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자기 저항 메모리

  • 기술번호 : KST2015189758
  • 담당센터 : 인천기술혁신센터
  • 전화번호 : 032-420-3580
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명에 따른 자기 저항 메모리는 서로 평행하게 배치된 복수의 게이트 라인, 상기 게이트 라인과 수직 방향으로 배치된 복수의 소스 라인, 상기 소스 라인과 평행한 방향으로, 상기 소스 라인과 인접하여 배치된 복수의 비트 라인 및 상기 소스 라인을 공유하고, 제 1 그룹의 비트 라인과 제 1 그룹의 게이트 라인에 접속된 제 1 자기 저항 메모리 셀과, 제 2 그룹의 비트 라인과 제 2 그룹의 게이트 라인에 접속된 제 2 자기 저항 메모리 셀을 각각 포함하는 복수의 자기 저항 메모리 셀 쌍을 포함하되, 상기 제 1 그룹의 비트 라인과 제 2 그룹의 비트 라인은 서로 인접한 것이고, 상기 제 1 그룹의 게이트 라인과 제 2 그룹의 게이트 라인은 서로 인접한 것이며, 상기 제 1 자기 저항 메모리 셀과 상기 제 2 자기 저항 메모리 셀에 의하여 공유된 소스 라인은 상기 제 1 그룹의 비트 라인과 상기 제 2 그룹의 비트 라인 사이에 배치된다.
Int. CL H01L 27/115 (2006.01) H01L 21/8247 (2006.01) G11C 11/15 (2006.01)
CPC G11C 11/15(2013.01) G11C 11/15(2013.01) G11C 11/15(2013.01) G11C 11/15(2013.01) G11C 11/15(2013.01)
출원번호/일자 1020130065296 (2013.06.07)
출원인 이화여자대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1488939-0000 (2015.01.27)
공개번호/일자 10-2014-0143582 (2014.12.17) 문서열기
공고번호/일자 (20150206) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.06.07)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 이화여자대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 신형순 대한민국 서울 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인엠에이피에스 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로*길 **, *층 (역삼동, 한동빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 이화여자대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.06.07 수리 (Accepted) 1-1-2013-0506906-15
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2014.01.08 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2014.02.11 수리 (Accepted) 9-1-2014-0012253-00
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.08.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0562873-80
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.10.17 수리 (Accepted) 1-1-2014-0991427-34
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.10.17 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0991428-80
7 등록결정서
Decision to grant
2015.01.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0048173-50
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
