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제품의 품질 추론 방법 및 시스템

  • 기술번호 : KST2015188590
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 제품의 품질 추론 방법 및 시스템에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 제품에 대한 적어도 하나의 품질관련정보를 온톨로지화하여 모델링하는 온톨로지모델링단계; 상기 제품의 온톨로지화된 품질관련정보를 이용하여 적어도 하나의 예상규칙정보를 정의하여 모델링하는 예상규칙모델링단계; 상기 예상규칙정보와 상기 제품의 공정수행 시 측정된 공정조건을 상호 매칭한 후, 상기 제품에 대한 품질상태를 모니터링하는 품질모니터링단계; 및 상기 품질상태의 모니터링결과에 기초하여 상기 제품의 후속 대응공정을 수행하도록 지시하는 후속공정지시단계; 를 포함한다. 이러한 구성에 의해, 본 발명의 제품의 품질 추론 방법 및 시스템은 주요기업과 다수의 협력업체간 협업을 통해 제품 생산 시, 상기 제품의 불량을 소비자에게 출시되기 전에 미리 파악함으로써, 제품의 불량으로 인한 소비자의 피해를 미연에 방지할 수 있는 효과가 있다.
Int. CL G06Q 10/04 (2012.01) G09F 19/00 (2006.01)
CPC G06F 19/00(2013.01) G06F 19/00(2013.01) G06F 19/00(2013.01)
출원번호/일자 1020120021196 (2012.02.29)
출원인 동국대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1263410-0000 (2013.05.06)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20130510) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.02.29)
심사청구항수 20

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 동국대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 중구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이용한 대한민국 서울 서대문구
2 이경훈 대한민국 경기 성남시 분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인충현 대한민국 서울특별시 서초구 동산로 **, *층(양재동, 베델회관)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 동국대학교 산학협력단 서울특별시 중구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.02.29 수리 (Accepted) 1-1-2012-0169488-25
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.01.30 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.03.06 수리 (Accepted) 9-1-2013-0012136-21
4 등록결정서
Decision to grant
2013.04.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0288049-90
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2014-0002002-62
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.16 수리 (Accepted) 4-1-2019-5163486-33
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
제품에 대한 적어도 하나의 품질관련정보를 온톨로지화하여 모델링하는 온톨로지모델링단계;상기 제품의 온톨로지화된 품질관련정보를 이용하여 적어도 하나의 예상규칙정보를 정의하여 모델링하는 예상규칙모델링단계;상기 예상규칙정보와 상기 제품의 공정수행 시 측정된 공정조건을 상호 매칭한 후, 상기 제품에 대한 품질상태를 모니터링하는 품질모니터링단계; 및 상기 품질상태의 모니터링결과에 기초하여 상기 제품의 후속공정을 수행하도록 지시하는 후속공정지시단계; 를 포함하는 제품의 품질 추론 방법
2 2
제1항에 있어서,상기 온톨로지모델링단계는상기 제품의 품질관련정보를 상위 온톨로지로 정의하여 모델링하는 상위온톨로지모델링과정; 및상기 품질관련정보에 속하는 세부사항정보를 하위 온톨로지로 정의하여 모델링하는 하위온톨로지모델링과정;을 포함하는 것을 특징으로 하는 제품의 품질 추론 방법
3 3
제1항에 있어서,상기 예상규칙모델링단계는상기 제품의 품질상태 측정을 위한 다수의 테스트결과에 따라 예상규칙정보를 정의하여 모델링하는 제1예상규칙정보모델링과정; 및사출성형기 내 배치된 압력 또는 온도센서로부터 상기 제품의 품질상태에 대하여 입력받은 데이터에 기초하여 예상규칙정보를 정의하여 모델링하는 제2예상규칙정보모델링과정;중 하나의 과정을 수행하는 것을 특징으로 하는 제품의 품질 추론 방법
4 4
제3항에 있어서, 상기 제1예상규칙정보모델링과정은사출성형기 내 냉각수온도, 사출압력 및 보압절환점 중 적어도 하나에 대한 테스트결과에 기초하여 예상규칙정보를 정의한 후 모델링하는 것을 특징으로 하는 제품의 품질 추론 방법
5 5
제3항에 있어서,상기 제2예상규칙정보모델링과정은 상기 압력 또는 온도센서로부터 최소압력값, 최대압력값, 사이클 시작부터 최대압력값까지 압력곡선의 적분값, 최대압력값에서 사이클 끝까지 압력곡선의 적분값, 사이클 시작부터 끝까지 압력곡선의 적분값, 사이클 시작부터 최대압력값까지의 시간, 최대압력값에서 사이클 끝까지의 시간, 사이클 시간 및 최대금형온도값 중 적어도 하나를 입력받는 것을 특징으로 하는 제품의 품질 추론 방법
6 6
