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도핑된 산화아연, 산화주석을 이용한 고밀도, 고전도성 산화인듐-산화아연-산화주석 타겟 조성물 및 그 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015189486
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 투명전도성산화막 (Transparent conducting oxide : TCO)으로 사용되는 고밀도, 고전도성 산화인듐-산화아연-산화주석(In2O3-ZnO-SnO2) 타겟 제조에 관한 것이다. 본 발명의 스퍼티링 타겟은 산화인듐(In2O3), 산화아연(ZnO), 산화주석(SnO2)을 주성분으로 하여, 산화주석에 P, As, Nb, Ta 등의 5가원소를, 산화아연 에 B, Al, Ga, Sb, Y 등의 3가원소를 도핑한 조성물을 혼합하는 것을 특징으로 한다. 산화주석 과 산화아연에 0.25 내지 4 중량퍼센트로 5가와 3가원소를 각각 도핑하며, In2O3-ZnO-SnO2 타겟 조성물은 산화인듐 50 내지 80, 산화아연 10내지 35, 산화주석 5 내지 20 중량퍼센트를 포함하는 것을 특징으로 한다. 타겟은 조성물을 혼합, 분쇄, 과립화, 성형 공정을 거쳐 상기 성형물을 산소분위기 중 1450~1550 oC에서 소결을 후, 수소 분위기 중 600oC에서 환원하여 제조하였다. 본 발명에 의하면 In2O3 저감에 의해 제조 비용의 저감이 가능하며 도핑을 통해 고전도성 타겟 제조에 효과가 있다. 투명전도성 산화물, 타켓 조성물
Int. CL C23C 14/34 (2006.01) C23C 14/08 (2006.01)
CPC C23C 14/3414(2013.01) C23C 14/3414(2013.01) C23C 14/3414(2013.01) C23C 14/3414(2013.01) C23C 14/3414(2013.01)
출원번호/일자 1020090092867 (2009.09.30)
출원인 한국세라믹기술원, 디에스엠 유한회사
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2011-0035239 (2011.04.06) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.09.30)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국세라믹기술원 대한민국 경상남도 진주시 소호로 ***
2 디에스엠 유한회사 대한민국 경기도 안성시

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최병현 대한민국 경기도 광명시 철산로 **,
2 지미정 대한민국 경기도 광명시 하안로 ***
3 원주연 대한민국 인천광역시 남동구
4 서한 대한민국 경기도 화성시 병점*로 **
5 남태방 대한민국 서울특별시 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 황성택 대한민국 서울특별시 구로구 경인로**길 **, 가동 ****호 노송특허법률사무소 (구로동, 중앙유통단지)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.09.30 수리 (Accepted) 1-1-2009-0601512-64
2 보정요구서
Request for Amendment
2009.10.05 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2009-0073481-33
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2009.10.07 수리 (Accepted) 1-1-2009-0612964-34
4 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2009.10.09 수리 (Accepted) 1-1-2009-0618712-86
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2010.09.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2010.10.13 수리 (Accepted) 9-1-2010-0062268-41
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.09.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0518988-41
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.11.10 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0887375-82
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.11.10 수리 (Accepted) 1-1-2011-0887374-36
10 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2012.03.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0160691-80
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.07.06 수리 (Accepted) 4-1-2012-5144558-80
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.03 수리 (Accepted) 4-1-2014-0000353-25
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.03.31 수리 (Accepted) 4-1-2015-5040685-78
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
10~35중량퍼센트의 ZnO, 5~20중량 퍼센트의 SnO2 , 잔부는 In2O3인 것을 특징으로하는 도핑된 ZnO,SnO2를 이용한 고밀도 고전도성 In2O3-ZnO-SnO2 타겟 조성물
2 2
제 1항에 있어서, ZnO에 3가 원소인 B, Al, Ga, Sb, Y 중 하나의 성분을 도펀트로 4중량퍼센트 이하 포함하고, SnO2에 5가원소인 P, As, Nb, Ta 중 하나의 성분을 도펀트로 4중량퍼센트이하 포함하는 것을 특징으로 하는 도핑된 ZnO,SnO2를 이용한 고밀도 고전도성 In2O3-ZnO-SnO2 타겟 조성물
3 3
제 1항 또는 2항 조성물의 입경이 0
4 4
제 1항 또는 제2항의 조성물을 산소분위기 하의 노에서 1500℃~1640℃로 5시간 동안 소성하고 수소 분위기 600℃에서 환원처리하여 소결체를 제조하는 도핑된 ZnO,SnO2를 이용한 고밀도 고전도성 In2O3-ZnO-SnO2 타겟 제조방법
5 5
제 4항에 있어서 소결제의 벌크저항은 1
6 6
제 4항에 있어서 소결체의 밀도는 4
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.