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비교기의 옵셋을 줄이기 위한 방법 및 그 장치

  • 기술번호 : KST2015186208
  • 담당센터 : 부산기술혁신센터
  • 전화번호 : 051-606-6561
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은, 비교기의 두 입력 단자를 동일한 전압으로 프리챠아지한 후 비교기를 인에이블시켜서 옵셋의 부호를 확인한 후, 비교기를 구성하는 트랜지스터 중 어느 하나 이상에 핫 캐리어를 스트레스 조건을 가하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 따르면, 다양한 형태의 비교기의 옵셋을 줄일 수 있게 된다. 본 발명은 각기 다른 옵셋값을 가지는 복수 개의 비교기가 구비된 장치에서 옵셋 감소를 위한 본 발명에 의한 기본 작동을 반복하여 수행함으로써 복수 개의 비교기의 옵셋이 각각 0으로 수렴하는 효과를 얻을 수 있다. 본 발명이 DRAM의 비트 라인을 읽는 감지 증폭기에 적용되는 경우, 트랜지스터를 추가하지 않고 기존에 이미 구비된 트랜지스터들을 이용하여 단지 입력 전압만을 제어함으로써 구현될 수 있는 장점이 있다. 비교기, 옵셋, 핫 캐리어
Int. CL G11C 11/4091 (2006.01.01) G11C 11/4094 (2006.01.01) G11C 7/06 (2006.01.01) G11C 7/12 (2006.01.01)
CPC G11C 11/4091(2013.01)G11C 11/4091(2013.01)G11C 11/4091(2013.01)G11C 11/4091(2013.01)G11C 11/4091(2013.01)
출원번호/일자 1020070031562 (2007.03.30)
출원인 경상대학교산학협력단
등록번호/일자 10-0834933-0000 (2008.05.28)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20080603) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.03.30)
심사청구항수 24

