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전도성 내성 실험 시스템(100)에 있어서,전원부(190)로부터 시험대상유닛(110)으로 인가되는 임피던스를 일정하게 유시시키는 LISN(120); 상기 LISN(120)에 연결되는 캐패시터(130); 상기 캐패시터(130)의 양극전선(170)과 연결되어 노이즈를 인가시키는 노이즈인가부(150); 상기 노이즈인가부(150)에 연결되는 시험대상유닛(110); 및 상기 시험대상유닛(110)과 노이즈인가부(150) 사이에 위치하는 오실로스코프(160); 를 포함하되,상기 캐패시터(130)는 소정의 형상으로 제작되는 케이스(140) 내부에 위치하고, 상기 케이스(140)는 외부로 돌출되어 형성되는 제1 단자(141), 제2 단자(142), 제3 단자(143), 제4 단자(144), 제5 단자(145), 및 제6 단자(146)를 포함하며, 상기 제1 단자(141)는 상기 캐패시터(130)의 입력부(131)에 연결되고,상기 제2 단자(142)는 상기 캐패시터(130)의 출력부(132)에 연결되며,상기 제3 단자(143)는 상기 제4 단자(144)와 전선으로 연결되고, 상기 제 2 단자(142)와 상기 제3 단자(143)는 상기 노이즈인가부(150)에 연결되며,상기 제5 단자(145)는 캐패시터(130)를 통해 상기 제6 단자(146)에 연결되는 것을 특징으로 하는 전도성 내성 실험 시스템(100)
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