제1항에 있어서,상기 품질모니터링단계는사출성형기 내 배치된 압력 또는 온도센서로부터 적어도 하나의 공정조건을 입력받는 공정조건수신과정;상기 예상규칙정보와 공정조건을 상호 매칭하는 매칭과정; 및상기 예상규칙정보와 공정조건간의 매칭결과에 따라 제품의 품질상태를 모니터링하는 모니터링과정;을 포함하는 것을 특징으로 하는 제품의 품질 추론 방법
7 7
제1항에 있어서,상기 품질모니터링단계는상기 제품의 온톨로지화된 품질관련정보를 규칙판단모듈에 의해 추론하여 상기 제품의 품질상태를 모니터링하는 과정;을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 제품의 품질 추론 방법
8 8
제1항에 있어서,상기 후속공정지시단계는상기 제품의 품질상태에 따른 모니터링결과에 기초하여 상기 제품의 사출성형을 위한 사출성형기의 공정조건을 변경하도록 지시하는 공정조건변경과정;상기 모니터링결과에 따라 상기 제품의 유지보수를 수행하도록 지시하는 유지보수처리과정;상기 모니터링결과에 기초하여 상기 제품의 전수검사 또는 샘플링검사를 수행하도록 지시하는 품질검사과정; 및상기 모니터링결과에 기초하여 상기 제품의 생산관련정보를 검사하도록 지시하는 생산정보검사과정;중 적어도 하나의 과정을 수행하는 것을 특징으로 하는 제품의 품질 추론 방법
9 9
제1항에 있어서, 상기 후속공정지시단계 수행 후,상기 예상규칙정보를 상하위 관계를 갖도록 트리구조로 배열하고, 배열상태에 따라 상기 제품의 품질에 대한 신규 예상규칙정보를 생성하는 신규예상규칙생성단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 제품의 품질 추론 방법
10 10
제9항에 있어서,상기 신규예상규칙생성단계는상기 제품의 상기 공정조건을 독립변수로 설정하고, 상기 공정조건에 해당하는 모니터링결과를 상기 독립변수에 대한 종속변수로 설정하여 상기 제품의 품질에 대한 신규 예상규칙정보를 생성하는 것을 특징으로 하는 제품의 품질 추론 방법
11 11
제1항에 있어서,상기 제품의 온톨로지화된 품질관련정보, 예상규칙정보, 모니터링결과 및 공정조건 중 적어도 하나를 저장하는 저장단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 제품의 품질 추론 방법
12 12
제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 따른 방법을 컴퓨터로 실행하기 위한 프로그램이 기록된 컴퓨터 판독가능 기록매체
13 13
제품에 대한 적어도 하나의 품질관련정보를 온톨로지화하여 모델링하는 온톨로지모델링부;상기 제품의 온톨로지화된 품질관련정보를 이용하여 적어도 하나의 예상규칙정보를 정의하여 모델링하는 예상규칙모델링부;상기 예상규칙정보와 상기 제품의 공정 수행 시 측정된 공정조건을 상호 매칭한 후, 상기 제품에 대한 품질상태를 모니터링하는 품질모니터링부; 및 상기 품질상태의 모니터링결과에 기초하여 상기 제품에 대한 후속공정을 수행하도록 지시하는 후속공정지시부; 를 포함하는 제품의 품질 추론 시스템
14 14
제13항에 있어서,상기 온톨로지모델링부는상기 제품에 대한 품질관련정보를 상위 온톨로지로 정의하여 모델링하는 상위온톨로지모델링모듈; 및상기 품질관련정보에 속하는 세부사항정보를 하위 온톨로지로 정의하여 모델링하는 하위온톨로지모델링모듈;을 포함하는 것을 특징으로 하는 제품의 품질 추론 시스템
15 15
제13항에 있어서,상기 예상규칙모델링부는상기 제품의 품질상태 측정을 위한 다수의 테스트결과에 따라 예상규칙정보를 정의하여 모델링하는 전문가모델링모듈; 및사출성형기 내 배치된 압력 또는 온도센서로부터 상기 제품의 품질상태 측정을 위해 입력받은 데이터에 기초하여 예상규칙정보를 정의하여 모델링하는 데이터마이닝모델링모듈;를 포함하는 것을 특징으로 하는 제품의 품질 추론 시스템
16 16
제13항에 있어서,상기 품질모니터링부는제품의 사출성형 시, 사출성형기 내 배치된 압력 또는 온도센서로부터 적어도 하나의 공정조건을 수신하는 공정조건수신모듈;상기 예상규칙정보와 공정조건간 상호 매칭하는 매칭모듈; 및상기 예상규칙정보와 공정조건 간의 매칭결과에 따라, 제품의 품질상태를 모니터링하는 모니터링모듈;을 포함하는 것을 특징으로 하는 제품의 품질 추론 시스템
17 17
제13항에 있어서,상기 품질모니터링부는상기 제품의 온톨로지화된 품질관련정보를 추론하여 상기 제품의 품질상태를 모니터링하는 규칙판단엔진모듈;을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 제품의 품질 추론 시스템
18 18
제13항에 있어서,상기 후속공정지시부는상기 제품의 품질상태에 따른 모니터링결과에 기초하여 상기 제품의 사출성형을 위한 사출성형기의 공정조건을 변경하도록 지시하는 공정조건변경모듈;상기 모니터링결과에 따라 상기 제품의 유지보수를 수행하도록 지시하는 유지보수처리모듈;상기 모니터링결과에 기초하여 상기 제품의 전수검사 또는 샘플링검사를 수행하도록 지시하는 품질검사모듈; 및상기 모니터링결과에 기초하여 상기 제품의 생산관련정보를 검사하도록 지시하는 생산정보검사모듈;을 포함하는 것을 특징으로 하는 제품의 품질 추론 시스템
19 19
제13항에 있어서, 상기 예상규칙정보를 상하위 관계를 갖도록 트리구조로 배열하고, 배열상태에 따라 상기 제품의 품질에 대한 신규 예상규칙정보를 생성하는 신규예상규칙생성부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 제품의 품질 추론 시스템
20 20
제13항에 있어서,상기 제품의 온톨로지화된 품질관련정보, 예상규칙정보, 모니터링결과 및 공정조건 중 적어도 하나를 저장하는 저장부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 제품의 품질 추론 시스템
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1 지식경제부 동국대학교 산학협력단 산업원천기술개발사업 수주형 산업의 실시간 생산운영 및 설비, 생산 통합관리 기술개발[2/3]