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LFM을 이용하여 화학처리된 시료 표면을 분석하는 방법

  • 기술번호 : KST2015187166
  • 담당센터 : 대구기술혁신센터
  • 전화번호 : 053-550-1450
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 LFM(Lateral Force Microscopy)을 이용하여 화학처리된 시료 표면을 분석하는 방법에 관한 것이다. 상기 방법은 2가지 이상의 화학적 작용기가 도입된 시료 표면의 화학적 특성을 분석하는 방법으로서, LFM(Lateral Force Microscope) 탐침의 표면에 하이드록시기(OH), 카르복실기(COOH), 아민기(NH2), 아미드기(CONH2), 할로겐 원자, 트리플루오로메틸카르보닐아민기(NHCOCF3), 알킬카르보닐아민기(NHCOR), 알콕시기(OR) 및 알킬기(R)로 이루어진 군으로부터 선택된 화학적 작용기를 도입하고, 화학적 작용기가 도입된 LFM 탐침으로 시료 표면을 주사(scanning)하여 시료 표면의 화학적 작용기와 LFM 탐침의 화학적 작용기간의 마찰력 또는 흡착력 차이에 의하여 시료 표면의 화학적 특성을 알아내는 것을 특징으로 한다(여기에서, R은 C1∼C6 알킬기임). 본 발명에 따르면, 다양한 화학적 작용기를 갖는 LFM 탐침으로 2가지 이상의 화학적 작용기가 도입된 시료 표면을 주사함으로써 시료 표면의 화학적 특성을 나노미터 수준에서 규명하는 것이 가능하다. 이러한 분석결과는 촉매반응 등과 같은 표면화학반응에 유용하게 적용될 수 있을 뿐만 아니라, 나노미터 수준의 화학적 감응장치(chemical sensor), 미세회로 등의 기능성 표면재료를 개발하는 연구와 생화학적 상황에 적용시킨 분자 인지 모델의 연구에 다양하게 접목시킬 수 있다.
Int. CL G01N 30/00 (2011.01)
CPC G01Q 70/18(2013.01) G01Q 70/18(2013.01) G01Q 70/18(2013.01)
출원번호/일자 1019970044393 (1997.08.30)
출원인 학교법인 포항공과대학교
등록번호/일자 10-0219097-0000 (1999.06.14)
공개번호/일자 10-1999-0020916 (1999.03.25) 문서열기
공고번호/일자 (19990901) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1997.08.30)
심사청구항수 3

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 학교법인 포항공과대학교 대한민국 경상북도 포항시 남구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김윤 대한민국 경상북도 포항시 남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이영필 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)(리앤목특허법인)
2 권석흠 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 서림빌딩 **층 (역삼동)(유미특허법인)
3 정상빈 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 서림빌딩 **층 (역삼동)(유미특허법인)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 학교법인 포항공과대학교 대한민국 경상북도 포항시 남구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 1997.08.30 수리 (Accepted) 1-1-1997-0140980-33
2 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent		 1997.08.30 수리 (Accepted) 1-1-1997-0140981-89
3 출원심사청구서
Request for Examination		 1997.08.30 수리 (Accepted) 1-1-1997-0140982-24
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 1999.01.14 수리 (Accepted) 4-1-1999-0005580-12
5 등록사정서
Decision to grant		 1999.05.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-1999-0164281-15
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 1999.09.30 수리 (Accepted) 4-1-1999-0122834-81
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2000.01.31 수리 (Accepted) 4-1-2000-0012365-15
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.07.25 수리 (Accepted) 4-1-2019-5149263-30
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번호 청구항
1 1

2가지 이상의 화학적 작용기가 도입된 시료 표면의 화학적 특성을 분석하는 방법에 있어서,

LFM(Lateral Force Microscope) 탐침의 표면에 하이드록시기(OH), 카르복실기(COOH), 아민기(NH2), 아미드기(CONH2), 할로겐 원자, 트리플루오로메틸카르보닐아민기(NHCOCF3), 알킬카르보닐아민기(NHCOR), 알콕시기(OR) 및 알킬기(R)로 이루어진 군으로부터 선택된 화학적 작용기를 도입하고,

화학적 작용기가 도입된 LFM 탐침으로 시료 표면을 주사(scanning)하여 시료 표면의 화학적 작용기와 LFM 탐침의 화학적 작용기간의 마찰력 또는 흡착력 차이에 의하여 시료 표면의 화학적 특성을 알아내는 것을 특징으로 하는 방법(여기에서, R은 C1∼C6 알킬기임)

2 2

제1항에 있어서, 상기 시료 표면에 도입된 화학적 작용기는 할로겐 원자, 하이드록시기(OH) 및 티올기(SH)로 이루어진 군으로부터 선택된 화학적 작용기인 것을 특징으로 하는 방법

3 3

제1항에 있어서, 상기 LFM 탐침의 표면에 화학적 작용기를 도입하기 전에 금(Au) 또는 은(Ag) 박막을 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 방법

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