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미소변형 계측장치에 대한 검증 시스템

  • 기술번호 : KST2015184151
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 미소변형 계측장치에 대한 검증 시스템이 개시된다. 미소 변형 계측 장치에 대한 검증 시스템은 계측의 기준이 되는 기준 구조물 및 베이스 플레이트, 베이스 플레이트를 지지하는 지지 프레임과, 상기 베이스 플레이트와 상기 지지 프레임 사이에 위치하여, 상기 베이스 플레이트와 상기 지지 프레임 간을 절연하는 키네틱 커플링부, 외부 진동이 계측장치에 작용하는 영향을 배제하기 위한 진동 차단부를 포함한다.
Int. CL G01B 21/32 (2006.01) G01N 25/00 (2006.01)
CPC G01B 21/32(2013.01) G01B 21/32(2013.01) G01B 21/32(2013.01) G01B 21/32(2013.01)
출원번호/일자 1020110123571 (2011.11.24)
출원인 한국항공우주연구원
등록번호/일자 10-1292396-0000 (2013.07.26)
공개번호/일자 10-2013-0057698 (2013.06.03) 문서열기
공고번호/일자 (20130801) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.11.24)
심사청구항수 3

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국항공우주연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 임종민 대한민국 대전광역시 유성구
2 은희광 대한민국 대전광역시 유성구
3 문남진 대한민국 대전광역시 서구
4 이동우 대한민국 대전광역시 서구
5 문귀원 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 무한 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(역삼동,화물재단빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국항공우주연구원 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.11.24 수리 (Accepted) 1-1-2011-0932506-12
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.01.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0033017-26
3 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.03.15 수리 (Accepted) 1-1-2013-0224289-16
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.03.15 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0224290-52
5 등록결정서
Decision to grant
2013.07.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0507682-08
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
미소변형 계측장치가 설치되는 베이스 플레이트;상기 베이스 플레이트에 설치되어 계측의 기준이 되는 기준 구조물;상기 미소변형 계측장치 및 베이스 플레이트를 지지하는 지지 프레임; 및상기 베이스 플레이트와 상기 지지 프레임 사이에 위치하여, 상기 베이스 플레이트와 상기 지지 프레임 간을 절연하는 키네틱 커플링부; 및상기 절연에 의해 외부온도 변화에 따른 상기 지지 프레임의 변형이 상기 베이스 플레이트로 전달되지 않는 상태에서, 상기 기준 구조물에 작용하는 온도를 조절하여 온도 변화를 발생 함으로써, 상기 기준 구조물이 상기 발생된 온도 변화에 따라 변형되도록 하는 온도변화 발생부를 포함하는 미소변형 계측장치에 대한 검증 시스템
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삭제
3 3
제1항에 있어서,상기 베이스 플레이트는, 합금으로 구성되고,상기 지지 프레임은, 금속으로 구성되는, 미소변형 계측장치에 대한 검증 시스템
4 4
제1항에 있어서,상기 미소변형 계측장치에 대한 외부 충격으로부터의 진동을 차단하는 진동 차단부를 더 포함하는, 미소변형 계측장치에 대한 검증 시스템
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.