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그래핀 시편에 전자기의 인가가 가능한 X선 분석 장치 및 이를 이용한 극 미세 두께를 갖는 그래핀에 대한 X선 분석 방법

  • 기술번호 : KST2015189261
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 그동안 미지 영역으로 남아있던 그래핀 극 미세 박막의 물성의 파악을 위해 그래핀 시편에 전기 또는 자기를 인가하며 X선 분석을 할 수 있게 해주는 그래핀 시편에 전자기의 인가가 가능한 X선 분석 장치 및 이를 이용한 극한 초박막 그래핀(두께 0.35nm~3nm)의 결정학적 분석 방법에 관한 것이다.
Int. CL G01N 23/207 (2006.01) G01N 23/20 (2006.01)
CPC G01N 23/20(2013.01) G01N 23/20(2013.01) G01N 23/20(2013.01)
출원번호/일자 1020140193316 (2014.12.30)
출원인 한국세라믹기술원
등록번호/일자 10-1535455-0000 (2015.07.03)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20150713) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.12.30)
심사청구항수 2

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국세라믹기술원 대한민국 경상남도 진주시 소호로 ***

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 허승헌 대한민국 서울특별시 동작구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 조성광 대한민국 서울특별시 금천구 가산디지털*로 ***(가산동, 가산더블유센터) ****호(지본특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국세라믹기술원 대한민국 경상남도 진주시 소호로 ***
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.12.30 수리 (Accepted) 1-1-2014-1277884-51
2 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2015.01.26 수리 (Accepted) 1-1-2015-0082087-72
3 [우선심사신청]선행기술조사의뢰서
[Request for Preferential Examination] Request for Prior Art Search
2015.01.26 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 [우선심사신청]선행기술조사보고서
[Request for Preferential Examination] Report of Prior Art Search
2015.02.05 수리 (Accepted) 9-1-2015-0008118-39
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2015.02.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0103765-04
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.03.31 수리 (Accepted) 4-1-2015-5040685-78
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2015.04.10 수리 (Accepted) 1-1-2015-0352904-81
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2015.04.10 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2015-0352946-98
9 등록결정서
Decision to grant
2015.04.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0250646-83
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번호 청구항
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그래핀 시편이 안치되는 챔버;상기 챔버 내 그래핀 시편에 전기 및 자기 가운데 어느 하나 이상을 인가하여 주는 전자기 인가장치;상기 챔버 내 그래핀 시편에 X선을 조사하는 X선 조사장치; 및상기 챔버 내 그래핀 시편을 투과하거나 상기 그래핀 시편에 부딛혀 반사 또는 회절하는 X선을 검출하는 검출장치;를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 그래핀 시편에 전자기의 인가가 가능한 X선 분석 장치를 이용한 극 미세 두께를 갖는 그래핀에 대한 X선 분석 방법으로서,(a) 상기 그래핀 시편에 전자기의 인가가 가능한 X선 분석 장치를 준비하는 단계;(b) 상기 챔버에 층수 1~10층, 크기 0
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그래핀 시편이 안치되는 챔버;상기 챔버 내 그래핀 시편에 전기 및 자기 가운데 어느 하나 이상을 인가하여 주는 전자기 인가장치;상기 챔버 내 그래핀 시편에 X선을 조사하는 X선 조사장치; 및상기 챔버 내 그래핀 시편을 투과하거나 상기 그래핀 시편에 부딛혀 반사 또는 회절하는 X선을 검출하는 검출장치;를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 그래핀 시편에 전자기의 인가가 가능한 X선 분석 장치를 이용한 극 미세 두께를 갖는 그래핀에 대한 X선 분석 방법으로서,(a) 상기 그래핀 시편에 전자기의 인가가 가능한 X선 분석 장치를 준비하는 단계;(b) 상기 챔버에 층수 1~10층, 크기 0
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