| 요약 |
본 발명은, 시험을 위한 페라이트의 PID(비례제어기)값, 파괴강도값 및 진폭값이 셋팅 혹은 결정되어 있는 지를 순차적으로 체킹하는 설정값 체킹 단계와, 상기 설정값 체킹 단계 중에 판단한 결과 시험을 위한 페라이트의 PID값, 파괴강도값 및 진폭값이 셋팅되어 있지 않을 경우 시험을 위한 페라이트의 PID(비례제어기)값, 파괴강도값 및 진폭값을 측정하여 셋팅 혹은 결정시키는 설정값 측정 단계와, 상기 설정값 체킹 단계 중에 판단한 결과 시험을 위한 페라이트의 PID값, 파괴강도값 및 진폭값이 셋팅 혹은 결정되어 있을 경우 셋팅된 시험조건을 이용하여 페라이트의 피로시험을 실행시키는 피로시험 실행 단계를 포함하여 구성되는 전자부품용 페라이트의 피로시험방법을 제공한다.본 발명은 전자부품용 페라이트에 대한 실제 사용 조건하의 고장메커니즘을 반영하여 신뢰성모델을 설정한 다음 실제 페라이트를 시험에 장비에 장착한 후 그 신뢰성모델을 이용한 설정된 시험단계에 따라 정량적인 가속시험을 실행함으로써, 정량적인 스트레스 평가를 통해 출고전의 페라이트에 대한 피로상태를 정확히 예측할 수 있기 때문에 페라이트의 교체 주기 및 제품 생산량을 예측할 수 있으므로 그에 따라 페라이트의 생산품질성을 극대화시키는 장점을 가지고 있다.인덕터, 페라이트, 정량시험, 열응력해석, 가속시험, 인장강도
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