| 요약 |
본 발명은 미러를 이용한 광학 시스템에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 (1) 넓은 시야각(field of view; FOV)을 가지며, 넓은 범위에서 관찰 대상을 검출하기 위한 목표 확인(triggering) 광학 모듈과, (2) 상기 목표 확인 광학 모듈보다 시야각은 좁으나 고분해능을 가지며, 관찰 대상을 상세 관찰하기 위한 입상(imaging) 광학 모듈과, (3) 상기 입상 광학 모듈 앞에 배치되며, 고속으로 반사각을 제어할 수 있는 미러와, (4) 상기 목표 확인 광학 모듈에서 검출된 대상이 관찰 대상인지 여부를 결정하고, 검출된 상기 대상이 관찰 대상인 것으로 결정되면 검출된 상기 대상으로부터의 광 신호가 상기 입상 광학 모듈에 입상되어 상세 관찰될 수 있도록 상기 미러를 제어하는 제어부를 포함하는 것을 그 구성상의 특징으로 한다.본 발명의 광학 시스템에 따르면, 목표 확인 광학 모듈에서 넓은 시야각(FOV)을 이용하여 관찰 대상을 검출하고, 검출된 관찰 대상을 고속으로 반사각을 변화시킬 수 있는 미러를 이용하여 고분해능을 갖는 입상 광학 모듈에 입상시켜 상세 관찰할 수 있도록 함으로써, 광시야각과 고분해능을 양립시킬 수 있을 뿐만 아니라 고속으로 이동하는 대상을 효과적으로 관찰할 수 있다.광학 시스템, 목표 확인(triggering) 광학 모듈, 광시야각, 입상(imaging) 광학 모듈, 고분해능, 미러, 고속으로 반사각 제어, 아날로그 방식, 제어부, 광 신호 검출부, 초점거리, 초미세 전기기계 시스템(Micro-Electro-Mechanical Systems; MEMS), 개구
|
