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소비전력 및 암전류가 감소된 실리콘 광전자 증배관

  • 기술번호 : KST2015189563
  • 담당센터 : 인천기술혁신센터
  • 전화번호 : 032-420-3580
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 소비전력 및 암전류가 감소된 실리콘 광전자 증배관에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 1012-1016㎝-3의 도핑 농도를 갖는 p 전도성 타입의 기판을 포함하고, 마이크로 픽셀들로 구성된 실리콘 광전자 증배관에 있어서, 상기 각각의 마이크로 픽셀은, (1) 상기 p 전도성 타입의 기판 위에 형성되며, 1017-1018㎝-3의 도핑 농도를 갖는 p+ 전도성 타입 층; (2) 상기 p+ 전도성 타입 층 위에 형성되며, 1020-1021㎝-3의 도핑 농도를 갖는 n+ 전도성 타입 층; (3) PN 역 바이어스 전압을 인가하기 위한 전압 공급 버스; (4) 실리콘 옥사이드 층 위에 위치하며, 상기 n+ 전도성 타입의 층을 상기 전압 공급 버스와 연결시키는 폴리실리콘 저항기 및; (5) 다른 마이크로 픽셀들과 전기적으로 분리시키기 위한 분리 요소를 포함하는 것을 그 구성상의 특징으로 한다.또한, 1012-1016㎝-3의 도핑 농도를 갖는 p 전도성 타입의 기판을 포함하고, 마이크로 픽셀들로 구성된 실리콘 광전자 증배관에 있어서, 상기 각각의 마이크로 픽셀은, (1) 상기 p 전도성 타입의 기판 위에 형성되며, 상기 p 전도성 타입의 기판의 도핑 농도와 동일 농도 범위를 갖는 p 전도성 타입의 에피텍시 층; (2) 상기 에피텍시 층에 형성되며, 1017-1018㎝-3의 도핑 농도를 갖는 p+ 전도성 타입 층; (3) 상기 p+ 전도성 타입 층 위에 형성되며, 1020-1021㎝-3의 도핑 농도를 갖는 n+ 전도성 타입 층; (4) PN 역 바이어스 전압을 인가하기 위한 전압 공급 버스; (5) 실리콘 옥사이드 층 위에 위치하며, 상기 n+ 전도성 타입의 층을 상기 전압 공급 버스와 연결시키는 폴리실리콘 저항기 및; (6) 다른 마이크로 픽셀들과 전기적으로 분리시키기 위한 분리 요소를 포함하는 것을 그 구성상의 또 다른 특징으로 한다.본 발명의 소비전력 및 암전류가 감소된 실리콘 광전자 증배관에 따르면, 기존의 실리콘 광전자 증배관에서 사용된 1018~1020cm-3 정도의 고농도 p 전도성 타입 실리콘 기판을 이용하지 않고, 1012~1016cm-3의 도핑 농도를 갖는 p 전도성 타입 실리콘 기판 위에, 별도의 에피택시 층을 형성시키지 않고, 실리콘 광전자 증배관을 이루고 있는 마이크로 픽셀을 구성하는 PN 접합을 형성하거나, 또는 1012~1016cm-3의 도핑 농도를 갖는 p 전도성 타입 실리콘 기판 위에, 동일 농도 범위의 에피택시 층을 형성한 다음, 에피택시 층 내에서 PN 접합을 형성함으로써, 고농도(저저항) 기판에 의해 생성되는 암전류 비율 및 기판과 에피택시 층의 경계면에서 발생하는 높은 전기장에 의해 생성되는 암전류 비율을 줄이는 것이 가능해진다. 또한 실리콘 광전자 증배관 내의 각 마이크로 픽셀을 전기적으로 분리하는 역할을 하는 트렌치를 형성할 때, 트렌치의 끝 모서리를 둥글게 만들어, 모서리 부분에 생성되는 높은 전기장을 제거하며, 그에 더해 실리콘 광전자 증배관 내의 모든 마이크로 픽셀을 포함하는 영역 내에 가드링을 형성함으로써, 암전류 비율을 줄이는 것이 가능해진다. 마지막으로 실리콘 광전자 증배관의 각 마이크로 픽셀 내의 PN 접합을 구성하는 p+ 및 n+ 전도성 타입 층의 도핑 농도, 넓이 및 침투 깊이 등을 조절하여, 10~20V 정도의 저전압에서 동작하는 것이 가능해진다.
