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1
다수의 집적회로를 포함하며;각 집적회로가,구동회로부;상기 구동회로의 동작에 필요한 각종 데이터를 저장하는 적어도 하나의 저장부; 및,외부로부터의 제어신호에 따라 상기 저장부에 데이터를 저장하고, 상기 데이터로부터 상기 데이터를 읽어들이는 동작을 반복적으로 수행함으로써 상기 저장부에 스트레스를 가하는 번-인 동작부를 포함함을 특징으로 하는 번-인 테스트 기능을 갖는 웨이퍼
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2
제 1 항에 있어서,서로 인접한 각 집적회로에 구비된 각 번-인 동작부가 동시에 구동됨을 특징으로 하는 번-인 테스트 기능을 갖는 웨이퍼
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3
제 2 항에 있어서,서로 인접한 4개 이상의 집적회로에 구비된 각 번-인 동작부가 동시에 구동됨을 특징으로 번-인 테스트 기능을 갖는 웨이퍼
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| 4 |
4
제 1 항에 있어서,각 집적회로는 제 1, 제 2, 제 3, 제 4, 및 제 5 내부단자를 포함하며;각 집적회로에 구비된 각 번-인 동작부는,상기 제 1 내부단자를 통해 구동전원을 공급받으며;상기 제 2 내부단자를 통해 접지전원을 공급받으며;상기 제 3 내부단자를 통해 동작 신호를 공급받으며;상기 제 4 내부단자를 통해 클럭펄스를 공급받으며; 그리고,상기 제 5 내부단자를 통해 에러 디텍션 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 번-인 테스트 기능을 갖는 웨이퍼
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5
제 4 항에 있어서,상기 제 1, 제 2, 제 3, 제 4, 및 제 5 외부단자와 전기적으로 연결되도록, 상기 집적회로들간의 경계부에 위치한 스크라이빙 영역에 형성된 적어도 하나의 제 1, 제 2, 제 3, 및 제 4 외부단자와, 그리고 적어도 두 개의 제 5 외부단자를 더 포함함을 특징으로 하는 번-인 테스트 기능을 갖는 웨이퍼
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6
제 5 항에 있어서,상기 제 1 외부단자는 외부로부터 구동전원을 공급받아 상기 제 1 내부단자에 전송하며 ;상기 제 2 외부단자는 외부로부터 접지전원을 공급받아 상기 제 2 내부단자에 전송하며;상기 제 3 외부단자는 외부로부터 동작 신호를 공급받아 상기 제 3 내부단자에 전송하며;상기 제 4 외부단자는 외부로부터 클럭펄스를 공급받아 제 4 내부단자에 전송하며; 그리고,상기 제 5 외부단자는 상기 제 5 내부단자로부터 에러 디텍션 신호를 공급받아 에러 판단부로 전송하는 것을 특징으로 하는 번-인 테스트 기능을 갖는 웨이퍼
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| 7 |
7
제 6 항에 있어서,서로 인접한 집적회로들에 포함된 각 번-인 동작부의 제 1 내부단자들은 상기 제 1 외부단자에 공통으로 접속되며;서로 인접한 집적회로들에 포함된 각 번-인 동작부의 제 2 내부단자들은 상기 제 2 외부단자에 공통으로 접속되며;서로 인접한 집적회로들에 포함된 각 번-인 동작부의 제 3 내부단자들은 상기 제 3 외부단자에 공통으로 접속되며;서로 인접한 집적회로들에 포함된 각 번-인 동작부의 제 4 내부단자들은 상기 제 4 외부단자에 공통으로 접속되며; 그리고,서로 인접한 집적회로들에 포함된 각 번-인 동작부의 제 5 내부단자들은 각 제 5 외부단자에 독립적으로 접속된 것을 특징으로 하는 번-인 테스트 기능을 갖는 웨이퍼
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8
제 4 항에 있어서,각 집적회로는 제 6 및 제 7 내부단자를 더 포함하며;각 집적회로에 구비된 저장부는 제 6 내부단자를 통해 구동전원을 공급받으며; 그리고,제 7 내부단자를 통해 접지전원을 공급받는 것을 특징으로 하는 번-인 테스트 기능을 갖는 웨이퍼
