맞춤기술찾기

이전대상기술

이온빔 식각을 이용한 쌍곡면 드럼형 소자의 제조방법

  • 기술번호 : KST2015186501
  • 담당센터 : 대구기술혁신센터
  • 전화번호 : 053-550-1450
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 이온빔 식각법을 이용하여 활성층(Active region or gain medium)의 직경이 수㎛ 이하에서 수십 ㎚까지의 범위에서 균일한 크기를 가지는 쌍곡면 드럼형 소자를 대량으로 제조할 수 있는 방법과 이로부터 제조된 소자에 관한 것이다. 본 발명에 따른 쌍곡면 드럼형 소자의 제조방법은, 기판 상에 n형 반도체와 p형 반도체의 접합으로 이루어지며, 상기 n형 반도체와 p형 반도체 사이의 경계와 그 부근영역에 활성층을 갖는 에피택시층(epitaxial layer)을 형성하는 단계; 및 이온빔 식각법으로 상기 에피택시 층을 상기 활성층에서 최소의 직경을 갖도록 쌍곡면 드럼 형태로 식각하는 단계를 포함한다. 본 발명에 따른 제조방법으로 제조된 쌍곡면 드럼형 소자는 매우 균일하고 재연성이 좋으며 대량 생산이 가능하다는 장점이 있다. 쌍곡면 드럼형, 이온빔 식각, 활성층, 반도체 레이저, 양자점
Int. CL H01S 5/30 (2000.01) B82Y 10/00 (2011.01)
CPC
출원번호/일자 1020040026981 (2004.04.20)
출원인 학교법인 포항공과대학교
등록번호/일자 10-0781719-0000 (2007.11.27)
공개번호/일자 10-2005-0101776 (2005.10.25) 문서열기
공고번호/일자 (20071203) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항 심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2004.04.20)
심사청구항수 13