자기 저항 메모리에 있어서,서로 평행하게 배치된 복수의 게이트 라인,상기 게이트 라인과 수직 방향으로 배치된 복수의 소스 라인,상기 소스 라인과 평행한 방향으로, 상기 소스 라인과 인접하여 배치된 복수의 비트 라인 및상기 소스 라인을 공유하고, M(M은 홀수)번째 배치된 제 1 그룹의 게이트 라인에 접속된 제 1 자기 저항 메모리 셀과, M+1번째 배치된 제 2 그룹의 게이트 라인에 접속된 제 2 자기 저항 메모리 셀을 각각 포함하는 복수의 자기 저항 메모리 셀 쌍을 포함하되,상기 제 1 그룹의 게이트 라인과 제 2 그룹의 게이트 라인은 서로 인접한 것이고,상기 제 1 자기 저항 메모리 셀과 상기 제 2 자기 저항 메모리 셀에 의하여 공유된 소스 라인은 N(N≥1)번째 비트 라인과 N+1번째 비트 라인 사이에 배치되며,상기 N번째 비트 라인과 상기 N+1번째 비트 라인은 서로 인접한 것이고,상기 복수의 자기 저항 메모리 셀 쌍에 포함된 어느 하나의 저항 메모리 셀 쌍의 제 1 자기 저항 메모리 셀이 상기 제 1 그룹의 게이트 라인과 상기 N번째 비트 라인에 접속될 경우, 상기 제 2 자기 저항 메모리 셀은 상기 제 2 그룹의 게이트 라인과 상기 N+1번째 비트 라인에 접속되고,상기 복수의 자기 저항 메모리 셀 쌍에 포함된 어느 하나의 저항 메모리 셀 쌍의 제 1 자기 저항 메모리 셀이 상기 제 2 그룹의 게이트 라인과 상기 N번째 비트 라인에 접속될 경우, 상기 제 2 자기 저항 메모리 셀은 상기 제 1 그룹의 게이트 라인과 상기 N+1번째 비트 라인에 접속되는 것인 자기 저항 메모리
2 2
제 1 항에 있어서,상기 제 1 자기 저항 메모리 셀은 상기 제 1 그룹의 게이트 라인과 상기 N번째 비트 라인에 접속되고, 상기 제 2 자기 저항 메모리 셀은 상기 제 2 그룹의 게이트 라인과 상기 N+1번째 비트 라인에 접속되는 경우,상기 제 1 자기 저항 메모리 셀은 상기 N번째 비트 라인에 일측 단자가 결합된 자기터널 접합 소자 및 상기 제 1 그룹의 게이트 라인에 의하여 스위칭되고, 일측 단자가 상기 자기터널 접합 소자의 타측 단자와 결합되며, 타측 단자가 상기 소스 라인에 접속된 스위칭 소자를 포함하고,상기 제 2 자기 저항 메모리 셀은 상기 N+1번째 비트 라인에 일측 단자가 결합된 자기터널 접합 소자 및상기 제 2 그룹의 게이트 라인에 의하여 스위칭 되고, 일측 단자가 상기 자기터널 접합 소자의 타측 단자와 결합되며, 타측 단자가 상기 소스 라인에 접속된 스위칭 소자를 포함하는 것인 자기 저항 메모리
3 3
제 1 항에 있어서,상기 제 1 자기 저항 메모리 셀은 상기 제 2 그룹의 게이트 라인과 상기 N번째 비트 라인에 접속되고, 상기 제 2 자기 저항 메모리 셀은 상기 제 1 그룹의 게이트 라인과 상기 N+1번째 비트 라인에 접속되는 경우,상기 제 1 자기 저항 메모리 셀은 상기 N번째 비트 라인에 일측 단자가 결합된 자기터널 접합 소자 및 상기 제 2 그룹의 게이트 라인에 의하여 스위칭되고, 일측 단자가 상기 자기터널 접합 소자의 타측 단자와 결합되며, 타측 단자가 상기 소스 라인에 접속된 스위칭 소자를 포함하고,상기 제 2 자기 저항 메모리 셀은 상기 N+1번째 비트 라인에 일측 단자가 결합된 자기터널 접합 소자 및상기 제 1 그룹의 게이트 라인에 의하여 스위칭 되고, 일측 단자가 상기 자기터널 접합 소자의 타측 단자와 결합되며, 타측 단자가 상기 소스 라인에 접속된 스위칭 소자를 포함하는 것인 자기 저항 메모리
4 4
삭제
5 5
자기 저항 메모리에 있어서,서로 평행하게 배치된 복수의 게이트 라인,상기 게이트 라인과 수직 방향으로 배치된 복수의 소스 라인,상기 소스 라인과 평행한 방향으로, 상기 소스 라인과 인접하여 배치된 복수의 비트 라인,상기 소스 라인을 공유하고, 4N-3(N≥1)번째에 배치된 제 1 그룹의 게이트 라인에 접속된 제 1 자기 저항 메모리 셀과, 4N-2번째에 배치된 제 2 그룹의 게이트 라인에 접속된 제 2 자기 저항 메모리 셀을 각각 포함하는 제 1 자기 저항 메모리 셀 쌍 및상기 소스 라인을 공유하고, 4N-1번째에 배치된 제 3 그룹의 게이트 라인에 접속된 제 3 자기 저항 메모리 셀과, 4N번째에 배치된 제 4 그룹의 게이트 라인에 접속된 제 4 자기 저항 메모리 셀을 각각 포함하는 제 2 자기 저항 메모리 셀 쌍을 포함하되,상기 제 1 그룹 내지 제 4 그룹의 게이트 라인은 순차적으로 인접하고 있으며,상기 제 1 내지 제 4 자기 저항 메모리 셀에 의하여 공유된 소스 라인은 M(M≥1)번째 비트 라인과 M+1번째 비트 라인 사이에 배치되고,상기 M번째 비트 라인과 상기 M+1번째 비트 라인은 서로 인접한 것이며,상기 복수의 자기 저항 메모리 셀 쌍에 포함된 어느 하나의 저항 메모리 셀 쌍의 제 1 자기 저항 메모리 셀이 상기 제 1 그룹의 게이트 라인과 상기 M번째 비트 라인에 접속될 경우, 상기 제 2 자기 저항 메모리 셀은 상기 제 2 그룹의 게이트 라인과 상기 M+1번째 비트 라인, 상기 제 3 자기 저항 메모리 셀은 상기 제 