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| 9 |
9
제 8 항에 있어서,상기 제 6 및 제 7 내부단자와 전기적으로 연결되도록, 상기 집적회로들간의 경계부에 위치한 스크라이빙 영역에 형성된 제 6 및 제 7 외부단자를 더 포함함을 특징으로 하는 번-인 테스트 기능을 갖는 웨이퍼
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10
제 9 항에 있어서,상기 제 6 외부단자는 외부로부터 구동전원을 공급받아 상기 제 6 내부단자에 전송하며; 그리고,상기 제 7 외부단자는 외부로부터 접지전원을 공급받아 상기 제 7 내부단자에 전송하는 것을 특징으로 하는 번-인 테스트 기능을 갖는 웨이퍼
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11
제 10 항에 있어서,서로 인접한 집적회로들에 포함된 각 저장부의 제 6 내부단자들은 상기 제 6 외부단자에 공통으로 접속되며; 그리고,서로 인접한 집적회로들에 포함된 각 저장부의 제 7 내부단자들은 상기 제 7 외부단자에 공통으로 접속된 것을 특징으로 하는 번-인 테스트 기능을 갖는 웨이퍼
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12
제 1 항에 있어서,상기 저장부는 제 1 메모리 및 제 2 메모리를 포함하며,상기 제 1 메모리 및 제 2 메모리는 표시장치에 공급될 화상 데이터 신호를 나누어 저장하는 것을 특징으로 하는 번-인 테스트 기능을 갖는 웨이퍼
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13
제 12 항에 있어서,상기 구동회로부는, 상기 표시장치의 게이트 라인들을 구동하기 위한 제 1 및 제 2 게이트 드라이버;상기 화상 데이터 신호의 계조에 따른 계조전압을 출력하기 위한 계조 출력부; 상기 제 1 및 제 2 메모리에 저장된 화상 데이터 신호 및 상기 계조 출력부로부터의 계조전압을 공급받아, 상기 화상 데이터 신호에 따른 계조전압을 상기 표시장치에 구비된 데이터 라인들에 공급하는 데이터 드라이버;상기 제 1 게이트 드라이버, 제 2 게이트 드라이버, 상기 데이터 드라이버의 출력 타이밍을 제정하는 타이밍 제어부;표시장치로 정전기가 유입되는 것을 차단하기 위한 정전기 방지부; 및,상기 표시장치에 필요한 각종 전원을 출력하는 전원발생부를 포함함을 특징으로 하는 번-인 테스트 기능을 갖는 웨이퍼
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14
다수의 집적회로를 포함하며; 각 집적회로가, 다수의 구동회로들; 상기 구동회로의 동작에 필요한 각종 데이터를 저장하는 적어도 하나의 저장부; 및, 외부로부터의 제어신호에 따라 상기 저장부에 데이터를 저장하고, 상기 데이터로부터 상기 데이터를 읽어들이는 동작을 반복적으로 수행함으로써 상기 저장부에 스트레스를 가하는 번-인 동작부를 포함하는 웨이퍼의 번-인 테스트 방법에 있어서
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15
제 14 항에 있어서,각 집적회로는 제 1, 제 2, 제 3, 제 4, 및 제 5 입력단자를 포함하며;각 집적회로에 구비된 각 번-인 동작부는,상기 제 1 내부단자를 통해 구동전원을 공급받으며;상기 제 2 내부단자를 통해 접지전원을 공급받으며;상기 제 3 내부단자를 통해 동작 신호를 공급받으며;상기 제 4 내부단자를 통해 클럭펄스를 공급받으며; 그리고,상기 제 5 내부단자를 통해 에러 디텍션 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 번-인 테스트 기능을 갖는 웨이퍼의 번-인 테스트 방법
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16
