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평면 스캔 입자화상속도계 기법

  • 기술번호 : KST2015185786
  • 담당센터 : 부산기술혁신센터
  • 전화번호 : 051-606-6561
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 평면 스캔 PIV 기법에 관한 것으로, 하나의 입자영상을 획득하기 위해서 회전 미러장치나 혹은 AOM같은 빔 스캔 장치만을 이용하여 레이저빔을 이동시켜 임의로 측정하고자 하는 특정 구간을 1~n개로 스캔하고 단일의 카메라로 대응되는 1~n개의 빔 스캔 영상을 동시에 획득하는 제 1 단계와 상기 제 1 단계 후 획득한 1~n개의 빔 스캔 영상을 부채꼴 또는 사각 형태의 2D 영상을 만들어 카메라의 영상기록면에 수직하는 평면(x, z)에서의 속도성분을 측정하는 제 2 단계를 포함하여 수행하는 것을 특징으로 하며, 하나의 카메라와 단순한 광학계를 이용하여 영상기록면에 수직인 평면에서의 속도를 측정할 수 있다.입자화상속도계, 빔 스캔장치, 비축 포물경, 속도장, 온도장, 영상기록면
Int. CL G01P 3/68 (2006.01.01) G01P 3/36 (2006.01.01)
CPC G01P 3/685(2013.01) G01P 3/685(2013.01)
출원번호/일자 1020060128589 (2006.12.15)
출원인 경상대학교산학협력단
등록번호/일자 10-0866393-0000 (2008.10.27)
공개번호/일자 10-2008-0055353 (2008.06.19) 문서열기
공고번호/일자 (20081103) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.12.15)
심사청구항수 2

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 경상대학교산학협력단 대한민국 경상남도 진주시

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김형범 대한민국 경남 진주시
2 진 허츠버그 미국 ** 웬더린 웨이,

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이세진 대한민국 서울특별시 서초구 방배천로**길 *, *층 대양국제특허법률사무소 (방배동, 인성빌딩)
2 이범일 대한민국 서울특별시 종로구 우정국로 **, *동 *층 세한국제특허법률사무소 (관훈동, 동덕빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 경상대학교산학협력단 대한민국 경상남도 진주시
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.12.15 수리 (Accepted) 1-1-2006-0930608-62
2 복대리인선임신고서
Report on Appointment of Sub-agent
2007.04.21 수리 (Accepted) 1-1-2007-0302842-66
3 서지사항보정서
Amendment to Bibliographic items
2007.05.09 수리 (Accepted) 1-1-2007-0343990-10
4 선행기술조사의뢰서(내부)
Request for Prior Art Search (Inside)
2007.12.03 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2007.12.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2007-0059960-25
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2008.01.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0046235-15
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.02.05 수리 (Accepted) 1-1-2008-0094499-63
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.02.05 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0094498-17
9 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal
2008.05.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0257062-06
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.05.20 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2008-0357219-43
11 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.05.20 수리 (Accepted) 1-1-2008-0357220-90
12 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2008.05.20 수리 (Accepted) 1-1-2008-0357205-15
13 등록결정서
Decision to grant
2008.09.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0482852-70
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.04.13 수리 (Accepted) 4-1-2012-5079647-31
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.07.12 수리 (Accepted) 4-1-2013-5097137-14
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.12.20 수리 (Accepted) 4-1-2016-5189075-76
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.12.20 수리 (Accepted) 4-1-2016-5189369-94
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.09.13 수리 (Accepted) 4-1-2017-5148295-43
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.12.19 수리 (Accepted) 4-1-2017-5208281-01
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2019-5055369-44
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.07.15 수리 (Accepted) 4-1-2019-5140738-61
22 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.02.10 수리 (Accepted) 4-1-2020-5029557-91
23 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.11 수리 (Accepted) 4-1-2020-5103872-83
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
하나의 입자영상을 획득하기 위해서 회전 미러장치나 혹은 AOM에 의한 빔 스캔 장치(1)만을 이용하여 레이저빔을 이동시켜 임의로 측정하고자 하는 특정 구간(2)을 1~n개로 스캔하고 단일의 카메라(3)로 대응되는 1~n개의 빔 스캔 영상을 동시에 획득하는 제 1 단계(ST1)와 상기 제 1 단계(ST1) 후 획득한 1~n개의 빔 스캔 영상을 부채꼴 또는 사각 형태의 2D 영상을 만들어 카메라의 영상기록면에 수직하는 평면(x, z)에서의 속도성분을 측정하는 제 2 단계(ST2)를 포함하여 수행하는 것을 특징으로 하는 평면 스캔 PIV 기법
2 2
제 1 항에 있어서,상기 제 2 단계는 하나의 선으로 된 라인 영상(1차원 영상)만을 획득하게 되고 실제 레이저 빔은 원통형 구조로 되어있어, 이 하나의 선을 레이저 빔의 폭만큼 확장시켜 확장된 라인 영상을 획득하며 다음에 획득한 라인 영상도 마찬가지로 폭을 확장시킨후 미리 설정된 겹침비에 따라 서로 겹치게 하고, 획득한 하나의 선으로 된 모든 라인 영상에 대해, 상기 하나의 선을 레이저 빔의 폭만큼 확장시켜 확장된 라인 영상을 획득하며 다음에 획득한 라인 영상도 마찬가지로 폭을 확장시킨후 미리 설정된 겹침비에 따라 서로 겹치는 과정을 반복적으로 적용하여, 전체 측정 구간에서 재구성된 카메라의 영상기록면에 수직하는 2차원 영상을 얻게 되는 것을 특징으로 하는 평면 스캔 PIV 기법
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