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펠티어 비열 측정 장치

  • 기술번호 : KST2015186538
  • 담당센터 : 대구기술혁신센터
  • 전화번호 : 053-550-1450
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 시료의 비열을 측정하는 장치에 관한 것으로서, 펠티어 효과를 이용하여 열전쌍 도선을 통하여 시료 열을 발생/흡수하며, 또 다른 열전쌍 도선을 이용하여 시료의 온도를 측정하여 시료의 비열을 계산할 수 있게 한다. 즉, 본 발명에서는 펠티어 효과를 이용하므로써 시료에 열을 제공할 도선의 크기를 작게 구성할 수 있어 소량 및 극소량의 시료에 대한 비열을 정확하고 정밀하게 측정할 수 있다는 효과가 있다.
Int. CL G01N 25/00 (2006.01)
CPC G01N 25/005(2013.01)
출원번호/일자 1019990064609 (1999.12.29)
출원인 학교법인 포항공과대학교
등록번호/일자 10-0355755-0000 (2002.09.25)
공개번호/일자 10-2001-0064413 (2001.07.09) 문서열기
공고번호/일자 (20021019) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1999.12.29)
심사청구항수 3

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 학교법인 포항공과대학교 대한민국 경상북도 포항시 남구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정윤희 대한민국 경상북도포항시남구
2 문일권 대한민국 경상북도포항시남구
3 정대화 대한민국 경상북도포항시남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 장성구 대한민국 서울특별시 서초구 마방로 ** (양재동, 동원F&B빌딩)(제일특허법인(유))
2 김원준 대한민국 서울특별시 서초구 마방로 ** (양재동, 동원F&B빌딩)(제일특허법인(유))

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 학교법인 포항공과대학교 대한민국 경북 포항시 남구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
1999.12.29 수리 (Accepted) 1-1-1999-0186056-17
2 전자문서첨부서류제출서
Submission of Attachment to Electronic Document
1999.12.30 수리 (Accepted) 1-1-1999-5438966-67
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2000.01.31 수리 (Accepted) 4-1-2000-0012365-15
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2001.12.24 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2002.01.23 수리 (Accepted) 9-1-2002-0034335-35
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2002.03.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2002-0087140-53
7 의견서
Written Opinion
2002.05.18 수리 (Accepted) 1-1-2002-0152325-60
8 명세서 등 보정서
Amendment to Description, etc.
2002.05.18 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2002-0152324-14
9 등록결정서
Decision to grant
2002.06.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2002-0225363-21
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.07.25 수리 (Accepted) 4-1-2019-5149263-30
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번호 청구항
1 1

시료의 비열을 측정하는 장치에 있어서,

교류 전류를 제공하는 교류 발생부;

교류 전류를 측정하는 전류계;

시료가 내장된 항온조;

상기 교류 전류계와 전압계 사이에 구성되며, 상기 시료와 항온조에 절곡점이 접촉되어 상기 항온조와 시료간의 열교환을 행하는 제 1 열전쌍 도선;

상기 시료의 일단에 절곡점이 형성되어 상기 시료의 온도 진동에 대응하는 전압을 발생시키는 제 2 열전쌍 도선;

상기 제 2 열전쌍 도선의 전압을 상기 온도에 대응하는 전압으로 변환시키는 전압 변환부;

상기 전압 변환부의 전압을 측정하는 전압계를 구비하는 것을 특징으로 하는 펠티어 비열 측정 장치

2 2

삭제

3 3

시료의 비열을 측정하는 장치에 있어서,

중앙에 개구부가 형성된 실리콘 기판;

상기 개구부를 통과하도록 상기 실리콘 기판위에 증착된 실리콘 박막 상부에 형성되는 제 1 전도체 박막;

상기 개구부를 통과하되, 상기 제 1 전도체 박막과 두 개의 접합점이 형성되도록 위치하며, 상기 제 1 전도체 박막과 상이한 전기 전도율을 가져 상기 제 1 전도체 박막과 함께 열전쌍 도선을 형성하는 제 2 및 제 3 반도체 박막을 구비하며,

상기 제 1, 제 2 및 제 3 전도체 끝단에는 금속 패드가 상기 실리콘 기판에 증착되고, 상기 제 2 또는 제 3 전도체 끝단의 금속 패드를 통하여 교류 전류를 제공하여 두 개의 접합점에 열진동을 발생시키며, 상기 교류 전류가 제공되지 않은 제 1, 2, 3 전도체 끝단의 금속 패드를 통하여 상기 접합점의 온도 진동을 검출할 수 있도록 구성된 것을 특징으로 하는 펠티어 비열 측정 장치

4 4

시료의 비열을 측정하는 장치에 있어서,

제 1 기판 및 시료가 상부에 위치한 제 2 기판이 내장되는 항온조;

상기 항온조, 상기 제 2 기판, 항온조 그리고 제 1 기판의 순으로 절곡점이 형성되며, 상기 절곡점은 상기 항온조, 제 1 및 제 2 기판에 각각 접촉되고, 끝단을 통하여 직류 전류가 제공되어 상기 절곡점을 통하여 상기 제 1, 제 2 기판 및 항온조를 가열/냉각하는 제 1 열전쌍 도선;

상기 제 1 및 제 2 기판에 각각 접촉되는 절곡점이 형성되어 상기 제 1 및 제 2 기판 사이의 온도 차를 검출하는 제 2 열전쌍 도선;

상기 제 1 및 제 2 기판에 각각 접촉되는 절곡점이 형성되며, 직류 전류가 제공되어 상기 제 1 및 제 2 기판을 가열/냉각함으로써 상기 제 1 및 제 2 기판 사이의 온도 차를 보상하는 제 3 열전쌍 도선을 포함하는 것을 특징으로 하는 펠티어 비열 측정 장치

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.