제 15 항에 있어서,상기 제 1 외부단자는 외부로부터 구동전원을 공급받아 상기 제 1 내부단자에 전송하며 ;상기 제 2 외부단자는 외부로부터 접지전원을 공급받아 상기 제 2 내부단자에 전송하며;상기 제 3 외부단자는 외부로부터 동작 신호를 공급받아 상기 제 3 내부단자에 전송하며;상기 제 4 외부단자는 외부로부터 클럭펄스를 공급받아 제 4 내부단자에 전송하며; 그리고,상기 제 5 외부단자는 상기 제 5 내부단자로부터 에러 디텍션 신호를 공급받아 에러 판단부로 전송하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼의 번-인 테스트 방법
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17
제 16 항에 있어서,서로 인접한 집적회로들에 포함된 각 번-인 동작부의 제 1 내부단자들은 상기 제 1 외부단자에 공통으로 접속되며;서로 인접한 집적회로들에 포함된 각 번-인 동작부의 제 2 내부단자들은 상기 제 2 외부단자에 공통으로 접속되며;서로 인접한 집적회로들에 포함된 각 번-인 동작부의 제 3 내부단자들은 상기 제 3 외부단자에 공통으로 접속되며;서로 인접한 집적회로들에 포함된 각 번-인 동작부의 제 4 내부단자들은 상기 제 4 외부단자에 공통으로 접속되며; 그리고,서로 인접한 집적회로들에 포함된 각 번-인 동작부의 제 5 내부단자들은 각 제 5 외부단자에 독립적으로 접속된 것을 특징으로 하는 웨이퍼의 번-인 테스트 방법
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18
제 15 항에 있어서,각 집적회로는 제 6 및 제 7 내부단자를 더 포함하며;각 집적회로에 구비된 저장부는 제 6 내부단자를 통해 구동전원을 공급받으며; 그리고,제 7 내부단자를 통해 접지전원을 공급받는 것을 특징으로 하는 웨이퍼의 번-인 테스트 방법
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19
제 18 항에 있어서,상기 제 6 및 제 7 내부단자와 전기적으로 연결되도록, 상기 집적회로들간의 경계부에 위치한 스크라이빙 영역에 형성된 제 6 및 제 7 외부단자를 더 포함함을 특징으로 하는 웨이퍼의 번-인 테스트 방법
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제 19 항에 있어서,상기 제 6 외부단자는 외부로부터 구동전원을 공급받아 상기 제 6 내부단자에 전송하며; 그리고,상기 제 7 외부단자는 외부로부터 접지전원을 공급받아 상기 제 7 내부단자에 전송하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼의 번-인 테스트 방법
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제 20 항에 있어서,서로 인접한 집적회로들에 포함된 각 저장부의 제 6 내부단자들은 상기 제 6 외부단자에 공통으로 접속되며; 그리고,서로 인접한 집적회로들에 포함된 각 저장부의 제 7 내부단자들은 상기 제 7 외부단자에 공통으로 접속된 것을 특징으로 하는 웨이퍼의 번-인 테스트 방법
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제 19 항에 있어서,상기 제 1, 제 2, 제 3, 제 4, 제 5, 제 6, 및 제 7 내부단자의 일부분을 제거하여, 상기 제 1, 제 2, 제 3, 제 4, 제 5, 제 6, 및 제 7 외부단자와 전기적으로 분리하는 단계; 및,상기 제 1, 제 2, 제 3, 제 4, 제 5, 제 6, 및 제 7 외부단자가 형성된 스크라이빙 영역을 제거하는 단계를 더 포함함을 특징으로 하는 웨이퍼의 번-인 테스트 방법
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제 22 항에 있어서,상기 제 1, 제 2, 제 3, 제 4, 제 5, 제 6, 및 제 7 내부단자의 일부분을 제거하는 방법은 레이저 컷팅을 사용함을 특징으로 하는 웨이퍼의 번-인 테스트 방법
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