 물질로 이루어진 테라헤르츠파 투과층 및 상기 테라헤르츠파 투과층을 투과한 테라헤르츠파 중 미리 설정된 주파수 대역에 반응하여 전계를 강화시키는 전계 강화 구조체를 포함한다.
Int. CL B65D 65/40 (2006.01) G01J 1/02 (2006.01) H05K 9/00 (2006.01)
CPC B65D 65/40(2013.01) B65D 65/40(2013.01) B65D 65/40(2013.01) B65D 65/40(2013.01) B65D 65/40(2013.01) B65D 65/40(2013.01) B65D 65/40(2013.01) B65D 65/40(2013.01) B65D 65/40(2013.01) B65D 65/40(2013.01) B65D 65/40(2013.01)
출원번호/일자 1020130085144 (2013.07.19)
출원인 한국식품연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2015-0010853 (2015.01.29) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.01.13)
심사청구항수 15

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국식품연구원 대한민국 전라북도 완주군

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최성욱 대한민국 경기도 용인시 수지구
2 김현정 대한민국 서울 서초구
3 이나리 대한민국 서울 구로구
4 장현주 대한민국 서울특별시 송파구
5 옥경식 대한민국 경기도 오산시 가수로

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인태하 대한민국 경기도 수원시 영통구 봉영로 ****, ***호(영통동, 한솔프라자)
2 전수진 대한민국 경기도 수원시 영통구 봉영로 ****, ***호(영통동, 한솔프라자)(특허법인태하)
3 김종승 대한민국 경기도 수원시 영통구 봉영로 ****, ***호(영통동, 한솔프라자)(특허법인태하)
4 윤정호 대한민국 경기도 수원시 영통구 봉영로 ****, ***호(영통동, 한솔프라자)(특허법인태하)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국식품연구원 전라북도 완주군
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.07.19 수리 (Accepted) 1-1-2013-0651202-59
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2013.08.21 수리 (Accepted) 1-1-2013-0760397-66
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.13 수리 (Accepted) 4-1-2014-0008534-79
4 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2015.10.06 수리 (Accepted) 1-1-2015-0968596-36
5 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2015.10.06 불수리 (Non-acceptance) 1-1-2015-0968695-58
6 서류반려이유통지서
Notice of Reason for Return of Document
2015.10.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2015-0161646-64
7 서류반려통지서
Notice for Return of Document
2015.11.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2015-0178020-91
8 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2016.01.13 수리 (Accepted) 1-1-2016-0036014-72
9 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.04.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0255356-88
10 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2017.05.11 수리 (Accepted) 1-1-2017-0446470-63
11 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.05.15 수리 (Accepted) 1-1-2017-0460272-58
