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헬릭스코일을 이용한 헬리컬 공진기형 식각기의 플라즈마 균일도조절 방법

  • 기술번호 : KST2015186491
  • 담당센터 : 대구기술혁신센터
  • 전화번호 : 053-550-1450
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 반도체 주요 공정 장비 중의 하나인 반응성이온식각 장비인 차세대 고성능 식각기로 연구되고 있는 헬리컬 공진기형 식각기에서 (2n+1)/4 (n은 양정수) 파장길이의 헬릭스코일을 이용하여 반응로 내부의 플라즈마 균일도를 조절하는 방법에 관한 것이다. 그 방법은 헬리컬 공진기형 식각기에서 헬릭스코일을 (2n+1)/4 (n은 양정수) 파장 길이로 함으로써 반응로 기판 상에서의 플라즈마 균일도를 조절한다. 고효율의 고밀도 플라즈마를 비교적 쉽게 얻을 수 있는 헬리컬 공진기형의 식각기에 대해 (2n+1)/4 (n은 양정수) 파장 길이의 헬릭스코일을 사용하여 탭 위치 변화에 따라 공진기 내의 전자장 및 플라즈마 밀도 분포를 임의로 변화시킴으로써 기존의 평행 평판형 식각기에서는 얻기 힘들었던 높은 균일도의 플라즈마를 얻을 수 있었다. 이로써 (2n+1)/4 (n은 양정수) 파장 길이의 헬릭스코일을 갖는 헬리컬 공진기형 식각기에서 기타 식각 공정 변수들의 변화에 대응하여 적절한 탭 위치를 선택함으로써 차세대의 대구경 웨이퍼 사용시에 요구되는 높은 식각균일도를 얻을 수 있다.
Int. CL H05H 1/30 (2006.01)
CPC H01J 37/321(2013.01) H01J 37/321(2013.01) H01J 37/321(2013.01) H01J 37/321(2013.01) H01J 37/321(2013.01)
출원번호/일자 1019970068898 (1997.12.15)
출원인 학교법인 포항공과대학교
등록번호/일자 10-0258441-0000 (2000.03.10)
공개번호/일자 10-1999-0049889 (1999.07.05) 문서열기
공고번호/일자 (20000601) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1997.12.15)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 학교법인 포항공과대학교 대한민국 경상북도 포항시 남구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강봉구 대한민국 경상북도 포항시 남구
2 박종철 대한민국 경상북도 포항시 남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이영필 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)(리앤목특허법인)
2 이상용 대한민국 서울특별시 서초구 서초중앙로 **, *층(서초동, 준영빌딩)(특허법인필앤온지)
3 권석흠 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 서림빌딩 **층 (역삼동)(유미특허법인)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 학교법인 포항공과대학교 대한민국 경상북도 포항시 남구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
1997.12.15 수리 (Accepted) 1-1-1997-0215749-39
2 출원심사청구서
Request for Examination
1997.12.15 수리 (Accepted) 1-1-1997-0215751-21
3 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1997.12.15 수리 (Accepted) 1-1-1997-0215750-86
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.14 수리 (Accepted) 4-1-1999-0005580-12
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.09.30 수리 (Accepted) 4-1-1999-0122834-81
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2000.01.31 수리 (Accepted) 4-1-2000-0012365-15
7 등록사정서
Decision to grant
2000.02.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2000-0039696-87
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.07.25 수리 (Accepted) 4-1-2019-5149263-30
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번호 청구항
1 1

헬리컬 공진기형 식각기에서 헬릭스코일을 전원전압에 대해 (2n+1)/4 (n은 양정수) 파장 길이로 함으로써 반응로 기판 상에서외 플라즈마 균일도를 조절하는 플라즈마 균일도 조절 방법

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제1항에 있어서, 헬리컬 공진기내의 헬릭스 코일상에서의 전력 인가 탭 위치를 변화시켜 공진기 내부의 축/반경 방향의 플라즈마 밀도 분포를 변화시킴으로써 반응로 기판 상에서의 플라즈마 균일도 조절 방법

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제2항에 있어서, 전력 인가 탭 위치를 변화시켜서 헬릭스코일의 개방단과 접지단의 길이를 변화 시킴으로써 각 단에서의 입사파와 반사파, 그리고 다른 단에서 넘어오는 투과파(transmitted wave)의 중첩 효과에 의해 공진기 내에 고유의 전자장 분포를 형성시켜 축/반경 방향으로 고유의 플라즈마 밀도 분포를 가지도록 하는 플라즈마 균일도 조절 방법

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제2항에 있어서, 상기 헬릭스코일상의 전력 인가 탭 위치를 변화시켜 공진기 내의 고밀도 플라즈마 영역의 위치를 축 방향으로 이동시킴으로써 고밀도 플라즈마 영역에서 반응로까지의 확산 거리를 변화시켜 반응로 기판 상에서의 플라즈마 균일도 조절 방법

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제4항에 있어서, 공진기 내 고밀도 플라즈마 영역에서 반응로까지의 거리를 변화시켜 반응로까지의 플라즈마 전송시 반경 방향으로의 확산에 의해 기관상에 도달하는 플라즈마 균일도를 조절하는 플라즈마 균일도 조절 방법

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제5항에 있어서, 상기 헬리컬 공진기에서 발생하는 플라즈마는 벽면 부근에서 주로 발생하게 되어서 가장 자리에서 최대 밀도를 갖는 분포를 보이게 되는데, 이것이 반응로까지 확산되어 가면서 역시 반경 방향으로도 확산되어 가장 자리의 밀도는 감소되고 중앙의 밀도가 증가하는 것을 이용하여 플라즈마 균일도를 조절하는 플라즈마 균일도 조절 방법

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제2항에 있어서, 전력 인가 탭 위치를 변화시켜서 공진기와 반응로 경계부근에서 축 방향으로 유도되는 자기장의 세기를 변화시킴으로써 플라즈마 입자들의 반경 방향 확산을 억제시켜 반응로로 유입되는 플라즈마의 균일도를 조절하는 플라즈마 균일도 조절 방법

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제6항에 있어서, 하전 입자가 자기장에 수직한 방향으로 확산이 잘 되지 않는 것을 이용하여 공진기 내에서 유도되는 축 방향 자기장의 세기를 변화시켜 반응로로 유입되는 플라즈마의 균일도를 조절하는 플라즈마 균일도 조절 방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.