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 학교법인 포항공과대학교 대한민국 경상북도 포항시 남구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 권오대 대한민국 경상북도포항시남구
2 김준연 대한민국 경상북도포항시남구
3 안성재 대한민국 경상북도포항시남구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 유미특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 서림빌딩 **층 (역삼동)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 학교법인 포항공과대학교 대한민국 경북 포항시 남구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2004.04.20 수리 (Accepted) 1-1-2004-0161059-00
2 공지예외적용대상 증명서류 제출서
Submission of Document Verifying Exclusion from Being Publically Known
2004.04.22 수리 (Accepted) 1-1-2004-0165840-35
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2005.10.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2005.11.18 수리 (Accepted) 9-1-2005-0076269-07
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2005.11.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0612241-41
6 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2006.01.31 수리 (Accepted) 1-1-2006-0072891-74
7 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2006.02.28 수리 (Accepted) 1-1-2006-0145556-84
8 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2006.03.28 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2006-0217932-60
9 의견서
Written Opinion
2006.03.28 수리 (Accepted) 1-1-2006-0217931-14
10 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2006.10.05 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0553250-79
11 명세서 등 보정서(심사전치)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2006.12.08 보정승인 (Acceptance of amendment) 7-1-2006-0041195-84
12 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2007.01.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0021600-13
13 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2007.03.15 수리 (Accepted) 1-1-2007-0209545-06
14 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2007.04.16 수리 (Accepted) 1-1-2007-0289331-96
15 의견서
Written Opinion
2007.05.15 수리 (Accepted) 1-1-2007-0358789-89
16 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2007.05.15 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2007-0358790-25
17 등록결정서
Decision to grant
2007.09.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0507989-12
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.07.25 수리 (Accepted) 4-1-2019-5149263-30
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
삭제
2 2
삭제
3 3
삭제
4 4
삭제
5 5
삭제
6 6
삭제
7 7
삭제
8 8
삭제
9 9
삭제
10 10
기판 상에 n형 반도체와 p형 반도체의 접합으로 이루어지며, 상기 n형 반도체와 p형 반도체 사이의 경계와 그 부근영역에 활성층을 갖는 에피택시층(epitaxial layer)을 형성하는 단계; 및상기 n형 반도체 및 p형 반도체 각각의 외측단으로부터 상기 경계의 부근영역으로 갈수록 직경이 점진적으로 감소하고 상기 활성층에서 나노 스케일의 최소 직경의 수직 측벽을 갖도록 이온빔 식각법을 통해 이온빔을 조사하여 상기 에피택시 층을 쌍곡면 드럼 형태로 식각하는 이온빔 식각 단계를 포함하고,상기 이온빔 식각단계는,상기 에피택시 층을 상기 이온빔의 입사방향에 대하여 기 설정된 각도로 기울인 상태에서 회전시키면서, 마스크를 통해 상기 이온빔을 상기 에피택시 층에 조사하여 식각하는 것을 특징으로 하는 쌍곡면 드럼형 소자의 제조방법
11 11
제 10 항에 있어서, 상기 기판은 GaAs, GaN, ZnSe, SiC, InP 로 이루어지는 군에서 선택되는 물질을 기반으로 하는 쌍곡면 드럼형 소자의 제조방법
12 12
제 10 항에 있어서,상기 이온빔 식각 단계에서,상기 마스크를 통과한 상기 이온빔에 의해서 안쪽으로 테이퍼진 영역을 형성하고, 상기 마스크의 그림자 아래에서는 바깥쪽으로 테이퍼진 영역을 형성하여 쌍곡면 드럼 형태로 식각하는 것을 특징으로 하는 쌍곡면 드럼형 소자의 제조방법
13 13
제 10 항에 있어서,상기 이온빔 식각단계에서, 상기 기 설정된 각도는 상기 기판에 대해 수직한 방향과 상기 이온빔의 입사방향 사이의 각도로서 0°내지 90°의 범위 내에서 선택되는 것을 특징으로 하는 쌍곡면 드럼형 소자의 제조방법
14 14
제 10 항에 있어서, 상기 이온빔 식각단계에는 부식성 가스인 BCl3 또는 Cl2가 사용되는 것을 특징으로 하는 쌍곡면 드럼형 소자의 제조방법
15 15
제 10 항에 있어서, 상기 이온빔 식각단계에는 불활성 가스 이온빔이 사용되는 것을 특징으로 하는 쌍곡면 드럼형 소자의 제조방법
16 16
제 10 항에 있어서, 상기 이온빔 식각단계 후 식각 과정에서 발생되는 샘플 표면의 손상을 방지하기 위해 습식 식각을 더 수행하는 것을 특징으로 하는 쌍곡면 드럼형 소자의 제조방법
17 17
제 10 항에 있어서, 상기 이온빔 식각단계 후 표면의 자연 산화막의 생성을 방지하기 위해 유화 암모늄으로 표면 처리하는 것을 특징으로 하는 쌍곡면 드럼형 소자의 제조방법
18 18
제 10 항에 있어서, 상기 이온빔 식각단계 후 표면의 자연 산화막의 생성을 방지하기 위해 N2, H2, NH3를 이루는 군에서 하나 이상 선택되는 가스로 플라즈마 처리하는 것을 특징으로 하는 쌍곡면 드럼형 소자의 제조방법
19 19
기판 상에 활성층을 갖는 에피택시층(epitaxial layer)을 형성하는 단계; 및상기 에피택시층의 외측단으로부터 상기 활성층의 부근영역으로 갈수록 직경이 점진적으로 감소하고 상기 활성층에서 나노 스케일의 최소 직경의 수직 측벽을 갖도록 이온빔 식각법을 통해 이온빔을 조사하여 상기 에피택시 층을 쌍곡면 드럼 형태로 식각하는 이온빔 식각단계를 포함하고,상기 에피택시층 형성단계는,n+로 도핑된 기판 상에 n형 분산 브래그 반사기를 형성하는 단계;상기 n형 분산 브래그 반사기 위로 n형 장벽층을 형성하는 단계;상기 n형 장벽층 위로 양자우물로 구성되는 활성층을 형성하는 단계;상기 활성층 위로 p형 장벽층을 형성하는 단계;상기 p형 장벽층 위로 p형 분산 브래그 반사기를 형성하는 단계;를 포함하며,상기 이온빔 식각단계는,상기 에피택시 층을 상기 이온빔의 입사방향에 대하여 기 설정된 각도로 기울인 상태에서 회전시키면서, 마스크를 통해 상기 이온빔을 상기 에피택시 층에 조사하여 식각하는 것을 특징으로 하는 쌍곡면 드럼형 소자의 제조방법
20 20
제 19 항에 있어서,상기 이온빔 식각 단계에서,상기 마스크를 통과한 상기 이온빔에 의해서 안쪽으로 테이퍼진 영역을 형성하고, 상기 마스크의 그림자 아래에서는 바깥쪽으로 테이퍼진 영역을 형성하여 쌍곡면 드럼 형태로 식각하는 것을 특징으로 하는 쌍곡면 드럼형 소자의 제조방법
21 21
제 19 항에 있어서,상기 이온빔 식각단계에서,상기 기 설정된 각도는 상기 기판에 대해 수직한 방향과 상기 이온빔의 입사방향 사이의 각도로서 0°내지 90°의 범위 내에서 선택되는 것을 특징으로 하는 쌍곡면 드럼형 소자의 제조방법
22 22
제 19 항에 있어서, 상기 p형 분산 브래그 반사기의 외측면에 폴리이미드를 코팅하여 평탄화하는 단계; 및 상기 폴리이미드를 식각하고 Cr/Au를 증착하여 전극을 형성하는 단계 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 쌍곡면 드럼형 소자의 제조방법
23 22
제 19 항에 있어서, 상기 p형 분산 브래그 반사기의 외측면에 폴리이미드를 코팅하여 평탄화하는 단계; 및 상기 폴리이미드를 식각하고 Cr/Au를 증착하여 전극을 형성하는 단계 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 쌍곡면 드럼형 소자의 제조방법
지정국 정보가 없습니다
순번, 패밀리번호, 국가코드, 국가명, 종류의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 패밀리정보 - 패밀리정보 표입니다.
순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 JP17311285 JP 일본 FAMILY
2 US20050230697 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

순번, 패밀리번호, 국가코드, 국가명, 종류의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 패밀리정보 - DOCDB 패밀리 정보 표입니다.
순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 JP2005311285 JP 일본 DOCDBFAMILY
2 US2005230697 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.