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이엠씨 측정용 프로브 거치대

  • 기술번호 : KST2015184338
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 이엠씨(EMC) 측정용 프로브 거치대에 관한 것으로, 상기 이엠씨(EMC) 측정용 프로브 거치대는 전류 주입 프로브와 전류 모니터 프로브가 탑재되는 프로브 거치대로서, 상기 전류 주입 프로브의 형상과 대응되는 형상의 프로브 거치용 홈이 형성된 베이스 플레이트와; 상기 베이스 플레이트의 일 측면에 길이방향으로 형성된 길이측정용 눈금부; 및 상기 베이스 플레이트의 상기 길이방향 단부에 각각 형성된 암연결부 및 수연결부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
Int. CL G01R 29/08 (2006.01)
CPC G01R 29/0871(2013.01) G01R 29/0871(2013.01) G01R 29/0871(2013.01) G01R 29/0871(2013.01)
출원번호/일자 1020120080964 (2012.07.25)
출원인 한국항공우주연구원
등록번호/일자 10-1332160-0000 (2013.11.15)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20131121) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.07.25)
심사청구항수 3

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국항공우주연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 민병희 대한민국 대전 서구
2 김태윤 대한민국 대전 유성구
3 장재웅 대한민국 대전 유성구
4 장경덕 대한민국 대전 유성구
5 문귀원 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인세아 대한민국 서울특별시 금천구 가산디지털*로 **, *동 ****호(가산동, 롯데IT캐슬)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국항공우주연구원 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.07.25 수리 (Accepted) 1-1-2012-0593324-36
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.07.29 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.08.26 수리 (Accepted) 9-1-2013-0071004-20
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.08.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0603339-82
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.10.21 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0948272-11
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.10.21 수리 (Accepted) 1-1-2013-0948273-67
7 등록결정서
Decision to grant
2013.11.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0778110-93
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
이엠씨(EMC) 측정용 전류 주입 프로브와 전류 모니터 프로브가 탑재되는 프로브 거치대로서, 상기 전류 주입 프로브의 형상과 대응되는 형상의 프로브 거치용 홈이 형성된 베이스 플레이트와; 상기 베이스 플레이트의 일 측면에 길이방향으로 형성된 길이측정용 눈금부와;상기 베이스 플레이트의 상기 길이방향 단부에 각각 형성된 암연결부 및 수연결부와; 상기 베이스 플레이트와 일체로 형성되어 상기 프로브 거치용 홈이 상기 프로브 거치대가 설치되는 바닥면으로부터 일정 높이 이격되도록 하는 지지대를 포함하는 것을 특징으로 하는 이엠씨 측정용 프로브 거치대
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삭제
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 베이스 플레이트의 폭방향으로 형성된 양쪽 단부는 0
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제 1 항에 있어서, 상기 베이스 플레이트의 길이는 45cm, 상기 암연결부와 상기 수연결부 각각의 길이는 4cm인 것을 특징으로 하는 이엠시 측정용 프로브 거치대
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.