12 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.05.15 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0460283-50
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.09.25 수리 (Accepted) 4-1-2017-5155082-90
14 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.09.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0674291-70
15 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.11.27 수리 (Accepted) 1-1-2017-1180166-50
16 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.11.27 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-1180190-46
17 등록결정서
Decision to grant
2018.04.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0228494-82
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.07.08 수리 (Accepted) 4-1-2019-5135028-45
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.09.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5176835-79
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2020-5030341-61
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.04 수리 (Accepted) 4-1-2020-5124131-17
22 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.09.08 수리 (Accepted) 4-1-2020-5203003-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
테라헤르츠파를 투과시키는 물질로 이루어진 테라헤르츠파 투과층;상기 테라헤르츠파 투과층을 투과한 테라헤르츠파 중 미리 설정된 주파수 대역에 반응하여 전계를 강화시키는 전계 강화 구조체; 및상기 전계 강화 구조체와 결합되고, 특정 물질만을 상기 전계 강화 구조체로 통과시키는 필터층;을 포함하는 테라헤르츠파용 포장지
2 2
삭제
3 3
테라헤르츠파를 투과시키는 물질로 이루어진 테라헤르츠파 투과층;상기 테라헤르츠파 투과층을 투과한 테라헤르츠파 중 미리 설정된 주파수 대역에 반응하여 전계를 강화시키는 전계 강화 구조체; 상기 전계 강화 구조체와 결합되고, 특정 물질과만 결합하는 선택적 감지층; 및상기 특정 물질만을 상기 선택적 감지층으로 통과시키는 필터층을 포함하는, 테라헤르츠파용 포장지
4 4
제 1 항 또는 제 3 항에 있어서,상기 테라헤르츠파 투과층 및 상기 전계 강화 구조체의 양측면에 형성되고, 테라헤르츠파를 차단하는 테라헤르츠파 차단층을 더 포함하는 테라헤르츠파용 포장지
5 5
제 1 항 또는 제 3 항에 있어서,상기 전계 강화 구조체는,회절 격자, 메탈 메쉬, 메타물질, 광원의 파장 이하의 폭을 갖는 개구부(opening)를 포함하는 금속층, 표면 플라즈몬 공명을 유도하는 구조물 및 광결정 구조물 중 적어도 어느 하나인 테라헤르츠파용 포장지
6 6
테라헤르츠파가 투과되는 영역을 포함하는 포장 용기 내에 삽입되는 테라헤르츠파용 감지 센서에 있어서,테라헤르츠파를 투과시키는 물질로 이루어진 기판층; 상기 기판층에 위에 형성되고, 상기 기판층을 투과한 테라헤르츠파 중 미리 설정된 주파수 대역에 반응하여 전계를 강화시키는 전계 강화 구조체; 및상기 전계 강화 구조체와 결합되고, 특정 물질만을 상기 전계 강화 구조체로 통과시키는 필터층;을 포함하는 테라헤르츠파용 감지 센서
7 7
삭제
8 8
테라헤르츠파가 투과되는 영역을 포함하는 포장 용기 내에 삽입되는 테라헤르츠파용 감지 센서에 있어서,테라헤르츠파를 투과시키는 물질로 이루어진 기판층; 상기 기판층에 위에 형성되고, 상기 기판층을 투과한 테라헤르츠파 중 미리 설정된 주파수 대역에 반응하여 전계를 강화시키는 전계 강화 구조체;상기 전계 강화 구조체와 결합되고, 특정 물질과만 결합하는 선택적 감지층; 및상기 특정 물질만을 상기 선택적 감지층으로 통과시키는 필터층을 포함하는 테라헤르츠파용 감지 센서
9 9
