| 요약 |
본 발명은 위성 표면의 오염 정도를 측정하는 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 직접적인 오염 측정이 불가능한 위성 표면의 오염량을 간접적으로 측정하기 위한 위성 표면 오염 측정장치에 관한 것이다. 상기의 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 위성 표면 오염 측정장치는, 오염측정판, 상기 오염측정판에 열을 공급하는 열 공급부, 상기 열 공급부에 공급되는 열을 제어하는 열제어장치, 및 상기 열제어장치에 상기 오염측정판 및 상기 위성 표면의 온도 정보를 제공하는 데이터획득장치를 포함하며, 상기 열제어장치는 상기 위성 표면의 온도를 설정값으로 하여 상기 오염측정판의 온도가 상기 위성 표면의 온도와 동일하도록 상기 열 공급부에 공급되는 열을 제어하는 것을 특징으로 한다. 또한, 상기 오염측정판과 상기 열 공급부는 열접착제를 통하여 연결되는 것을 특징으로 한다. 또한, 상기 열 공급부는 펠티에 소자판인 것을 특징으로 한다. 또한, 상기 오염측정판의 표면은 상기 위성 표면과 동일한 재질로 이루어진 것을 특징으로 한다. 또한, 상기 데이터획득장치는 상기 오염측정판 및 상기 위성 표면에 장착되어 있는 열전대를 통하여 상기 오염측정판 및 상기 위성 표면의 온도 정보를 취득하는 것을 특징으로 한다. 인공위성, 오염 측정, 펠티에 효과, 열진공챔버
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