맞춤기술찾기

이전대상기술

전자파 환경 시험기

  • 기술번호 : KST2015184363
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 전자파 측정을 위한 전자파 환경 시험기에 관한 것으로, 더욱 상세하게는, 전자파 측정을 위한 프로브를 허공에 용이하게 고정시키기 위한 거치대를 포함하는, 전자파 환경 시험기에 관한 것이다.
Int. CL G01R 29/08 (2006.01)
CPC G01R 29/0871(2013.01) G01R 29/0871(2013.01) G01R 29/0871(2013.01) G01R 29/0871(2013.01)
출원번호/일자 1020120101499 (2012.09.13)
출원인 한국항공우주연구원
등록번호/일자 10-1329674-0000 (2013.11.08)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20131115) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.09.13)
심사청구항수 6

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국항공우주연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 장재웅 대한민국 대전광역시 유성구
2 김태윤 대한민국 대전광역시 유성구
3 장경덕 대한민국 대전광역시 유성구
4 민병희 대한민국 대전광역시 서구
5 문귀원 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 김종관 대한민국 대전광역시 서구 한밭대로 ***번지 (둔산동, 사학연금회관) **층(특허법인 플러스)
2 박창희 대한민국 대전광역시 서구 한밭대로 ***번지 (둔산동, 사학연금회관) **층(특허법인 플러스)
3 권오식 대한민국 대전광역시 서구 한밭대로 ***번지 (둔산동, 사학연금회관) **층(특허법인 플러스)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국항공우주연구원 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.09.13 수리 (Accepted) 1-1-2012-0740470-09
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.08.20 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.10.10 수리 (Accepted) 9-1-2013-0077234-54
4 등록결정서
Decision to grant
2013.10.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0747338-79
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
전자파 감지를 위한 프로브;상기 프로브의 둘레면이 수용되도록 프로브 공간이 형성되는 몸체와, 상기 몸체의 하측에 상하 길이방향으로 형성되며 상단이 상기 몸체에 결합되고 하단이 시험체에 고정되는 지지대로 구성되는 거치대; 를 포함하며,상기 거치대는 3개 이상인, 전자파 환경 시험기
2 2
제 1항에 있어서,상기 지지대는, 상기 몸체와 상기 시험체의 거리가 조절되도록 상기 몸체에 슬라이드 가능하도록 결합되는, 전자파 환경 시험기
3 3
제 1항에 있어서,상기 몸체는,상기 몸체는 상기 프로브의 둘레면 하측이 수용되는 제1 몸체와, 상기 프로브의 둘레면 상측이 수용되는 제2 몸체로 구성되며,상기 제2 몸체는, 상기 프로브 공간의 폭이 조절되도록 상기 제1 몸체에 슬라이드 가능하도록 결합되는, 전자파 환경 시험기
4 4
제 1항에 있어서,상기 전자파 환경 시험기는,상기 프로브의 직경보다 큰 내경을 갖는 고리;일단이 상기 몸체에 결합되며, 타측이 상기 고리에 원주방향으로 이동 가능하도록 결합되는 회전브래킷;을 더 포함하는, 전자파 환경 시험기
5 5
제 4항에 있어서,상기 회전브래킷은, 상기 몸체와 상기 고리의 거리가 조절되도록 상기 몸체에 슬라이드 가능하도록 결합되는, 전자파 환경 시험기
6 6
제 1항에 있어서,상기 지지대의 하단부는 송곳 형상으로 이루어진, 전자파 환경 시험기
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.