1 |
1
복사열을 차단하여 단열용으로 사용되며 복수의 박막으로 구성된 다층박막단열재; 상기 다층박막단열재의 하부에 설치되며 일정한 열 전달율을 가지는 알루미늄 패널; 상기 알루미늄 패널의 하부에 설치되고 일정한 양의 열을 생성하는 조절히터; 상기 알루미늄 패널의 하부에 설치된 복수의 온도센서;를 포함하며, 상기 다층박막단열재, 상기 알루미늄 패널, 상기 조절히터 및 상기 복수의 온도센서는 진공인 내부의 온도가 시험하고자 하는 우주의 온도와 동일한 저온 상태인 열진공 챔버에 설치되는 것을 특징으로 하는 다층박막단열재의 단열성능 시험장치
|
2 |
2
제1항에 있어서, 상기 복수 개의 온도센서에서 측정된 온도의 값들 및 상기 조절히터의 전력을 이용하여 상기 알루미늄 패널과 상기 다층박막단열재 사이의 열유속 계수를 계산하는 프로세서;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 다층박막단열재의 단열성능 시험장치
|
3 |
3
제2항에 있어서, 상기 알루미늄 패널의 하부를 지지하는 복수의 지지대;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 다층박막단열재의 단열성능 시험장치
|
4 |
4
제3항에 있어서, 상기 지지대의 재질은 상기 알루미늄 패널의 재질과 동일한 것을 특징으로 하는 다층박막단열재의 단열성능 시험장치
|
5 |
5
제4항에 있어서, 상기 복수의 지지대와 상기 알루미늄 패널의 접촉면에는 각각 분리재가 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 다층박막단열재의 단열성능 시험장치
|
6 |
6
제5항에 있어서, 상기 알루미늄 패널의 접촉면에 가장 가까운 곳의 상기 복수의 지지대에는 일정한 열을 생성하는 보상히터가 더 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 다층박막단열재의 단열성능 시험장치
|
7 |
7
제6항에 있어서, 상기 복수의 온도센서와 상기 프로세서는 유선 또는 무선으로 온도의 값들을 송수신하는 것을 특징으로 하는 다층박막단열재의 단열성능 시험장치
|
8 |
8
제7항에 기재된 단열성능 시험장치를 이용하여 상기 알루미늄 패널과 상기 다층박막단열재 사이의 열유속 계수를 측정하는 다층박막단열재의 단열성능 시험방법에 있어서, 온도 조절제어신호에 응답하여 상기 조절히터가 온도를 일정한 범위 내에서 가변 하는 조절히터의 온도조절단계; 상기 조절히터의 전력 및 상기 복수의 온도센서의 온도를 측정하는 측정단계; 및 상기 조절히터의 전력 및 상기 복수의 온도센서의 온도를 이용하여 열유속 계수를 계산하는 계산단계;를 포함하며, 상기 온도 조절제어신호의 생성 및 상기 계산단계는 상기 프로세서에서 수행되는 것을 특징으로 하는 다층박막단열재의 단열성능 시험방법
|
9 |
9
제8항에 있어서, 상기 조절히터의 온도가 가변 되는 일정한 범위는, -100℃ ~ 100℃ 사이인 것을 특징으로 하는 다층박막단열재의 단열성능 시험방법
|
10 |
10
제9항에 있어서, 상기 보상히터의 온도를 조절하여 상기 복수의 지지대의 온도를 알루미늄 패널의 온도와 일치시키는 보상히터의 온도조절단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 다층박막단열재의 단열성능 시험방법
|