제 6 항 또는 제 8항에 있어서,상기 전계 강화 구조체는,회절 격자, 메탈 메쉬, 메타물질, 광원의 파장 이하의 폭을 갖는 개구부(opening)를 포함하는 금속층, 표면 플라즈몬 공명을 유도하는 구조물 및 광결정 구조물 중 적어도 어느 하나인 테라헤르츠파용 감지 센서
10 10
테라헤르츠파를 투과시키는 물질로 이루어진 테라헤르츠파 투과층과, 상기 테라헤르츠파 투과층을 투과한 테라헤르츠파 중 미리 설정된 주파수 대역에 반응하여 전계를 강화시키는 전계 강화 구조체와, 상기 전계 강화 구조체와 결합되고, 특정 물질만을 상기 전계 강화 구조체로 통과시키는 필터층을 포함하는 테라헤르츠파용 포장지;상기 포장지로 테라헤르츠파를 조사하는 테라헤르츠 광원; 및상기 포장지로부터 생성된 테라헤르츠파의 특성을 검출하는 검출부를 포함하는 테라헤르츠파를 이용한 검출 장치
11 11
제 10 항에 있어서,상기 검출된 테라헤르츠파와 기준 테라헤르츠파를 비교하여, 상기 전계 강화 구조체 주변의 변화가 있는지 여부를 판단하는 판단부를 더 포함하는 테라헤르츠파를 이용한 검출 장치
12 12
제 11 항에 있어서,상기 판단부는,상기 검출된 테라헤르츠파의 공진 주파수와, 상기 기준 테라헤르츠파의 공진 주파수가 설정된 범위 이상으로 차이가 나는 경우, 상기 전계 강화 구조체 주변의 변화가 있다고 판단하는 테라헤르츠파를 이용한 검출 장치
13 13
삭제
14 14
테라헤르츠파를 투과시키는 물질로 이루어진 테라헤르츠파 투과층과, 상기 테라헤르츠파 투과층을 투과한 테라헤르츠파 중 미리 설정된 주파수 대역에 반응하여 전계를 강화시키는 전계 강화 구조체와, 상기 전계 강화 구조체와 결합되고, 특정 물질과만 결합하는 선택적 감지층과, 상기 특정 물질만을 상기 선택적 감지층으로 통과시키는 필터층을 포함하는 테라헤르츠파용 포장지;상기 포장지로 테라헤르츠파를 조사하는 테라헤르츠 광원; 및상기 포장지로부터 생성된 테라헤르츠파의 특성을 검출하는 검출부를 포함하는 테라헤르츠파를 이용한 검출 장치
15 15
제 10 항 또는 제 14 항에 있어서,상기 포장지는상기 테라헤르츠파 투과층 및 상기 전계 강화 구조체의 양측면에 형성되고, 테라헤르츠파를 차단하는 테라헤르츠파 차단층을 더 포함하는 테라헤르츠파를 이용한 검출 장치
16 16
테라헤르츠파를 투과시키는 물질로 이루어진 기판층과, 상기 기판층에 위에 형성되고, 상기 기판층을 투과한 테라헤르츠파 중 미리 설정된 주파수 대역에 반응하여 전계를 강화시키는 전계 강화 구조체와, 상기 전계 강화 구조체와 결합되고, 특정 물질만을 상기 전계 강화 구조체로 통과시키는 필터층을 포함하는 테라헤르츠파가 투과되는 영역을 포함하는 포장 용기 내에 삽입되는 테라헤르츠파용 감지 센서;상기 감지 센서로 테라헤르츠파를 조사하는 테라헤르츠 광원;및상기 감지 센서로부터 생성된 테라헤르츠파의 특성을 검출하는 검출부를 포함하는 테라헤르츠파를 이용한 검출 장치
17 17
제 16 항에 있어서,상기 검출된 테라헤르츠파와 기준 테라헤르츠파를 비교하여, 상기 전계 강화 구조체 주변의 변화가 있는지 여부를 판단하는 판단부를 더 포함하는 테라헤르츠파를 이용한 검출 장치
18 18
삭제
19 19
테라헤르츠파를 투과시키는 물질로 이루어진 기판층과, 상기 기판층에 위에 형성되고, 상기 기판층을 투과한 테라헤르츠파 중 미리 설정된 주파수 대역에 반응하여 전계를 강화시키는 전계 강화 구조체와, 상기 전계 강화 구조체와 결합되고, 특정 물질과만 결합하는 선택적 감지층과, 상기 특정 물질만을 상기 선택적 감지층으로 통과시키는 필터층을 포함하는 테라헤르츠파가 투과되는 영역을 포함하는 포장 용기 내에 삽입되는 테라헤르츠파용 감지 센서;상기 감지 센서로 테라헤르츠파를 조사하는 테라헤르츠 광원; 및상기 감지 센서로부터 생성된 테라헤르츠파의 특성을 검출하는 검출부를 포함하는 테라헤르츠파를 이용한 검출 장치
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3 KR101984200 KR 대한민국 FAMILY
4 US09898636 US 미국 FAMILY
5 US10262175 US 미국 FAMILY
6 US20160167861 US 미국 FAMILY
7 US20160259959 US 미국 FAMILY
8 WO2015008903 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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4 CN107300527 CN 중국 DOCDBFAMILY
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1 미래창조과학부 한국식품연구원 산업기술연구회 협동연구사업 테라헤르츠 분광/영상 기술기반 식품 이물질 실시간 비파괴 탐지기술 개발