Int. CL H01L 31/09 (2006.01) H01L 31/06 (2006.01)
CPC H01L 31/103(2013.01)
출원번호/일자 1020100008207 (2010.01.29)
출원인 이화여자대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1330270-0000 (2013.11.11)
공개번호/일자 10-2011-0088627 (2011.08.04) 문서열기
공고번호/일자 (20131115) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항 심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.01.29)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 이화여자대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박일흥 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 이직 대한민국 서울특별시 강동구
3 남지우 대한민국 서울특별시 종로구
4 이혜영 대한민국 충청북도 청원군

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김건우 대한민국 서울특별시 금천구 가산디지털*로 ***, 에이동 ***호 특허그룹덕원 (가산동, 우림 라이온스밸리)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 이화여자대학교 산학협력단 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.01.29 수리 (Accepted) 1-1-2010-0062464-30
2 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status
2010.03.31 수리 (Accepted) 1-1-2010-0205957-03
3 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2010.10.30 수리 (Accepted) 1-1-2010-0707653-69
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.05.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0248971-65
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2011.07.11 수리 (Accepted) 1-1-2011-0531481-19
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2011.08.09 수리 (Accepted) 1-1-2011-0616308-55
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.09.09 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0710175-52
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.09.09 수리 (Accepted) 1-1-2011-0710176-08
9 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2012.03.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0134881-04
10 심사관의견요청서
Request for Opinion of Examiner
2012.05.24 수리 (Accepted) 7-8-2012-0016735-68
11 등록결정서
Decision to grant
2013.10.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0732362-14
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번호 청구항
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1012-1016㎝-3 의 도핑 농도를 갖는 p 전도성 타입의 기판을 포함하고, 마이크로 픽셀들로 구성된 실리콘 광전자 증배관에 있어서, 상기 각각의 마이크로 픽셀은,(1) 상기 p 전도성 타입의 기판 위에 형성되며, 1017-1018㎝-3의 도핑 농도를 갖는 p+ 전도성 타입 층;(2) 상기 p+ 전도성 타입 층 위에 형성되며, 1020-1021㎝-3의 도핑 농도를 갖는 n+ 전도성 타입 층;(3) PN 역 바이어스 전압을 인가하기 위한 전압 공급 버스;(4) 실리콘 옥사이드 층 위에 위치하며, 상기 n+ 전도성 타입의 층을 상기 전압 공급 버스와 연결시키는 폴리실리콘 저항기; 및(5) 다른 마이크로 픽셀들과 전기적으로 분리시키기 위한 분리 요소를 포함하되,상기 분리 요소로서, 끝 모서리를 둥글게 형성한 트렌치를 사용하는 것을 특징으로 하는 소비전력 및 암전류가 감소된 실리콘 광전자 증배관
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1012-1016㎝-3 의 도핑 농도를 갖는 p 전도성 타입의 기판을 포함하고, 마이크로 픽셀들로 구성된 실리콘 광전자 증배관에 있어서, 상기 각각의 마이크로 픽셀은,(1) 상기 p 전도성 타입의 기판 위에 형성되며, 상기 p 전도성 타입의 기판의 도핑 농도와 동일 농도 범위를 갖는 p 전도성 타입의 에피텍시 층;(2) 상기 에피텍시 층에 형성되며, 1017-1018㎝-3의 도핑 농도를 갖는 p+ 전도성 타입 층;(3) 상기 p+ 전도성 타입 층 위에 형성되며, 1020-1021㎝-3의 도핑 농도를 갖는 n+ 전도성 타입 층;(4) PN 역 바이어스 전압을 인가하기 위한 전압 공급 버스;(5) 실리콘 옥사이드 층 위에 위치하며, 상기 n+ 전도성 타입의 층을 상기 전압 공급 버스와 연결시키는 폴리실리콘 저항기; 및(6) 다른 마이크로 픽셀들과 전기적으로 분리시키기 위한 분리 요소를 포함하되,상기 분리 요소로서, 끝 모서리를 둥글게 형성한 트렌치를 사용하는 것을 특징으로 하는 소비전력 및 암전류가 감소된 실리콘 광전자 증배관
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삭제
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제1항 또는 2항에 있어서,상기 실리콘 광전자 증배관 내의 모든 마이크로 픽셀을 포함하는 영역 내에 가드링을 설치하는 것을 특징으로 하는 소비전력 및 암전류가 감소된 실리콘 광전자 증배관
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제1항 또는 2항에 있어서,상기 p+ 전도성 타입 층은 침투 깊이 1~1
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 과학기술부 MEMS 우주망원경 연구단 창의적 연구진흥 지원연구 MEMS 기반 차세대 우주망원경 개발을 통한 극한에너지 우주현상 연구