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 경상대학교산학협력단 대한민국 경상남도 진주시

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정인영 대한민국 경기 수원시 권선구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영철 대한민국 서울특별시 종로구 종로*길 **, **층 케이씨엘특허법률사무소 (수송동, 석탄회관빌딩)
2 김 순 영 대한민국 서울특별시 종로구 종로*길 **, **층 케이씨엘특허법률사무소 (수송동, 석탄회관빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 경상대학교산학협력단 대한민국 경상남도 진주시
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2007.03.30 수리 (Accepted) 1-1-2007-0250679-66
2 등록결정서
Decision to grant
2008.03.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0180789-96
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.04.13 수리 (Accepted) 4-1-2012-5079647-31
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.07.12 수리 (Accepted) 4-1-2013-5097137-14
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.12.20 수리 (Accepted) 4-1-2016-5189075-76
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.12.20 수리 (Accepted) 4-1-2016-5189369-94
7 출원인정보변경(경정)신고서
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2017.09.13 수리 (Accepted) 4-1-2017-5148295-43
8 출원인정보변경(경정)신고서
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2017.12.19 수리 (Accepted) 4-1-2017-5208281-01
9 출원인정보변경(경정)신고서
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2019.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2019-5055369-44
10 출원인정보변경(경정)신고서
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2019.07.15 수리 (Accepted) 4-1-2019-5140738-61
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.02.10 수리 (Accepted) 4-1-2020-5029557-91
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.11 수리 (Accepted) 4-1-2020-5103872-83
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번호 청구항
1 1
비교기의 두 입력 단자들을 동일한 전압으로 프리챠아지하는 단계(S1);상기 단계(S1)에 의하여 비교기의 두 입력 단자의 전압이 동일한 상태에서 비교기를 인에이블시켜서 그 출력 전압의 부호로부터 비교기의 옵셋 부호를 결정하는 단계(S2); 및비교기를 구성하는 트랜지스터 중 어느 하나 또는 그 이상에 핫 캐리어를 발생시키는 스트레스 조건을 가하는 단계(S3)를 포함하는 것을 특징으로 하는 비교기의 옵셋을 줄이는 방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 단계(S3)는, 비교기의 구동 전압을 증가시키는 것에 의하여 구현되는 것을 특징으로 하는 비교기의 옵셋을 줄이는 방법
3 3
제2항에 있어서, 상기 단계(S3)는, 비교기를 구성하는 트랜지스터의 n-웰 전압에 순방향 바이어스를 가하는 과정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 비교기의 옵셋을 줄이는 방법
4 4
제2항에 있어서, 상기 단계(S3)는, 핫 캐리어를 발생시키고자 하는 트랜지스터의 전류를 증대시키는 과정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 비교기의 옵셋을 줄이는 방법
5 5
제4항에 있어서, 상기 단계(S3)에서, 핫 캐리어를 발생시키고자 하는 트랜지스터의 전류를 증대시키는 과정은, 핫 캐리어를 발생시키고자 하는 트랜지스터가 PMOS인 경우, PMOS의 게이트 전압을 낮춤에 의하여 구현되는 것을 특징으로 하는 비교기의 옵셋을 줄이는 방법
6 6
제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 단계(S3)에서, 핫 캐리어를 발생시키는 스트레스 조건을 가하는 트랜지스터는 단일 게이트 구조인 것을 특징으로 하는 비교기의 옵셋을 줄이는 방법
7 7
제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 단계들 즉, 단계(S1), 단계(S2) 및 단계(S3)을 반복하여 수행하는 것을 특징으로 하는 비교기의 옵셋을 줄이는 방법
8 8
제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 비교기는 크로스-커플 트랜지스터 형태의 구성 회로를 적어도 하나 이상 포함하고 있는 것임을 특징으로 하는 비교기의 옵셋을 줄이는 방법
9 9
제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 비교기는 래치 형태인 경우를 특징으로 하는 비교기의 옵셋을 줄이는 방법
10 10
제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 비교기는 DRAM의 비트 라인 전압을 감지하는 감지 증폭기에 포함되어 있는 것임을 특징으로 하는 비교기의 옵셋을 줄이는 방법
11 11
제8항에 있어서, 상기 비교기는 적어도 하나의 크로스-커플 PMOS 트랜지스터 및 적어도 하나의 크로스-커플 NMOS 트랜지스터를 포함하고 있는 것임을 특징으로 하는 비교기의 옵셋을 줄이는 방법
12 12
비교기의 두 입력 단자들을 동일한 전압으로 프리챠아지하는 수단(M1); 및 상기 수단에 의하여 비교기의 두 입력 단자의 전압이 동일한 상태에서 비교기를 인에이블시켜서 그 출력 전압의 부호로부터 비교기의 옵셋 부호를 결정된 상태에서, 비교기를 구성하는 트랜지스터 중 어느 하나 또는 그 이상에 핫 캐리어를 발생시키는 스트레스 조건을 가하는 수단(M2)을 포함하는 것을 특징으로 하는 비교기의 옵셋을 줄이는 장치
13 13
제12항에 있어서, 상기 수단(M2)는, 비교기의 구동 전압을 증가시키는 수단을 포함하여 구성되는 것임을 특징으로 하는 비교기의 옵셋을 줄이는 장치
14 14
제13항에 있어서, 상기 수단(M2)는, 비교기를 구성하는 트랜지스터의 n-웰 전압에 순방향 바이어스를 가하는 수단을 더 포함하여 구성되는 것임을 특징으로 하는 비교기의 옵셋을 줄이는 장치
15 15
제13항에 있어서, 상기 수단(M2)는, 핫 캐리어를 발생시키고자 하는 트랜지스터의 전류를 증대시키는 수단을 더 포함하여 구성되는 것임을 특징으로 하는 비교기의 옵셋을 줄이는 장치
16 16
제15항에 있어서, 상기 수단(M2)에서, 핫 캐리어를 발생시키고자 하는 트랜지스터의 전류를 증대시키는 수단은, 핫 캐리어를 발생시키고자 하는 트랜지스터가 PMOS인 경우, PMOS의 게이트 전압을 낮추는 수단인 것임을 특징으로 하는 비교기의 옵셋을 줄이는 장치
17 17
제16항에 있어서, PMOS의 게이트 전압을 낮추는 상기 수단은, 비교기의 두 출력 단자를 연결하는 스위치 수단인 것임을 특징으로 하는 비교기의 옵셋을 줄이는 장치
18 18
제16항에 있어서, PMOS의 게이트 전압을 낮추는 상기 수단은, 비교기의 두 출력 단자를 각각 비교기의 구동 전압 중 낮은 전위(VSS)에 연결하는 스위치 수단인 것임을 특징으로 하는 비교기의 옵셋을 줄이는 장치
19 19
제15항에 있어서, 핫 캐리어를 발생시키고자 하는 트랜지스터가 아닌 트랜지스터의 전류는 감소시키는 수단을 더 포함하여 구성되는 것임을 특징으로 하는 비교기의 옵셋을 줄이는 장치
20 20
제12항 내지 제19항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 수단(M2)에 의하여, 핫 캐리어를 발생시키는 스트레스 조건이 가해지는 트랜지스터는 단일 게이트 구조인 것임을 특징으로 하는 비교기의 옵셋을 줄이는 장치
21 21
제12항 내지 제19항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 비교기는 크로스-커플 트랜지스터 형태의 구성 회로를 적어도 하나 이상 포함하고 있는 것임을 특징으로 하는 비교기의 옵셋을 줄이는 장치
22 22
제12항 내지 제19항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 비교기는 래치 형태인 경우를 특징으로 하는 비교기의 옵셋을 줄이는 장치
23 23
제12항 내지 제19항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 비교기는 DRAM의 비트 라인 전압을 감지하는 감지 증폭기에 포함되어 있는 것임을 특징으로 하는 비교기의 옵셋을 줄이는 장치
24 24
제22항에 있어서, 상기 비교기는 적어도 하나의 크로스-커플 PMOS 트랜지스터 및 적어도 하나의 크로스-커플 NMOS 트랜지스터를 포함하고 있는 것임을 특징으로 하는 비교기의 옵셋을 줄이는 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.