3 그룹의 게이트 라인과 상기 M+1번째 비트 라인 및 상기 제 4 자기 저항 메모리 셀은 상기 제 4 그룹의 게이트 라인과 상기 M번째 비트 라인에 각각 접속되고,상기 복수의 자기 저항 메모리 셀 쌍에 포함된 어느 하나의 저항 메모리 셀 쌍의 제 1 자기 저항 메모리 셀이 상기 제 2 그룹의 게이트 라인과 상기 M 번째 비트 라인에 접속될 경우, 상기 제 2 자기 저항 메모리 셀은 상기 제 1 그룹의 게이트 라인과 상기 M+1번째 비트 라인, 상기 제 3 자기 저항 메모리 셀은 상기 제 4 그룹의 게이트 라인과 상기 M+1번째 비트 라인 및 상기 제 4 자기 저항 메모리 셀은 상기 제 3 그룹의 게이트 라인과 상기 M번째 비트 라인에 각각 접속되는 것인 자기 저항 메모리
6 6
제 5 항에 있어서, 상기 제 1 자기 저항 메모리 셀은 상기 제 1 그룹의 게이트 라인과 상기 M 번째 비트 라인에 접속되고, 상기 제 2 자기 저항 메모리 셀은 상기 제 2 그룹의 게이트 라인과 상기 M+1번째 비트 라인에 접속되며, 상기 제 3 자기 저항 메모리 셀은 상기 제 3 그룹의 게이트 라인과 상기 M+1번째 비트 라인에 접속되고, 상기 제 4 자기 저항 메모리 셀은 상기 제 4 그룹의 게이트 라인과 상기 M번째 비트 라인에 접속되는 경우,상기 제 1 자기 저항 메모리 셀은 상기 M번째 비트 라인에 일측 단자가 결합된 자기터널 접합 소자 및 상기 제 1 그룹의 게이트 라인에 의하여 스위칭되고, 일측 단자가 상기 자기터널 접합 소자의 타측 단자와 결합되며, 타측 단자가 상기 소스 라인에 접속된 스위칭 소자를 포함하고,상기 제 2 자기 저항 메모리 셀은 상기 M+1번째 비트 라인에 일측 단자가 결합된 자기터널 접합 소자 및상기 제 2 그룹의 게이트 라인에 의하여 스위칭 되고, 일측 단자가 상기 자기터널 접합 소자의 타측 단자와 결합되며, 타측 단자가 상기 소스 라인에 접속된 스위칭 소자를 포함하며,상기 제 3 자기 저항 메모리 셀은 상기 M+1번째 비트 라인에 일측 단자가 결합된 자기터널 접합 소자 및상기 제 3 그룹의 게이트 라인에 의하여 스위칭 되고, 일측 단자가 상기 자기터널 접합 소자의 타측 단자와 결합되며, 타측 단자가 상기 소스 라인에 접속된 스위칭 소자를 포함하며,상기 제 4 자기 저항 메모리 셀은 상기 M번째 비트 라인에 일측 단자가 결합된 자기터널 접합 소자 및상기 제 4 그룹의 게이트 라인에 의하여 스위칭 되고, 일측 단자가 상기 자기터널 접합 소자의 타측 단자와 결합되며, 타측 단자가 상기 소스 라인에 접속된 스위칭 소자를 포함하는 것인 자기 저항 메모리
7 7
제 5 항에 있어서, 상기 제 1 자기 저항 메모리 셀은 상기 제 2 그룹의 게이트 라인과 상기 M 번째 비트 라인에 접속되고, 상기 제 2 자기 저항 메모리 셀은 상기 제 1 그룹의 게이트 라인과 상기 M+1번째 비트 라인에 접속되며, 상기 제 3 자기 저항 메모리 셀은 상기 제 4 그룹의 게이트 라인과 상기 M+1번째 비트 라인에 접속되고, 상기 제 4 자기 저항 메모리 셀은 상기 제 3 그룹의 게이트 라인과 상기 M번째 비트 라인에 접속되는 경우,상기 제 1 자기 저항 메모리 셀은 상기 M번째 비트 라인에 일측 단자가 결합된 자기터널 접합 소자 및 상기 제 2 그룹의 게이트 라인에 의하여 스위칭되고, 일측 단자가 상기 자기터널 접합 소자의 타측 단자와 결합되며, 타측 단자가 상기 소스 라인에 접속된 스위칭 소자를 포함하고,상기 제 2 자기 저항 메모리 셀은 상기 M+1번째 비트 라인에 일측 단자가 결합된 자기터널 접합 소자 및상기 제 1 그룹의 게이트 라인에 의하여 스위칭 되고, 일측 단자가 상기 자기터널 접합 소자의 타측 단자와 결합되며, 타측 단자가 상기 소스 라인에 접속된 스위칭 소자를 포함하며,상기 제 3 자기 저항 메모리 셀은 상기 M+1번째 비트 라인에 일측 단자가 결합된 자기터널 접합 소자 및상기 제 4 그룹의 게이트 라인에 의하여 스위칭 되고, 일측 단자가 상기 자기터널 접합 소자의 타측 단자와 결합되며, 타측 단자가 상기 소스 라인에 접속된 스위칭 소자를 포함하며,상기 제 4 자기 저항 메모리 셀은 상기 M번째 비트 라인에 일측 단자가 결합된 자기터널 접합 소자 및상기 제 3 그룹의 게이트 라인에 의하여 스위칭 되고, 일측 단자가 상기 자기터널 접합 소자의 타측 단자와 결합되며, 타측 단자가 상기 소스 라인에 접속된 스위칭 소자를 포함하는 것인 자기 저항 메모리
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1 교육과학기술부 이화여자대학교 일반연구자지원 Carrier 이동도 개선 기술을 이용한 3D bulk-Si MuGFET 특성 최적화 연구