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초소형 비행 시간 질량 분석기 및 그 제조방법

  • 기술번호 : KST2015187382
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 초소형 비행 시간 질량 분석기 및 그 제조방법이 제공된다. 본 발명에 따른 초소형 비행 시간 질량 분석기는, 상판과 하판으로 이루어져 있고, 상기 상판과 하판 사이가 진공 상태로 유지되는 초소형 비행 시간 질량 분석기에 있어서, 상기 하판에 형성된 탄소나노파티클로부터 발생되는 전자와의 충돌에 의해, 상기 상판에 형성된 주입구를 통해 주입되는 시료를 이온화시키는 이온 발생기; 상기 상판에 장착되어, 펄스로 구동되는 반발 전극에 의해 상기 이온화된 시료를 출발시켜 가속 전극에 의해 가속시키는 이온 가속기; 및 상기 상판과 하판에 연결되어 설치되어, 상기 이온화된 시료가 도달하는 시간을 측정하여 상기 이온화된 시료의 질량을 분석할 수 있는 이온 검출기를 포함한다. 비행 시간, 질량 분석기, 이온 분리기, 이온 가속기, 이온 검출기
Int. CL B82Y 99/00 (2011.01) G01N 21/62 (2011.01) G01N 27/62 (2011.01)
CPC G01N 27/622(2013.01) G01N 27/622(2013.01) G01N 27/622(2013.01) G01N 27/622(2013.01)
출원번호/일자 1020070046860 (2007.05.15)
출원인 아주대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2008-0100878 (2008.11.21) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.05.15)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 아주대학교산학협력단 대한민국 경기도 수원시 영통구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 양상식 대한민국 서울 서초구
2 윤현중 대한민국 경기 수원시 영통구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 윤재승 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 덕천빌딩 *층 (역삼동)(예준국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2007.05.15 수리 (Accepted) 1-1-2007-0355995-63
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2008.02.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2008.03.13 수리 (Accepted) 9-1-2008-0017486-95
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2008.11.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0587452-05
5 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2009.01.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0040036-20
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.02 수리 (Accepted) 4-1-2014-5000672-13
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번호 청구항
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상판과 하판으로 이루어져 있고, 상기 상판과 하판 사이가 진공 상태로 유지되는 초소형 비행 시간 질량 분석기에 있어서, 상기 하판에 형성된 탄소나노파티클로부터 발생되는 전자와의 충돌에 의해, 상기 상판에 형성된 주입구를 통해 주입되는 시료를 이온화시키는 이온 발생기; 상기 상판에 장착되어, 펄스로 구동되는 반발 전극에 의해 상기 이온화된 시료를 출발시켜 가속 전극에 의해 가속시키는 이온 가속기; 및 상기 상판과 하판에 연결되어 설치되어, 상기 이온화된 시료가 도달하는 시간을 측정하여 상기 이온화된 시료의 질량을 분석할 수 있는 이온 검출기를 포함하는 것을 특징으로 하는 초소형 비행 시간 질량 분석기
2 2
제1항에 있어서, 상기 이온 발생기는, 상기 탄소나노파티클로 이루어져 있어, 상기 탄소나노파티클로부터 전자들이 방출되는 음극; 상기 상판 상에 형성되어, 상기 음극으로부터 방출되는 전자들을 끌어들이는 양극을 포함하는 것을 특징으로 하는 초소형 비행 시간 질량 분석기
3 3
제2항에 있어서, 상기 이온 발생기는, 상기 음극 옆에 형성되어, 상기 방출된 전자들을 집속하여 가속시키는 그리드 전극을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 초소형 비행 시간 질량 분석기
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제1항에 있어서, 상기 탄소나노파티클과 상기 하판 사이에 크롬막과 니켈철막으로 형성되어, 상기 탄소나노파티클의 성장을 촉진시키는 촉매층을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 초소형 비행 시간 질량 분석기
5 5
이온 발생기 및 이온 가속기를 포함하는 초소형 비행 시간 질량 분석기를 제조하는 방법에 있어서, 실리콘 기판 상에 탄소나노파티클을 적재시켜, 상기 탄소나노파티클로부터 방출되는 전자를 시료와 충돌시켜 이온화시키는 이온 발생기를 장착한 하판을 제조하는 단계; 이온화된 시료를 가속시키는 이온 가속기를 유리 기판 상에 장착한 상판을 제조하는 단계: 및 상기 상판 및 하판을 정렬한 후, 상기 상판과 하판 사이의 공간을 진공으로 유지시키면서 결합하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 초소형 비행 시간 질량 분석기의 제조방법
6 6
제5항에 있어서, 상기 하판을 제조하는 단계는, 상기 실리콘 기판 상에 절연층으로 사용할 열산화막을 성장하는 단계;그리드 전극으로 사용하기 위한 크롬막을 형성하고, 포토 리소그래피 공정을 통해 상기 크롬막을 패터닝하는 단계; 상기 크롬막 및 열산화막 상에 포토 레지스트를 적층하고, 상기 크롬막 및 열산화막을 패터닝하는 단계; 상기 실리콘 기판을 SF6 가스 및 산소 가스를 이용하여 건식 식각하고, 상기 크롬막의 벽면을 크롬 식각액을 이용하여 식각하는 단계; 및 식각된 실리콘 기판 상에 촉매층을 형성하고 HFCVD(Hot Filament Chemical Vapor Deposition)에 의해 탄소나노파티클을 성장시키고, 상기 포토 레지스트를 제거하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 초소형 비행 시간 질량 분석기의 제조 방법
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제5항에 있어서, 상기 상판을 제조하는 단계는, 상기 유리 기판 상에 Ti/Au막을 형성한 후, 상기 Ti/Au막을 패터닝하여 Ti/Au전극을 형성하는 단계; 상기 유리 기판 및 Ti/Au전극 상에 포토 레지스트를 형성한 후, 리소그래피 공정을 거쳐 도금 몰드를 형성하는 단계; 상기 도금 몰드에 니켈 도금을 수행하여 니켈 가속 전극을 형성하는 단계; 상기 포토 레지스트를 제거하는 단계; 및 상기 유리 기판의 소정의 위치에 EDM(Electro Discharge Machining) 공정을 통해 시료 주입구를 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 초소형 비행 시간 질량 분석기의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.